[發(fā)明專利]一種應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210218991.5
• 申請(qǐng)日: 2022-03-08
• 公開（公告）號(hào): CN114579453A
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡騰遠(yuǎn);王寶
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京字節(jié)跳動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京開陽(yáng)星知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11710
• 代理人: 王艷斌

1.一種應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試方法，其特征在于，包括：

在應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試開始時(shí)，獲取測(cè)試影響數(shù)據(jù)，所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)表示能夠影響鍵盤測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的不同類型的數(shù)據(jù)；

基于測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)包括頁(yè)面控件信息和/或鍵盤顯示參數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)包括頁(yè)面控件信息時(shí)，所述測(cè)試優(yōu)化策略包括鍵盤控件字段，所述頁(yè)面控件信息包括測(cè)試頁(yè)面包括的多個(gè)控件對(duì)應(yīng)的字段；

基于測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤測(cè)試，包括：

將所述測(cè)試頁(yè)面包括的多個(gè)控件對(duì)應(yīng)的字段與所述鍵盤控件字段進(jìn)行匹配，將字段中包括所述鍵盤控件字段的控件確定為待聚合控件；

將多個(gè)所述待聚合控件中鍵盤控件字段相同和/或位置相鄰的控件聚合為一個(gè)統(tǒng)一的目標(biāo)控件進(jìn)行測(cè)試。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述鍵盤控件字段包括文字控件字段、推薦詞控件字段和表情控件字段。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述鍵盤顯示參數(shù)包括鍵盤顯示時(shí)長(zhǎng)、鍵盤間隔時(shí)長(zhǎng)和/或鍵盤顯示次數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)包括鍵盤顯示參數(shù)時(shí)，所述測(cè)試優(yōu)化策略包括時(shí)長(zhǎng)閾值、間隔時(shí)長(zhǎng)閾值和/或次數(shù)閾值；

基于測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤測(cè)試，包括如下至少一種：

在鍵盤測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)所述鍵盤顯示時(shí)長(zhǎng)達(dá)到所述時(shí)長(zhǎng)閾值時(shí)，則銷毀鍵盤；

在顯示所述鍵盤之后，當(dāng)所述鍵盤間隔時(shí)長(zhǎng)小于或等于所述間隔時(shí)長(zhǎng)閾值時(shí)，則銷毀所述鍵盤；

接收到對(duì)所述鍵盤的顯示請(qǐng)求，并當(dāng)所述應(yīng)用程序的一個(gè)生命周期內(nèi)的所述鍵盤顯示次數(shù)大于或等于所述次數(shù)閾值時(shí)，則在顯示所述鍵盤之后立即銷毀所述鍵盤。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述銷毀所述鍵盤，包括：

獲取當(dāng)前測(cè)試頁(yè)面的主視圖，并獲取所述主視圖的響應(yīng)代碼；

如果所述主視圖的響應(yīng)代碼中包括預(yù)設(shè)手勢(shì)，則先觸發(fā)所述預(yù)設(shè)手勢(shì)再銷毀所述鍵盤。

8.一種應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

數(shù)據(jù)模塊，用于在應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試開始時(shí)，獲取測(cè)試影響數(shù)據(jù)，所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)表示能夠影響鍵盤測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的不同類型的數(shù)據(jù)；

測(cè)試模塊，用于基于所述測(cè)試影響數(shù)據(jù)的不同類型采用對(duì)應(yīng)的測(cè)試優(yōu)化策略執(zhí)行鍵盤測(cè)試。

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

處理器；

用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；

所述處理器，用于從所述存儲(chǔ)器中讀取所述可執(zhí)行指令，并執(zhí)行所述指令以實(shí)現(xiàn)上述權(quán)利要求1-7中任一所述的應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于執(zhí)行上述權(quán)利要求1-7中任一所述的應(yīng)用程序的鍵盤測(cè)試方法。