[發(fā)明專利]核電廠安全殼外表面缺陷自動(dòng)識(shí)別方法和裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210248899.3
• 申請(qǐng)日: 2022-03-14
• 公開（公告）號(hào): CN114627075A
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 易珂;趙俠;趙思橋;劉家豪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)核電工程有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/73;G06T7/13;G06T5/00
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 羅建民;鄧伯英

本發(fā)明提供一種核電廠安全殼外表面缺陷自動(dòng)識(shí)別方法和裝置，所述方法包括：獲取安全殼外表面的待檢測(cè)圖像；對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行處理，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像；對(duì)所述陰影去除圖像中的缺陷特征進(jìn)行增強(qiáng)，并獲得缺陷特征增強(qiáng)的局部圖像；識(shí)別所述局部圖像中的缺陷像素點(diǎn)，并根據(jù)每個(gè)缺陷像素點(diǎn)的位置繪制獲得缺陷像素點(diǎn)坐標(biāo)圖；根據(jù)所述缺陷像素點(diǎn)坐標(biāo)圖，獲得所述安全殼外表面的缺陷的識(shí)別結(jié)果。本發(fā)明用以解決傳統(tǒng)人工檢測(cè)核電廠安全殼外表面缺陷，工業(yè)危險(xiǎn)高，易漏檢、誤檢等問題，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)安全殼外表面缺陷，進(jìn)而提高安全殼的安全性能。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于核電技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種核電廠安全殼外表面缺陷自動(dòng)識(shí)別方法和裝置。

背景技術(shù)

安全殼為核電廠防止裂變產(chǎn)物泄露的重要屏障之一，其要求在設(shè)計(jì)基準(zhǔn)事故溫度和壓力條件下提供良好的密封性能。裂縫為核電廠安全殼發(fā)生損壞的早期表現(xiàn)形式，也是評(píng)估墻體質(zhì)量的重要指標(biāo)。在核電廠發(fā)生蒸汽管道破裂或失水事故時(shí)，高溫、高壓蒸汽被釋放出來，致使安全殼內(nèi)溫度和壓力升高，如果安全殼存在缺陷，可能由于其不滿足設(shè)計(jì)要求性能，而導(dǎo)致事故情況下其包容放射性的功能失效，進(jìn)而引發(fā)重大安全事故。因此，安全殼的性能直接影響核電廠的事故處理能力。

目前安全殼外表面缺陷數(shù)據(jù)采集主要的方法為人工檢查，存在工業(yè)危險(xiǎn)高，漏檢概率較大，人為主觀判斷誤差較大等問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述不足，提供一種核電廠安全殼外表面缺陷自動(dòng)識(shí)別方法和裝置，以解決傳統(tǒng)人工檢測(cè)工業(yè)危險(xiǎn)高，易漏檢、誤檢等問題，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)安全殼外表面缺陷，進(jìn)而提高安全殼的安全性能。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：

本發(fā)明第一方面，提供一種核電廠安全殼外表面缺陷自動(dòng)識(shí)別方法，所述方法包括：

獲取安全殼外表面的待檢測(cè)圖像；

對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行處理，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像；

對(duì)所述陰影去除圖像中的缺陷特征進(jìn)行增強(qiáng)，并獲得缺陷特征增強(qiáng)的局部圖像；

識(shí)別所述局部圖像中的缺陷像素點(diǎn)，并根據(jù)每個(gè)缺陷像素點(diǎn)的位置繪制獲得缺陷像素點(diǎn)坐標(biāo)圖；

根據(jù)所述缺陷像素點(diǎn)坐標(biāo)圖，獲得所述安全殼外表面的缺陷的識(shí)別結(jié)果。

優(yōu)選地，所述獲取安全殼外表面的待檢測(cè)圖像，具體包括：

將所述安全殼外表面劃分為多個(gè)區(qū)域；

對(duì)所述多個(gè)區(qū)域分別進(jìn)行遙感拍攝以獲得多個(gè)遙感圖像；

將多個(gè)遙感圖像按照同一尺寸比例進(jìn)行拼接，以獲得所述安全殼外表面待檢測(cè)區(qū)域的整體拼接圖像；

對(duì)所述整體拼接圖像進(jìn)行灰度化處理，以獲得所述安全殼外表面的待檢測(cè)圖像。

優(yōu)選地，所述對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行處理，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像，具體包括：

采用基于選定尺寸的像素窗口的最小最大濾波法對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行濾波，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像；

所述對(duì)所述陰影去除圖像中的缺陷特征進(jìn)行增強(qiáng)，并獲得缺陷特征增強(qiáng)的局部圖像，具體包括：

采用邊緣檢測(cè)算法對(duì)所述陰影去除圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè)和增強(qiáng)，以獲得包含表征缺陷特征的圖像邊緣的邊緣增強(qiáng)圖像；

截取所述邊緣增強(qiáng)圖像中的每一圖像邊緣所在的局部圖像，以獲得若干所述缺陷特征增強(qiáng)的局部圖像；

所述識(shí)別所述局部圖像中的缺陷像素點(diǎn)，并根據(jù)每個(gè)缺陷像素點(diǎn)的位置繪制獲得缺陷像素點(diǎn)坐標(biāo)圖，具體包括：