[發明專利]共面波導至微帶線的過渡結構的確定方法及過渡結構

有效

• 申請號: 202210242437.0
• 申請日: 2022-03-11
• 公開（公告）號: CN114665247B
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 韓宇南;梁珮云
• 申請（專利權）人: 北京化工大學
• 主分類號: H01P11/00
• 分類號: H01P11/00;H01P5/08;G06F30/20
• 代理公司: 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471
• 代理人: 周亮

1.一種共面波導至微帶線的過渡結構的確定方法，其特征在于，包括：

獲取介質基板的性能參數數據；

基于所述性能參數數據，采用等特性阻抗連續過渡方式，計算確定描述過渡區域內，中心導帶寬度、與中心導帶至接地帶的間距之間的對應關系；

基于所述對應關系所表征的第一雙指數函數關系，確定所述過渡結構中共面波導與微帶線間的間隙結構；

其中，所述基于所述對應關系所表征的第一雙指數函數關系，確定共面波導至微帶線間的間隙結構，具體為：

將所述第一雙指數函數關系所描述的結構，確定為所述過渡結構中共面波導與微帶線的間隙結構；

或者以插入損耗最小為目標，采用仿真方式對所述第一雙指數函數關系中的系數參數進行調整優化，得到優化后的表征中心導帶寬度、與中心導帶至接地帶的間距之間對應關系的第二雙指數函數關系，將所述第二雙指數函數關系所描述的結構，確定為所述過渡結構中共面波導與微帶線間的間隙結構。

2.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，所述以插入損耗最小為目標，采用仿真方式對所述第一雙指數函數關系中的系數參數進行調整優化，包括：

獲取所述過渡區域中邊緣通過點的位置參數數據；

將所述位置參數數據作為邊界條件，基于所述第一雙指數函數關系以插入損耗最小為目標進行仿真優化。

3.根據權利要求2所述的確定方法，其特征在于，采用HFSS工具軟件包進行所述仿真優化。

4.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，所述計算確定描述過渡區域內，中心導帶寬度、與中心導帶至接地帶的間距之間的對應關系的過程，包括：

基于平面波導的特性阻抗計算公式，根據所述性能參數數據和預設特性阻抗參數數據，生成若干中心導帶寬度數據，以及與各所述中心導帶寬度數據相對應的中心導帶至接地帶的間距數據；

根據各所述中心導帶寬度數據，以及各所述中心導帶至接地帶的間距數據進行數據分析及擬合，確定所述對應關系。

5.根據權利要求1所述的確定方法，其特征在于，所述對應關系如以下關系表達式所示：

W＝a×e^(b×S)+c×e^(d×S)

其中，W表示過渡區域內中心導帶至接地帶的間距，S表示過渡區域內中心導帶寬度，a,b,c,d表示該關系表達式所表征的函數關系的系數參數。

6.一種共面波導至微帶線的過渡結構，其特征在于，所述過渡結構由權利要求1至5中任一項所述的確定方法確定。

7.根據權利要求6所述的過渡結構，其特征在于，所述過渡結構中共面波導與微帶線間的間隙結構，由以下雙指數函數關系描述確定，

W＝a×e^(b×S)+c×e^(d×S)

其中，W表示過渡區域內中心導帶至接地帶的間距，S表示過渡區域內中心導帶寬度，a,b,c,d表示該關系表達式所表征的函數關系的系數參數。