[發明專利]一種快速振蕩器振蕩頻率測試系統及方法在審
| 申請號： | 202210314526.1 | 申請日： | 2022-03-28 |
| 公開（公告）號： | CN114740259A | 公開（公告）日： | 2022-07-12 |
| 發明（設計）人： | 王磊 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G01R23/10 | 分類號： | G01R23/10;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區中*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 快速 振蕩器 振蕩 頻率 測試 系統 方法 | ||
1.一種快速振蕩器振蕩頻率測試系統，包括：
待測芯片，包含待測的振蕩器和/或振蕩頻率校正電路，用于產生待測振蕩輸出；
過沖增強網絡，用于將所述待測芯片的振蕩輸出轉換為所需特定阻尼的過沖振蕩；
測試儀，用于利用其高速數字通道對帶有過沖的振蕩器輸出進行采樣，加載測試程序對采樣的跳變數據進行歸一化處理以過濾冗余的采樣信息，并根據跳變數據的歸一化處理結果計算獲得測試頻率。
2.如權利要求1所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試系統，其特征在于：所述過沖增強網絡通過利用測試探針、測試PCB板固有的寄生容性及感性負載產生特定阻尼的過沖。
3.如權利要求2所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試系統，其特征在于：所述過沖增強網絡通過在測試PCB板上額外添加RLC失配網絡以提高過沖。
4.如權利要求3所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試系統，其特征在于：根據所述待測芯片的振蕩輸出調整所述過沖增強網絡的參數產生過沖，使其產生高階阻尼振蕩，檢測上升沿處的第一個波峰的幅度V1，獲取該峰值后的兩個波谷的時間差確定阻尼震蕩的頻率，以及測量上升沿后的第二個峰值的幅度V2，從而設定高低電平閾值。
5.如權利要求4所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試系統，其特征在于：通過增加所述過沖增強網絡的阻尼系數，使得所述待測芯片的振蕩輸出只有一個大幅度的過沖。
6.一種快速振蕩器振蕩頻率測試方法，包括如下步驟：
步驟S1，連接測試系統，將測試探針可靠壓接待測芯片，調整過沖增強網絡的參數，使得所述過沖增強網絡輸出的波形只有一個高幅度窄脈沖；
步驟S2，按預設的采樣周期對所述待測芯片的振蕩輸出進行采樣；；
步驟S3，根據采樣的數據尋找跳變點，對單次跳變數據進行歸一化；
步驟S4，恢復數據，從測試儀獲得測試期間的總失敗次數(NF),計算歸一化跳變次數(NP/Fnormal)，并根據并根據歸一化跳變次數(NP/Fnormal)和采樣次數(NS)和采樣周期(TS)得到測試頻率。
7.如權利要求6所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試方法，其特征在于：于步驟S1中，所述窄脈沖指過沖的第一個峰值明顯高于第二個峰值，其最小寬度以測試儀能分辨為準。
8.如權利要求6所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試方法，其特征在于，所述測試頻率的計算公式如下：
9.如權利要求6所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試方法，其特征在于，于步驟S4后，還包括如下步驟：
步驟S5，比較測試頻率與檢驗標準判斷是否需要進行校正，如需要則進行校正，返回步驟S3，否則返回步驟S1進行下一個待測芯片測試。
10.如權利要求9所述的一種快速振蕩器振蕩頻率測試方法，其特征在于：于步驟S5中，若需要進行校正，則判斷校正次數是否達到校正上限閾值，若未達到校正上限閾值，則返回步驟S3，否則標記該待測芯片為壞片，然后返回步驟S1進行下一個待測芯片測試。
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