[發(fā)明專利]基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法、電子設備及存儲介質(zhì)

在審

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• 申請日: 2022-03-14
• 公開（公告）號: CN114596294A
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發(fā)明（設計）人: 梁言賀;劉惠穎;宮游;李興剛;王曉宇;殷鑫;滿江雪;李琦;程志華;商鐵濱;孫海強;溫智偉;殷聰;呂榮
• 申請（專利權(quán)）人: 國網(wǎng)黑龍江省電力有限公司供電服務中心;黑龍江省電工儀器儀表工程技術(shù)研究中心有限公司;哈爾濱電工儀表研究所有限公司;黑龍江省招標有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/73;G06K9/62;G06V10/762
• 代理公司: 哈爾濱市晨晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 23219
• 代理人: 劉文權(quán)

基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法、電子設備及存儲介質(zhì)，屬于電路元件缺失檢測領(lǐng)域，是針對智能電表在生產(chǎn)過程中所出現(xiàn)的電路板元件缺失檢測的問題，靠人眼對電路元器件進行缺失檢測，這種方法對檢測人員具有較高的要求，容易造成誤檢和漏檢的問題所提出，步驟S1，獲得標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P，得到N_G幅不重疊的子圖I_q；步驟S2，對每幅子圖I_q進行特征向量提取，以特征向量為判斷依據(jù)，判斷每幅子圖I_q范圍內(nèi)是否存在元件缺失情況，從而確定電路板上的發(fā)生元件缺失的位置，并將該信息發(fā)送給檢測人員。可以在電路板質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)中識別電路中的缺失元件并對其進行定位，降低誤檢率從而提高產(chǎn)品合格率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電路元件缺失檢測方法，特別是涉及一種基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法、電子設備及存儲介質(zhì)，屬于計算機視覺、數(shù)字圖像處理技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

在電路板生產(chǎn)環(huán)節(jié)，可能由于人為操作失誤或焊點不牢固導致電子元件的缺失，這將直接導致整個電路的工作異常。因此，在電表出廠前，需要加入檢測環(huán)節(jié)以保證電表電路板上元件的完整性。

在傳統(tǒng)的電路板元器件檢測過程中，主要靠人眼對電路元器件進行缺失檢測，這種方法對檢測人員具有較高的要求，容易造成誤檢和漏檢。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明提供了一種基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法、電子設備及存儲介質(zhì)，可以解決智能電表在生產(chǎn)過程中所出現(xiàn)的電路板元件缺失檢測的問題，解決靠人眼對電路元器件進行缺失檢測容易造成誤檢和漏檢的問題。

本發(fā)明采用的技術(shù)方案一在于：

基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法，包括以下步驟：

步驟S1，獲得標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P，對所述標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P進行差分運算，獲得差分圖像I_D，并對差分圖像I_D進行網(wǎng)格劃分，得到N_G幅不重疊的子圖I_q,1≤q≤N_G；

步驟S2，對每幅子圖I_q進行特征向量提取，以特征向量為判斷依據(jù)，判斷每幅子圖I_q范圍內(nèi)是否存在元件缺失情況，從而確定電路板上的發(fā)生元件缺失的位置，并將該信息發(fā)送給檢測人員。

進一步地，所述步驟S1包括以下步驟：

步驟S11，根據(jù)標準電路板圖像和待檢測電路板圖像，計算差分圖像：

獲取輸入變量：標準電路板灰度圖像I_S，待檢測電路板灰度圖像I_P，標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P的尺寸均為W×H像素；

設標準電路板灰度圖像I_S中每一個像素點強度為待檢測電路板灰度圖像I_P中每一個像素點強度為i和j為像素索引值，由于圖像尺寸為W×H，所以1≤i≤(W×H)且1≤j≤(W×H)，差分圖像I_D的像素點強度為：

式(1)中，1≤k≤(W×H)，差分圖像I_D由W×H個像素點構(gòu)成；

步驟S12，對差分圖像進行網(wǎng)格化處理，將差分圖像劃分為多個子圖I_q：

該步驟的目的是將差分圖像劃分為h×h大小的不重疊子圖I_q，h≥2；