[發明專利]多線拼接的光學探測裝置

在審

• 申請號: 202210234314.2
• 申請日: 2022-03-10
• 公開（公告）號: CN114609611A
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 王立剛;王敬;雷健;矯世浩
• 申請（專利權）人: 煙臺艾睿光電科技有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481
• 代理公司: 深圳市沈合專利代理事務所(特殊普通合伙) 44373
• 代理人: 顏鐘惠;彭姣平

1.一種多線拼接的光學探測裝置，其特征在于，包括：

發射模組，用于發射第一探測光束；

發射分束模組，用于將所述第一探測光束分成至少兩束第二探測光束，所述第二探測光束的橫截面積小于所述第一探測光束的橫截面積，各所述第二探測光束分別沿對應的設定方向發射后照射至被探測物體上；

與各所述第二探測光束對應設置的至少兩個接收模組，每一個所述接收模組用于接收并處理對應的所述第二探測光束經由所述被探測物體反射后的回波光束，獲得所述被探測物體的信息。

2.根據權利要求1所述的光線探測裝置，其特在于，所述發射模組包括：

發射光源，用于發射探測光線；

準直元件，用于將所述探測光線進行準直后發射出所述第一探測光束。

3.根據權利要求1所述的光學探測裝置，其特征在于，所述發射分束模組包括：

第一分束元件，具有至少兩個第一反射面，每一個所述第一反射面用于將射向其表面的所述第一探測光束部分反射形成對應的第一反射光束；

第一光路偏折元件，具有至少一個第一偏折面，每一個所述第一偏折面用于將對應的一束所述第一反射光束的發射方向偏折為對應的設定方向，形成一束所述第二探測光束；

次級分束模組，所述次級分束模組用于將對應的所述第一反射光束經過至少一次分束處理后，形成沿對應的設定方向發射的至少兩束所述第二探測光束，每一所述第二探測光束的橫截面積小于對應的所述第一反射光束的橫截面積。

4.根據權利要求1所述的光學探測裝置，其特征在于，所述發射分束模組包括：

第一分束元件，具有至少兩個第一反射面，每一個所述第一反射面用于將射向其表面的所述第一探測光束部分反射形成對應的第一反射光束；

第一光路偏折元件，具有與各個所述第一反射面對應設置的第一偏折面，每一個所述偏折面用于將對應的一束所述第一反射光束的發射方向偏折為對應的設定方向，形成一束所述第二探測光束。

5.根據權利要求1所述的光學探測裝置，其特征在于，所述發射分束模組包括：

第一分束元件，具有至少兩個第一反射面，每一個所述第一反射面用于將射向其表面的所述第一探測光束部分反射形成對應的第一反射光束；

次級分束模組，所述次級分束模組用于將每一個所述第一反射光束經過至少一次分束處理后，形成沿對應的設定方向發射的至少兩束所述第二探測光束，每一所述第二探測光束的橫截面積小于對應的所述第一反射光束的橫截面積。

6.根據權利要求3至5中任意一項所述的光學探測裝置，其特征在于，所述第一反射面與所述第一探測光束的出射面成夾角設置，各個所述第一反射面在所述第一探測光束發射方向的投影所占總面積大于或等于所述第一探測光束的橫截面積。

7.根據權利要求4或5所述的光學探測裝置，其特征在于，所述次級分束模組包括：

第二分束元件，具有至少兩個第二反射面，每一個所述第二反射面用于將對應的所述第一反射光束部分反射形成第二反射光束，至少一個所述第二反射面射出的所述第二反射光束為沿對應的設定方向發射的所述第二探測光束。

8.根據權利要求7所述的光學探測裝置，其特征在于，所述第二反射面與對應的所述第一反射面平行設置。

9.根據權利要求7所述的光學探測裝置，其特征在于，所述次級分束模組還包括：

第三分束元件，具有至少兩個第三反射面，每一個所述第三反射面用于將對應的所述第二反射光束部分反射形成第三反射光束；

第二光路偏折元件，具有與各個所述第三反射面對應設置的第二偏折面，每一個所述第二偏折面用于將對應的一束所述第三反射光束的發射方向偏折為對應的設定方向后發出一束所述第二探測光束。