[發明專利]一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法

在審

• 申請號: 202210262768.0
• 申請日: 2022-03-17
• 公開（公告）號: CN114726371A
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 壽開元;陳宇軒;季偉偉
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十八研究所
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 無錫派爾特知識產權代理事務所(普通合伙) 32340
• 代理人: 楊立秋

1.一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，其特征在于，包括：

步驟一，按照待測DAC芯片的引腳需求設計測試載板；

步驟二，按照測試需求使用Python生產測試所需測試碼；

步驟三，將待測DAC芯片與測試載板相連接，測試機臺調用測試文件、測試程序進行測試；ATE機臺抓取DAC輸出數據；

步驟四，動態參數處理模塊對DAC芯片的輸出信號進行數據處理與分析，完成高分辨率DAC動態性能測試。

2.如權利要求1所述的直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，其特征在于，所述測試載板基于V93000系統，包括封裝插座、電壓采集通道，數字通道和I-V轉換模塊。

3.如權利要求2所述的直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，其特征在于，所述待測DAC芯片的管腳通過所述封裝插座與所述測試載板相連，用于測試機臺與DAC芯片的數據交換和信號采集；

所述電壓采集通道用于采集DAC芯片的輸出電壓信號；

所述數字通道提供由測試機臺給出的時鐘信號和測試碼；

所述I-V轉換模塊用于將電流型輸出轉為電壓輸出。

4.如權利要求2所述的直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，其特征在于，所述測試碼的生成軟件能夠用于不同轉換速率的DAC測試，針對不同輸出頻率、輸出頻率要求的測試可切換、采樣點數可切換、測試碼形式可全碼、補碼切換，以實現測試碼的快速調制，用于不同頻率要求下的測試條件。

5.如權利要求4所述的直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，其特征在于，所述測試碼的生成原理為：在測試動態參數時，DAC動態性能測試方法是通過發送一連串正弦波的數字點給DAC芯片，通過DAC芯片輸出波形來分析其功能特性；根據公式F_OUT＝(F_Sign/N)*M來確定所需要的采樣點數和周期數，其中F_OUT為待測DAC芯片的輸出頻率，F_Sign為輸入數字正弦波的頻率，N為輸入正弦數字波所包含的采樣點數，M為輸入數字正弦波所包含的整周期數。

6.如權利要求1所述的直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，其特征在于，所述步驟四中動態參數處理模塊對DAC芯片的輸出信號進行數據處理與分析，得到的參數包括無雜散動態范圍和信噪比。