[發明專利]缺陷檢測方法及其裝置、存儲介質、程序產品

在審

• 申請號: 202210242790.9
• 申請日: 2022-03-11
• 公開（公告）號: CN114596290A
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 吳濤;劉俊;高斌斌;李昱希;王亞彪;汪鋮杰
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/90;G06T5/50;G06T7/11;G06T7/136
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 譚英強;孫浩

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取待處理圖像；

根據所述待處理圖像計算得到所述待處理圖像的灰度梯度幅值圖像；

根據所述待處理圖像計算得到所述待處理圖像的亮度校正圖像；

將所述待處理圖像、所述灰度梯度幅值圖像和所述亮度校正圖像合并成三通道圖像；

對所述三通道圖像進行缺陷檢測處理得到第一缺陷圖像。

2.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述待處理圖像的數量為多個，所述獲取待處理圖像，包括：

獲取目標圖像；

對所述目標圖像進行圖像增強處理，得到增強圖像；

對所述目標圖像和所述增強圖像分別進行多尺度轉換處理，得到多個所述待處理圖像。

3.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述待處理圖像、所述灰度梯度幅值圖像、所述亮度校正圖像和所述三通道圖像的數量均為多個，所述待處理圖像、所述灰度梯度幅值圖像、所述亮度校正圖像和所述三通道圖像之間一一對應；

所述對所述三通道圖像進行缺陷檢測處理得到第一缺陷圖像，包括：

對多個所述三通道圖像進行缺陷檢測處理，得到多個缺陷標注圖像；

將多個所述缺陷標注圖像映射到同一尺度，得到多個候選缺陷圖像；

對多個所述候選缺陷圖像進行非極大值抑制合并處理，得到所述第一缺陷圖像。

4.根據權利要求2所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述獲取目標圖像，包括：

獲取第一焊縫圖像，所述第一焊縫圖像含有焊縫區域；

對所述第一焊縫圖像進行焊縫識別處理，得到與所述焊縫區域對應的焊縫掩膜圖像；

根據所述焊縫掩膜圖像對所述第一焊縫圖像中的所述焊縫區域進行截圖處理，得到所述目標圖像。

5.根據權利要求4所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述第一缺陷圖像中標記有缺陷位置；所述對所述三通道圖像進行缺陷檢測處理得到第一缺陷圖像之后，所述缺陷檢測方法還包括：

根據所述焊縫掩膜圖像在所述第一缺陷圖像中確定目標缺陷區域；

刪除所述第一缺陷圖像中的目標缺陷位置得到第二缺陷圖像，其中，所述目標缺陷位置為所述第一缺陷圖像中處于所述目標缺陷區域之外的缺陷位置。

6.根據權利要求5所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述第一焊縫圖像的數量為多個，所述獲取第一焊縫圖像，包括：

接收第二焊縫圖像；

獲取所述第二焊縫圖像的第一長度信息；

當所述第一長度信息大于第一預設長度閾值，對所述第二焊縫圖像進行分割處理得到多個所述第一焊縫圖像。

7.根據權利要求6所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述第二焊縫圖像進行分割處理得到多個所述第一焊縫圖像，包括：

獲取分割長度閾值、分割寬度閾值、交疊比例值和所述第二焊縫圖像的第一寬度信息；

根據所述分割長度閾值、所述分割寬度閾值、所述交疊比例值、所述第一長度信息和所述第一寬度信息，計算得到分割坐標信息；

根據所述分割坐標信息對所述第二焊縫圖像進行分割處理，得到多個所述第一焊縫圖像。

8.根據權利要求6所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述刪除所述第一缺陷圖像中的目標缺陷位置得到第二缺陷圖像之后，所述缺陷檢測方法還包括：

獲取所述第二缺陷圖像中的缺陷位置的目標坐標信息；

將所述目標坐標信息映射到所述第二焊縫圖像，得到目標缺陷圖像。

9.根據權利要求4所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據所述焊縫掩膜圖像對所述第一焊縫圖像中的所述焊縫區域進行截圖處理，得到所述目標圖像，包括：

獲取所述焊縫掩膜圖像的第一邊界框；

根據所述第一邊界框確定所述焊縫掩膜圖像的第一掩膜坐標信息；

根據所述第一掩膜坐標信息對所述第一焊縫圖像中的所述焊縫區域進行截圖處理，得到所述目標圖像。