[發明專利]多線拼接的光學探測裝置

在審

• 申請號: 202210234314.2
• 申請日: 2022-03-10
• 公開（公告）號: CN114609611A
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 王立剛;王敬;雷健;矯世浩
• 申請（專利權）人: 煙臺艾睿光電科技有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481
• 代理公司: 深圳市沈合專利代理事務所(特殊普通合伙) 44373
• 代理人: 顏鐘惠;彭姣平

本申請提供了一種多線拼接的光學探測裝置，通過發射分束模組將發射模組發射出的第一探測光束分束成至少兩束第二探測光束后再發射至被探測物體，再由與所述第二探測光束數量對應設置的多個接收模組接收被探測物體反射的回波光束后獲得對應探測信號，所述第二探測光束的橫截面積小于所述第一探測光束的橫截面積，且所述第二探測光束沿設定方向發射后照射至所述被探測物體上。因此，本申請提供的多線拼接的光學探測裝置，可以減少發射模組數量的設置，降低制造成本，同時還可以將寬的探測光束分束成多束窄的探測光束發射中所述被探測物體，可以提高所述接收模組接收回波光束的效率，增加所述多線拼接的光學探測裝置的探測距離。

技術領域

本申請涉及光學探測裝置技術領域，尤其涉及一種多線拼接的光學探測裝置。

背景技術

諸如激光雷達等光學探測器是通過發射多個探測光束探測被探測物體的位置、速度、反射強度等特征量的設備。其工作原理是先向被探測物發射探測光線，然后接收從被探測物體反射回來的回波光束并進行處理，就可以獲得被探測物體的有關信息。探測距離是影響光學探測性能的關鍵參數，該參數受光束接收效率影響較大。

為了提高光學探測器的遠距離探測的應用，現有的光學探測器常用打孔反射鏡或者部分鍍膜反射鏡進行收發光線分束，但因為探測光束截面積大，反射鏡中間的孔較大，會降低接收光線的效率，影響探測距離。此外，為了增大光學探測裝置的視場角，多線拼接的光學探測器應運而生。現有的多線拼接光學探測器需要采用多個光源元件(如激光雷達)發射多束探測光束，其體積較大、生產成本高。

發明內容

為解決存在的技術問題，本申請提供了一種多線拼接的光學探測裝置，包括：

一種多線拼接的光學探測裝置，包括：

發射模組，用于發射第一探測光束；

發射分束模組，用于將所述第一探測光束分成至少兩束第二探測光束，所述第二探測光束的橫截面積小于所述第一探測光束的橫截面積，各所述第二探測光束分別沿對應的設定方向發射后照射至被探測物體上；

與各所述第二探測光束對應設置的至少兩個接收模組，每一個所述接收模組用于接收并處理對應的所述第二探測光束經由所述被探測物體反射后的回波光束，獲得所述被探測物體的信息。

在一些實施例中，所述發射模組包括：

發射光源，用于發射探測光線；

準直元件，用于將所述探測光線進行準直后發射出所述第一探測光束。

在一些實施例中，所述發射分束模組包括：

第一分束元件，具有至少兩個第一反射面，每一個所述第一反射面用于將射向其表面的所述第一探測光束部分反射形成對應的第一反射光束；

第一光路偏折元件，具有至少一個第一偏折面，每一個所述第一偏折面用于將對應的一束所述第一反射光束的發射方向偏折為對應的設定方向，形成一束所述第二探測光束；

次級分束模組，所述次級分束模組用于將對應的所述第一反射光束經過至少一次分束處理后，形成沿對應的設定方向發射的至少兩束所述第二探測光束，每一所述第二探測光束的橫截面積小于對應的所述第一反射光束的橫截面積。

在一些實施例中，所述發射分束模組包括：

第一分束元件，具有至少兩個第一反射面，每一個所述第一反射面用于將射向其表面的所述第一探測光束部分反射形成對應的第一反射光束；

第一光路偏折元件，具有與各個所述第一反射面對應設置的第一偏折面，每一個所述偏折面用于將對應的一束所述第一反射光束的發射方向偏折為對應的設定方向，形成一束所述第二探測光束。

在一些實施例中，所述發射分束模組包括：