[發明專利]超導帶材微觀結構置樣分析方法

有效

• 申請號: 202210227165.7
• 申請日: 2022-03-08
• 公開（公告）號: CN114812430B
• 公開（公告）日: 2023-02-17
• 發明（設計）人: 朱佳敏;甄水亮;陳思侃;張超;高中赫;馬化韜;盛杰;吳蔚;王臻郅;丁逸珺
• 申請（專利權）人: 上海超導科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01N1/28;G01N1/32;G01N21/84;G01N23/04;G01N23/20;G01N23/2251;G01Q60/24;G01R19/00
• 代理公司: 上海段和段律師事務所 31334
• 代理人: 祁春倪

1.一種超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，包括：

步驟1：用金屬層對超導帶材進行封裝；

步驟2：分離預設長度的封裝在超導帶材兩側的金屬層；

步驟3：固定超導帶材和靠近超導層一側的金屬層，分離靠近所述超導帶材基帶層一側的金屬層；

步驟4：從所述超導帶材上分離所述超導帶材的超導層和緩沖層；

步驟5：對分離出的超導層或緩沖層進行置樣；

步驟6：用檢測設備對置樣的所述超導層或緩沖層進行觀測。

2.根據權利要求1所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，在所述步驟1之前還包括：

步驟0：對超導帶材進行臨界電流測試，得到臨界電流分布數據，確定臨界電流退化點的具體位置，用于置樣分析。

3.根據權利要求1所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，在所述步驟6之后還包括：

步驟7：對置樣的所述緩沖層和所述超導層進行腐蝕；

步驟8：用檢測設備對腐蝕后的所述超導層和緩沖層進行觀測。

4.根據權利要求3所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，在所述步驟6和步驟8中的檢測設備包括其中一樣或多樣：光學顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、原子力顯微鏡、橢偏儀、輪廓儀、X射線衍射儀和反射高能衍射儀。

5.根據權利要求1所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，所述步驟2中分離預設長度的封裝在超導帶材兩側的金屬層的方法包括：

對超導帶材的預設位置進行反復彎折直至封裝的金屬層斷裂，從斷裂處撕開得到兩側封裝的金屬層。

6.根據權利要求1所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，所述步驟3中，固定超導帶材和靠近超導層一側的金屬層，分離靠近所述超導帶材基帶層一側的金屬層時，保證超導層和緩沖層之間沒有任何的撕開。

7.根據權利要求1所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，所述步驟4中，相反方向輕輕拉開，分離所述超導帶材的超導層和緩沖層，確保超導層和緩沖層從界面脫開。

8.根據權利要求1所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，分離出的金屬層中，靠近所述超導帶材基帶層一側的金屬層內表面無涂層，靠近超導層一側的金屬層內表面沾有所述超導層的涂層。

9.根據權利要求3所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，所述步驟7中腐蝕的方式包括：超導層用3-10％左右的稀鹽酸。

10.根據權利要求3所述的超導帶材微觀結構置樣分析方法，其特征在于，所述步驟7中腐蝕的方式包括：

用化學腐蝕的方式腐蝕所述緩沖層；

其中，用5％-20％的NaOH來腐蝕Al2O3；

腐蝕時，采用超聲波震蕩腐蝕溶液。