[發明專利]一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法

在審

• 申請號: 202210262768.0
• 申請日: 2022-03-17
• 公開（公告）號: CN114726371A
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 壽開元;陳宇軒;季偉偉
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十八研究所
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 無錫派爾特知識產權代理事務所(普通合伙) 32340
• 代理人: 楊立秋

本發明公開一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，屬于DAC測試領域，按照待測DAC芯片的引腳需求設計測試載板；按照測試需求使用Python生產測試所需測試碼；將待測DAC芯片與測試載板相連接，測試機臺調用測試文件、測試程序進行測試；ATE機臺抓取DAC輸出數據；動態參數處理模塊對DAC芯片的輸出信號進行數據處理與分析，完成高分辨率DAC動態性能測試。本發明通過軟件編程技術生成測試碼，提高測試效率，數字正弦波更具有理想性；改進了原來由評估板輸出測試碼的方法，本發明的測試方法產生的測試碼是理想條件下的測試碼，更符合測試要求；減少了測試過程中的人工時間，提高測試效率，更具有通用性和可調節性。

技術領域

本發明涉及DAC測試技術領域，特別涉及一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法。

背景技術

DAC(Digital to analog converter，數模轉換器)是一種集成電路芯片，是集成電路發展的基礎。隨著集成電路行業的發展，DAC芯片的性能也隨之提高，往高分辨率、高速方向發展。這給DAC測試帶來了新的困難和挑戰。動態性能參數評價DAC性能的一個重要指標，主要由DAC的信噪比和總諧波失真等參數表征。

常規的高分辨率DAC測試方法是通過生產商提供的評估板和配套軟件，通過配置所需的寄存器來獲得DAC輸出模擬信號，在摘取點位轉為數字正弦波用于產品測試。面對不同類型的DAC產品需要購買不同的配套評估板和軟件，成本高昂，缺乏通用性。

其次，由于產生的數字正弦波是由DAC的產出波形轉換而來，與理想波形存在差距，在一定程度上影響了DAC測試的可靠性。

發明內容

本發明的目的在于提供一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，以解決傳統評估板測試方法通用性差，且產生的數字正弦波是由DAC的產出波形轉換而來，影響DAC測試可靠性的問題。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種直接生成測試碼的高分辨率DAC動態性能測試方法，包括：

步驟一，按照待測DAC芯片的引腳需求設計測試載板；

步驟二，按照測試需求使用Python生產測試所需測試碼；

步驟三，將待測DAC芯片與測試載板相連接，測試機臺調用測試文件、測試程序進行測試；ATE機臺抓取DAC輸出數據；

步驟四，動態參數處理模塊對DAC芯片的輸出信號進行數據處理與分析，完成高分辨率DAC動態性能測試。

可選的，所述測試載板基于V93000系統，包括封裝插座、電壓采集通道，數字通道和I-V轉換模塊。

可選的，所述待測DAC芯片的管腳通過所述封裝插座與所述測試載板相連，用于測試機臺與DAC芯片的數據交換和信號采集；

所述電壓采集通道用于采集DAC芯片的輸出電壓信號；

所述數字通道提供由測試機臺給出的時鐘信號和測試碼；

所述I-V轉換模塊用于將電流型輸出轉為電壓輸出。

可選的，所述測試碼的生成軟件能夠用于不同轉換速率的DAC測試，針對不同輸出頻率、輸出頻率要求的測試可切換、采樣點數可切換、測試碼形式可全碼、補碼切換，以實現測試碼的快速調制，用于不同頻率要求下的測試條件。