[發明專利]帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法

有效

• 申請號: 202210243919.8
• 申請日: 2022-03-14
• 公開（公告）號: CN114324980B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 羅云;唐紅莉;王瑋亮;劉冠仲;楊超;孔旭峰
• 申請（專利權）人: 南京中旭電子科技有限公司
• 主分類號: G01P21/02
• 分類號: G01P21/02
• 代理公司: 南京華恒專利代理事務所(普通合伙) 32335
• 代理人: 宋方園

1.一種帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，其特征在于，包括控制器以及與所述控制器分別連接的溫度控制裝置和磁場控制裝置，所述溫度控制裝置和磁場控制裝置用于控制多通道霍爾傳感器所處環境的溫度和磁場，所述控制器分別連接有第一拓展功能接口和第二拓展功能接口，通過以下步驟進行測試，包括：

基于第一拓展功能接口接收第一測試環境參數，控制器基于所述第一測試環境參數控制所述溫度控制裝置和磁場控制裝置構建第一測試環境，所述第一測試環境參數包括第一溫度參數和第一磁場參數；

基于第二拓展功能接口接收標準相位差值數據，所述標準相位差值數據包括第一標準相位差信息和/或第二標準相位差信息，所述第一標準相位差信息為雙輸出感應芯片的標準相位差，所述第二標準相位差信息為不同感應芯片之間的標準相位差；

判斷在第一測試環境下多通道霍爾傳感器的所有通道分別輸出電能信息，則獲取多通道霍爾傳感器所包括的每個雙輸出感應芯片的第一測試相位差信息；

判斷第一測試相位差信息與相對應的第一標準相位差信息相比滿足預設要求，則獲取多通道霍爾傳感器中不同感應芯片的第二測試相位差信息，若所述第二測試相位差信息與第二標準相位差信息相比滿足預設要求，則輸出多參數測試結果。

2.根據權利要求1所述的帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，其特征在于，

基于第一拓展功能接口接收第一測試環境參數，控制器基于所述第一測試環境參數控制所述溫度控制裝置和磁場控制裝置構建第一測試環境，所述第一測試環境參數包括第一溫度參數和第一磁場參數包括：

控制器獲取所述第一溫度參數，基于所述溫度控制裝置改變多通道霍爾傳感器所處的溫度直至第一溫度參數；

控制器獲取所述第一磁場參數，基于所述溫度控制裝置改變多通道霍爾傳感器所處的磁場強度直至第一磁場參數。

3.根據權利要求1所述的帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，其特征在于，

基于第二拓展功能接口接收標準相位差值數據，所述標準相位差值數據包括第一標準相位差信息和/或第二標準相位差信息，所述第一標準相位差信息為雙輸出感應芯片的標準相位差，所述第二標準相位差信息為不同感應芯片之間的標準相位差包括：

所述標準相位差值數據包括多通道霍爾傳感器中每個通道的第一維度標識和第二維度標識，所述第一維度標識為相應通道屬于雙輸出感應芯片或單輸出感應芯片中的任意一個，所述第二維度標識為相應通道的通道身份標識；

獲取標準相位差值數據中具有相同第一維度標識的兩個相應通道的標準相位差得到第一標準相位差信息，所述第一標準相位差信息至少包括第一維度標識；

獲取標準相位差值數據中具有不同第一維度標識的兩個相應通道的標準相位差得到第二標準相位差信息，所述第二標準相位差信息至少包括兩個相應通道的第二維度標識。

4.根據權利要求3所述的帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，其特征在于，

判斷在第一測試環境下多通道霍爾傳感器的所有通道分別輸出電能信息，則獲取多通道霍爾傳感器所包括的每個雙輸出感應芯片的第一測試相位差信息包括：

若第一測試環境下多通道霍爾傳感器的所有通道輸出的電能信息大于預設值，則判斷第一測試環境下多通道霍爾傳感器的所有通道分別輸出電能信息；

獲取具有相同第一維度標識所對應的兩個通道的電能信息，根據所述所對應的兩個通道的電能信息得到第一測試相位差信息。

5.根據權利要求3所述的帶擴展功能的多通道霍爾傳感器多參數測試方法，其特征在于，

判斷第一測試相位差信息與相對應的第一標準相位差信息相比滿足預設要求包括：

基于所述第一測試相位差信息以及相對應的第一標準相位差信息得到第一差值；

若所述第一差值小于等于第一預設值，則第一測試相位差信息與相對應的第一標準相位差信息相比滿足預設要求。