[發明專利]一種硅反應裝置在審
| 申請號: | 202210216131.8 | 申請日: | 2022-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN114602401A | 公開(公告)日: | 2022-06-10 |
| 發明(設計)人: | 項習飛;田才忠;林保璋;余先煒 | 申請(專利權)人: | 盛吉盛半導體科技(北京)有限公司;盛吉盛(寧波)半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | B01J19/00 | 分類號: | B01J19/00;B01J4/00;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京市競天公誠律師事務所 11770 | 代理人: | 陳果 |
| 地址: | 102600 北京市大興區北京經濟技術開發區榮華南路*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 反應 裝置 | ||
本發明涉及一種硅反應裝置,包括腔體以及抽氣部,抽氣部設置于腔體的底部的中央并與腔體連通,抽氣部包括閥板、連桿、抽氣管道以及驅動組件,連桿的第一端與閥板固定連接,驅動組件與連桿的第二端連接以驅動連桿做升降運動,閥板用于在連桿的作用下開啟或關閉抽氣管道。本發明能夠提高腔體內硅晶圓表面的氣體的均勻性,同時能夠調控腔體內的壓力,使得壓力趨于平穩。
技術領域
本發明涉及半導體制造技術領域,特別是涉及一種硅反應裝置。
背景技術
對于現有技術下的硅反應裝置,氣體在整個腔室中的分布是不均勻的,靠近進氣口的氣體分布與靠近抽氣口的氣體分布不同,靠近邊緣區域的氣體分布與靠近中心區域的氣體分布不同。雖然硅片的連續旋轉可以降低氣體分布的不均勻性,但仍未達到工藝標準。更重要的是,現有技術下的硅反應裝置的腔室內的壓力無法準確控制或調整,也會影響到腔室內的氣體均勻性。隨著對氣體的均勻性要求的增加,如何提高腔室內氣體的均勻性成為關鍵問題。
發明內容
本發明的目的在于提供一種硅反應裝置,以提高腔室內硅晶圓表面的氣體的均勻性。
本發明的目的是采用以下的技術方案來實現的。依據本發明提出的一種硅反應裝置,包括腔體以及抽氣部,所述抽氣部設置于所述腔體的底部的中央并與所述腔體連通,所述抽氣部包括閥板、連桿、抽氣管道以及驅動組件,所述連桿的第一端與所述閥板固定連接,所述驅動組件與所述連桿的第二端連接以驅動所述連桿做升降運動,所述閥板用于在所述連桿的作用下開啟或關閉所述抽氣管道。
在一些實施方式中,所述閥板包括主體以及連接板,所述主體被構造成凹形結構,以用于與所述抽氣管道配合,所述連接板連接于所述主體的兩側,所述連接板與所述連桿固定連接。
在一些實施方式中,所述主體與所述連接板一體成型。
在一些實施方式中,所述抽氣部還包括密封板,所述密封板設置于所述驅動組件的上方。
在一些實施方式中,所述抽氣部還包括用于固定所述驅動組件的固定部,所述固定部將所述驅動組件固定于所述抽氣管道的側部。
在一些實施方式中,所述硅反應裝置還包括多個進氣部,多個所述進氣部設置在所述腔體的頂部,所述進氣部具有主體,所述主體上設置有凹部,在所述凹部上開設有多個進氣孔,所述進氣孔與所述腔體連通。
在一些實施方式中,所述硅反應裝置還包括上蓋板,所述進氣部與所述上蓋板固定連接,所述上蓋板蓋合于所述腔體的頂部。
在一些實施方式中,所述上蓋板還開設有多個通孔,多個所述通孔與所述凹部上的所述進氣孔連通。
在一些實施方式中,所述進氣部的所述主體的上表面設置有第一配合部,所述上蓋板的下表面設置有第二配合部,所述第一配合部被設置成環繞所述凹部的外周,所述第二配合部被設置成環繞多個所述通孔。
在一些實施方式中,所述第一配合部上設置有多個第一凸起,所述第二配合部上設置有多個第二凸起,所述多個第一凸起與所述多個第二凸起成角度配合。
本發明的有益效果至少包括:
1、將抽氣部設置于腔體的底部的中央并與腔體連通,工藝氣體在腔體的內部沉積的過程中,在被抽氣部從腔體的底部的中央抽出之前,能夠均勻地流經載臺上的硅晶圓的上表面,從而使得硅晶圓表面的氣體均勻分布。
2、通過驅動組件驅動閥板做升降運動,以通過閥板調整抽氣管道的開度,能夠調節腔室的內部的壓力,使得腔室內壓力平穩,從而使得腔室內的工藝氣體均勻地分散在基底表面。
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