[發明專利]帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法

有效

• 申請號: 202210243919.8
• 申請日: 2022-03-14
• 公開（公告）號: CN114324980B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 羅云;唐紅莉;王瑋亮;劉冠仲;楊超;孔旭峰
• 申請（專利權）人: 南京中旭電子科技有限公司
• 主分類號: G01P21/02
• 分類號: G01P21/02
• 代理公司: 南京華恒專利代理事務所(普通合伙) 32335
• 代理人: 宋方園

本發明提供一種帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，包括：基于第一拓展功能接口接收第一測試環境參數，控制器基于所述第一測試環境參數控制所述溫度控制裝置和磁場控制裝置構建第一測試環境；基于第二拓展功能接口接收標準相位差值數據；判斷在第一測試環境下多通道霍爾傳感器的所有通道分別輸出電能信息，則獲取多通道霍爾傳感器所包括的每個雙輸出感應芯片的第一測試相位差信息；判斷第一測試相位差信息與相對應的第一標準相位差信息相比滿足預設要求，則獲取多通道霍爾傳感器中不同感應芯片的第二測試相位差信息，若所述第二測試相位差信息與第二標準相位差信息相比滿足預設要求，則輸出多參數測試結果。

技術領域

本發明涉及霍爾傳感器測試技術領域，尤其涉及一種帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法。

背景技術

列車在運行過程中，多是通過多通道霍爾傳感器對其進行速度的檢測。市場上的多通道霍爾傳感器較多，不同的多通道霍爾傳感器其組成方式也存在不同，有的多通道霍爾傳感器中的感應元件分別為單輸出感應芯片，有的多通道霍爾傳感器中的感應元件分別為雙輸出感應芯片，有的多通道霍爾傳感器中即存在單輸出感應芯片又存在雙輸出感應芯片，所以對于多通道霍爾傳感器的多個參數進行測試時需要進行根據多通道霍爾傳感器的不同組成選取不同的測試方式，該種定制化的測試才能夠實現對不同的多通道霍爾傳感器進行精準的測試。

發明內容

本發明實施例提供一種帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，能夠通過拓展功能實現定制化的對多通道霍爾傳感器的多個參數進行測試，滿足多通道霍爾傳感器對不同通道之間的相位差的測量需求。

本發明實施例的第一方面，提供一種帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，包括控制器以及與所述控制器分別連接的溫度控制裝置和磁場控制裝置，所述溫度控制裝置和磁場控制裝置用于控制多通道霍爾傳感器所處環境的溫度和磁場，所述控制器分別連接有第一拓展功能接口和第二拓展功能接口，通過以下步驟進行測試，包括：

基于第一拓展功能接口接收第一測試環境參數，控制器基于所述第一測試環境參數控制所述溫度控制裝置和磁場控制裝置構建第一測試環境，所述第一測試環境參數包括第一溫度參數和第一磁場參數；

基于第二拓展功能接口接收標準相位差值數據，所述標準相位差值數據包括第一標準相位差信息和/或第二標準相位差信息，所述第一標準相位差信息為雙輸出感應芯片的標準相位差，所述第二標準相位差信息為不同感應芯片之間的標準相位差；

判斷在第一測試環境下多通道霍爾傳感器的所有通道分別輸出電能信息，則獲取多通道霍爾傳感器所包括的每個雙輸出感應芯片的第一測試相位差信息；

判斷第一測試相位差信息與相對應的第一標準相位差信息相比滿足預設要求，則獲取多通道霍爾傳感器中不同感應芯片的第二測試相位差信息，若所述第二測試相位差信息與第二標準相位差信息相比滿足預設要求，則輸出多參數測試結果。

可選地，在第一方面的一種可能實現方式中，基于第一拓展功能接口接收第一測試環境參數，控制器基于所述第一測試環境參數控制所述溫度控制裝置和磁場控制裝置構建第一測試環境，所述第一測試環境參數包括第一溫度參數和第一磁場參數包括：

控制器獲取所述第一溫度參數，基于所述溫度控制裝置改變多通道霍爾傳感器所處的溫度直至第一溫度參數；

控制器獲取所述第一磁場參數，基于所述溫度控制裝置改變多通道霍爾傳感器所處的磁場強度直至第一磁場參數。

可選地，在第一方面的一種可能實現方式中，基于第二拓展功能接口接收標準相位差值數據，所述標準相位差值數據包括第一標準相位差信息和/或第二標準相位差信息，所述第一標準相位差信息為雙輸出感應芯片的標準相位差，所述第二標準相位差信息為不同感應芯片之間的標準相位差包括：