[發(fā)明專(zhuān)利]一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210218991.5
• 申請(qǐng)日: 2022-03-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114579453A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-06-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡騰遠(yuǎn);王寶
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京字節(jié)跳動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/36
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京開(kāi)陽(yáng)星知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11710
• 代理人: 王艷斌

本公開(kāi)實(shí)施例涉及一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)，其中該方法包括：在應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試開(kāi)始時(shí)，獲取測(cè)試影響數(shù)據(jù)，測(cè)試影響數(shù)據(jù)表示能夠影響鍵盤(pán)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的不同類(lèi)型的數(shù)據(jù)；基于測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類(lèi)型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤(pán)測(cè)試。本公開(kāi)實(shí)施例能夠在應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試過(guò)程中，通過(guò)收集測(cè)試影響數(shù)據(jù)并根據(jù)不同類(lèi)型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤(pán)測(cè)試，能夠在應(yīng)用程序的自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中大大降低鍵盤(pán)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，提升自動(dòng)化測(cè)試的遍歷效率，進(jìn)而提升了自動(dòng)化測(cè)試發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的能力。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開(kāi)涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著應(yīng)用程序的快速發(fā)展，為了保證應(yīng)用程序的性能，需要對(duì)應(yīng)用程序進(jìn)行質(zhì)量測(cè)試，線下質(zhì)量測(cè)試是其中非常重要的一部分。在線下自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)用程序的鍵盤(pán)場(chǎng)景較多會(huì)導(dǎo)致鍵盤(pán)的顯示時(shí)長(zhǎng)占比過(guò)高，大大影響了測(cè)試效率。

目前通常采用將帶有鍵盤(pán)的字段的節(jié)點(diǎn)在大部分情況下(例如70％)設(shè)置為不可點(diǎn)擊的狀態(tài)來(lái)解決上述問(wèn)題，但是這種隨機(jī)策略可能會(huì)導(dǎo)致頁(yè)面樹(shù)結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，影響測(cè)試效果，并且當(dāng)已經(jīng)進(jìn)入鍵盤(pán)場(chǎng)景測(cè)試之后，這種策略不能解決問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本公開(kāi)提供了一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。

本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法，所述方法包括：

在應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試開(kāi)始時(shí)，獲取測(cè)試影響數(shù)據(jù)，所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)表示能夠影響鍵盤(pán)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的不同類(lèi)型的數(shù)據(jù)；

基于所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類(lèi)型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤(pán)測(cè)試。

本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試裝置，所述裝置包括：

數(shù)據(jù)模塊，用于在應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試開(kāi)始時(shí)，獲取測(cè)試影響數(shù)據(jù)，所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)表示能夠影響鍵盤(pán)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的不同類(lèi)型的數(shù)據(jù)；

測(cè)試模塊，用于基于所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類(lèi)型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤(pán)測(cè)試。

本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：處理器；用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；所述處理器，用于從所述存儲(chǔ)器中讀取所述可執(zhí)行指令，并執(zhí)行所述指令以實(shí)現(xiàn)如本公開(kāi)實(shí)施例提供的應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法。

本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于執(zhí)行如本公開(kāi)實(shí)施例提供的應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法。

本公開(kāi)實(shí)施例提供的技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點(diǎn)：本公開(kāi)實(shí)施例提供的應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方案，在應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試開(kāi)始時(shí)，獲取測(cè)試影響數(shù)據(jù)，測(cè)試影響數(shù)據(jù)表示能夠影響鍵盤(pán)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的不同類(lèi)型的數(shù)據(jù)；基于測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類(lèi)型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤(pán)測(cè)試。采用上述技術(shù)方案，在應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試過(guò)程中，通過(guò)收集測(cè)試影響數(shù)據(jù)并根據(jù)不同類(lèi)型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤(pán)測(cè)試，能夠在應(yīng)用程序的自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中大大降低鍵盤(pán)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，提升自動(dòng)化測(cè)試的遍歷效率，進(jìn)而提升了自動(dòng)化測(cè)試發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的能力。

附圖說(shuō)明

結(jié)合附圖并參考以下具體實(shí)施方式，本公開(kāi)各實(shí)施例的上述和其他特征、優(yōu)點(diǎn)及方面將變得更加明顯。貫穿附圖中，相同或相似的附圖標(biāo)記表示相同或相似的元素。應(yīng)當(dāng)理解附圖是示意性的，原件和元素不一定按照比例繪制。

圖1為本公開(kāi)實(shí)施例提供的一種應(yīng)用程序的鍵盤(pán)測(cè)試方法的流程示意圖；

圖2為本公開(kāi)實(shí)施例提供的一種鍵盤(pán)控件聚合的界面示意圖；

圖3為本公開(kāi)實(shí)施例提供的一種測(cè)試優(yōu)化的流程示意圖；

圖4為本公開(kāi)實(shí)施例提供的另一種測(cè)試優(yōu)化的流程示意圖；