[發明專利]一種用于細胞定量分析的熒光補償方法及其系統

在審

• 申請號: 202210229292.0
• 申請日: 2022-03-09
• 公開（公告）號: CN114755164A
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 強茂;紀存朋;林文革;謝萬龍;孫謐
• 申請（專利權）人: 青島瑞斯凱爾生物科技有限公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 武漢聚信匯智知識產權代理有限公司 42258
• 代理人: 徐松

1.一種用于細胞定量分析的熒光補償方法，其特征在于，包括：

獲得各測量通道的熒光信號強度數據并繪制信號強度波形；

對所述信號強度波形進行濾波處理提取有效的峰值；

根據所述有效的峰值計算得出所述測量通道的信號值；

逐個計算各種熒光素在各所述測量通道的串擾系數，經過計算后得出一個熒光補償矩陣；其中，具體包括：

獲得各種所述熒光素在所有所述測量通道的信號值；

逐個計算所述熒光素在其他所述測量通道的信號值與最高所述測量通道的信號值之間的比值得到所述串擾系數；

根據每個所述熒光素的所述串擾系數得到一個所述熒光補償矩陣；

將每個所述測量通道的信號值輸入所述熒光補償矩陣中得到各種熒光素真實的熒光信號強度值。

2.根據權利要求1所述的一種用于細胞定量分析的熒光補償方法，其特征在于，所述獲得各測量通道的熒光信號強度數據得到信號強度波形，具體包括：

在特定時間段內向所述下位機采集各所述測量通道的熒光信號強度數據；

根據各所述測量通道的熒光信號強度數據繪制信號強度波形。

3.根據權利要求2所述的一種用于細胞定量分析的熒光補償方法，其特征在于，所述對所述信號強度波形進行濾波處理，具體包括：

識別所述信號強度波形的波峰，去除第一個所述波峰前的熒光信號強度數據；

將處理后的信號強度波形分為多個滑動窗口；

逐個計算所述滑動窗口平均值并繪制線段得到基線；

根據所述基線對所述處理后的信號強度波形進行校準；

利用小波包分解法對所述處理后的信號強度波形進行濾波處理得到有效的信號強度波形；

根據所述有效的信號強度波形提取有效的峰值。

4.根據權利要求1所述的一種用于細胞定量分析的熒光補償方法，其特征在于，所述串擾系數的表達式為：

式中：α表示某個熒光素在其他測量通道的信號值與最高測量通道的信號值之間的比值；

x表示某個熒光素在其他測量通道的信號值；

y表示某個熒光素在最高測量通道的信號值。

5.根據權利要求1所述的一種用于細胞定量分析的熒光補償方法，其特征在于，所述熒光補償矩陣的表達式為：

FL_n＝A_真+B_真×α

FL_n＝A_真×α+B_真

式中：FL_n表示某個測量通道的信號值，n為1、2、3…的自然數；

A_真表示某個熒光素在該測量通道的真實信號值；

B_真表示某個熒光素在該測量通道的真實信號值。

6.一種用于細胞定量分析的熒光補償系統，應用于權利要求1～5任一項所述的一種用于細胞定量分析的熒光補償方法，包括：

獲得模塊，用于獲得各測量通道的熒光信號強度數據并繪制信號強度波形；

濾波模塊，用于對所述信號強度波形進行濾波處理提取有效的峰值；

計算模塊，用于根據所述有效的峰值計算得出各所述測量通道的信號值；

第一處理模塊，用于逐個計算各種熒光素在各所述測量通道的串擾系數，經過計算后得出一個熒光補償矩陣；其中，具體包括：

采集單元，用于獲得各種所述熒光素在所有所述測量通道的信號值；

測量單元，用于逐個計算所述熒光素在其他所述測量通道的信號值與最高所述測量通道的信號值之間的比值得到所述串擾系數；

匯總單元，用于根據每個所述熒光素的所述串擾系數得到一個所述熒光補償矩陣；

第二處理模塊，用于將每個所述測量通道的信號值輸入所述熒光補償矩陣中得到各種熒光素真實的熒光信號強度值。