[發明專利]基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210245465.8
• 申請日: 2022-03-14
• 公開（公告）號: CN114596294A
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 梁言賀;劉惠穎;宮游;李興剛;王曉宇;殷鑫;滿江雪;李琦;程志華;商鐵濱;孫海強;溫智偉;殷聰;呂榮
• 申請（專利權）人: 國網黑龍江省電力有限公司供電服務中心;黑龍江省電工儀器儀表工程技術研究中心有限公司;哈爾濱電工儀表研究所有限公司;黑龍江省招標有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/73;G06K9/62;G06V10/762
• 代理公司: 哈爾濱市晨晟知識產權代理有限公司 23219
• 代理人: 劉文權

1.基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1，獲得標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P，對所述標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P進行差分運算，獲得差分圖像I_D，并對差分圖像I_D進行網格劃分，得到N_G幅不重疊的子圖I_q,1≤q≤N_G；

步驟S2，對每幅子圖I_q進行特征向量提取，以特征向量為判斷依據，判斷每幅子圖I_q范圍內是否存在元件缺失情況，從而確定電路板上的發生元件缺失的位置，并將該信息發送給檢測人員。

2.根據權利要求1所述的基于差值圖像的電路元件缺失檢測方法，其特征在于，所述步驟S1包括以下步驟：

步驟S11，根據標準電路板圖像和待檢測電路板圖像，計算差分圖像：

獲取輸入變量：標準電路板灰度圖像I_S，待檢測電路板灰度圖像I_P，標準電路板灰度圖像I_S和待檢測電路板灰度圖像I_P的尺寸均為W×H像素；

設標準電路板灰度圖像I_S中每一個像素點強度為待檢測電路板灰度圖像I_P中每一個像素點強度為i和j為像素索引值，由于圖像尺寸為W×H，所以1≤i≤(W×H)且1≤j≤(W×H)，差分圖像I_D的像素點強度為：

式(1)中，1≤k≤(W×H)，差分圖像I_D由W×H個像素點構成；

步驟S12，對差分圖像進行網格化處理，將差分圖像劃分為多個子圖I_q：

該步驟的目的是將差分圖像劃分為h×h大小的不重疊子圖I_q，h≥2；

對任意一個子圖I_q的中心坐標為(x,y)，則該子圖I_q的四個頂點是數學符號表示向上取整；

步驟S13，計算子圖向量的均值：

對于差分圖像I_D，劃分出的不重疊子圖數量其中，數學符號表示向下取整，將子圖I_q中的像素點排列為列向量，稱為子圖向量v_t，其中，t為子圖索引標記，1≤t≤N_G，對于N_G個子圖I_q，向量均值為：

步驟S14，計算子圖向量差異度：

子圖向量差異度是子圖向量與向量均值之間的差值，子圖向量差異度d_t為：

步驟S15，計算協方差矩陣和特征向量：

協方差矩陣D_t為：

協方差矩陣D_t中具有h²×h²個元素，對協方差矩陣進行特征值分解，可以得到對應于第t個子圖I_q的h²個特征值和h²個特征值向量，按照特征值的大小對特征向量進行排序，并選取特征向量的前d′個向量；

h²個特征值分別對應于子圖I_q中的每一個像素點，對于子圖I_q中的任意一個像素點p_k′，1≤k'≤h²，對應的特征向量為

圖像I_P被劃分為N_G個子圖I_q，每個子圖I_q中的每一個像素點均對應于一個特征向量。