[發明專利]核電廠安全殼外表面缺陷自動識別方法和裝置

在審

• 申請號: 202210248899.3
• 申請日: 2022-03-14
• 公開（公告）號: CN114627075A
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 易珂;趙俠;趙思橋;劉家豪
• 申請（專利權）人: 中國核電工程有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/73;G06T7/13;G06T5/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 羅建民;鄧伯英

1.一種核電廠安全殼外表面缺陷自動識別方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取安全殼外表面的待檢測圖像；

對所述待檢測圖像進行處理，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像；

對所述陰影去除圖像中的缺陷特征進行增強，并獲得缺陷特征增強的局部圖像；

識別所述局部圖像中的缺陷像素點，并根據每個缺陷像素點的位置繪制獲得缺陷像素點坐標圖；

根據所述缺陷像素點坐標圖，獲得所述安全殼外表面的缺陷的識別結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取安全殼外表面的待檢測圖像，具體包括：

將所述安全殼外表面劃分為多個區域；

對所述多個區域分別進行遙感拍攝以獲得多個遙感圖像；

將多個遙感圖像按照同一尺寸比例進行拼接，以獲得所述安全殼外表面待檢測區域的整體拼接圖像；

對所述整體拼接圖像進行灰度化處理，以獲得所述安全殼外表面的待檢測圖像。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對所述待檢測圖像進行處理，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像，具體包括：

采用基于選定尺寸的像素窗口的最小最大濾波法對所述待檢測圖像進行濾波，以獲得所述安全殼外表面的陰影去除圖像；

所述對所述陰影去除圖像中的缺陷特征進行增強，并獲得缺陷特征增強的局部圖像，具體包括：

采用邊緣檢測算法對所述陰影去除圖像進行邊緣檢測和增強，以獲得包含表征缺陷特征的圖像邊緣的邊緣增強圖像；

截取所述邊緣增強圖像中的每一圖像邊緣所在的局部圖像，以獲得若干所述缺陷特征增強的局部圖像；

所述識別所述局部圖像中的缺陷像素點，并根據每個缺陷像素點的位置繪制獲得缺陷像素點坐標圖，具體包括：

采用角點檢測算法檢測每一局部圖像中的角點，并將所述角點作為所述缺陷像素點；

建立與每一局部圖像比例一致的坐標圖，并將所述缺陷像素點按照其在相應局部圖像中的位置繪制在該坐標圖中，以獲得所述缺陷像素點坐標圖。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述采用基于選定尺寸的像素窗口的最小最大濾波法對所述待檢測圖像進行濾波之前，所述方法還包括：

基于所述待檢測圖像基礎像素，預設若干不同尺寸的像素窗口；

對所述安全殼外表面進行首次缺陷自動識別時，分別選擇基于不同預設尺寸的像素窗口的最小最大濾波法對首次獲得的待檢測圖像進行濾波；

將濾波后滿足預設陰影去除效果處理要求的最大預設尺寸的像素窗口確定為選定尺寸的像素窗口。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述采用邊緣檢測算法對所述陰影去除圖像進行邊緣檢測和增強，以獲得包含表征缺陷特征的圖像邊緣的邊緣增強圖像，具體為：

采用下式對陰影去除圖像進行處理，以得到所述邊緣增強圖像：

其中：P為所述邊緣增強圖像，P₀為所述陰影去除圖像，為x軸向算子，為y軸向算子。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述角點檢測算法具體為Harris算法。

7.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述缺陷像素點坐標圖，獲得所述安全殼外表面的缺陷的識別結果，具體包括：

將所述缺陷像素點坐標圖中距離小于預設值的缺陷像素點連接，以形成缺陷像素點連線圖，所述缺陷像素點連線圖與所述安全殼外表面的缺陷對應；

根據所述缺陷像素點坐標圖以及缺陷像素點連線圖，并結合其對應所述安全殼外表面的位置和比例關系，獲得缺陷在所述安全殼外表面的形狀、位置以及尺寸。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述獲得缺陷在所述安全殼外表面的形狀、位置以及尺寸之后，所述方法還包括：

將所述缺陷在所述安全殼外表面的形狀、位置以及尺寸錄入數據庫。