[發(fā)明專利]基于光學(xué)目標(biāo)一維曲線波峰特征提取的多目標(biāo)識(shí)別方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210206105.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114580532B | 公開(公告)日: | 2023-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王拯洲;魏際同;郭嘉富;王力;王偉;李剛;弋東馳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G06V10/764 | 分類號(hào): | G06V10/764;G06T5/30;G06T7/187;G06V10/40 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 唐沛 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 光學(xué) 目標(biāo) 曲線 波峰 特征 提取 多目標(biāo) 識(shí)別 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于光學(xué)目標(biāo)一維曲線波峰特征提取的多目標(biāo)識(shí)別方法,滿足了大型激光裝置準(zhǔn)直流程中光學(xué)目標(biāo)識(shí)別處理對(duì)于精度和效率的要求,該方法的主要實(shí)現(xiàn)步驟如下:步驟1:對(duì)采集的原始圖像進(jìn)行二值化;步驟2:數(shù)字形態(tài)學(xué)的膨脹運(yùn)算處理;步驟3:目標(biāo)分離;步驟4:目標(biāo)識(shí)別;目標(biāo)識(shí)別中通過分析兩個(gè)目標(biāo)在圖像X方向或者Y方向上的一維曲線特征指標(biāo)來實(shí)現(xiàn);首先,計(jì)算波峰個(gè)數(shù),如果波峰個(gè)數(shù)為1,則對(duì)應(yīng)光斑為模擬光目標(biāo);如果波峰個(gè)數(shù)大于1,說明水平曲線包含多個(gè)波峰,在左邊上升沿和右面下降沿之間是存在波谷,則該曲線對(duì)應(yīng)的光斑為遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種多光學(xué)目標(biāo)快速識(shí)別方法
技術(shù)背景
大型激光裝置光路對(duì)接準(zhǔn)直是三大準(zhǔn)直流程(光路自準(zhǔn)直、模擬光準(zhǔn)直和光路對(duì)接準(zhǔn)直)之一。三個(gè)準(zhǔn)直流程都采用相同的單元準(zhǔn)直模型實(shí)現(xiàn)光路目標(biāo)的自動(dòng)瞄準(zhǔn),單元準(zhǔn)直模型詳見參考文獻(xiàn)[綜合診斷快速自動(dòng)準(zhǔn)直系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J].光子學(xué)報(bào),2014,43(5):0512005-1~0512005-6.]。
由于大型激光裝置共包含8路光束,在光路對(duì)接準(zhǔn)直過程中,雖然每束光路采集的圖像不同,但每束光路具備相同的特征,只需要一種圖像處理算法就能實(shí)現(xiàn)不同光路光學(xué)目標(biāo)的識(shí)別。但是,對(duì)于三個(gè)不同的準(zhǔn)直流程來說,每個(gè)準(zhǔn)直流程所采集的圖像特征是完全不同的。其不同圖像特征主要表現(xiàn)在:光學(xué)目標(biāo)個(gè)數(shù)、光學(xué)目標(biāo)紋理、置入特殊標(biāo)識(shí)目標(biāo),如十字叉、邊框、小球等。這就需要針對(duì)不同特征的圖像設(shè)計(jì)不同的目標(biāo)識(shí)別算法,才能分別完成大型激光裝置三個(gè)不同準(zhǔn)直流程的光路自動(dòng)準(zhǔn)直工作。
相比其他兩個(gè)準(zhǔn)直流程,光路對(duì)接準(zhǔn)直所處理的準(zhǔn)直圖像具備不同的特點(diǎn),光學(xué)目標(biāo)主要特點(diǎn)總結(jié)如下:
1)準(zhǔn)直圖像包含2個(gè)光學(xué)目標(biāo),分別是模擬光目標(biāo)和遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo);
2)模擬光目標(biāo)光束質(zhì)量較好,為實(shí)心的圓形光斑,光學(xué)目標(biāo)較小,光斑直徑大約40個(gè)像素;
3)遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)光束質(zhì)量較差,光斑形狀及其不規(guī)則,主要表現(xiàn)在:光束存在不確定的紋理、邊緣曲折、非連續(xù)、合計(jì)面積較大;
4)遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)光強(qiáng)分布很不穩(wěn)定,光斑形狀、強(qiáng)弱、位置隨著時(shí)間而變化;
5)模擬光和遠(yuǎn)場(chǎng)各自目標(biāo)的大小、相對(duì)位置、強(qiáng)弱不確定,而且會(huì)隨著光路準(zhǔn)直的過程而變化。
產(chǎn)生以上兩種光學(xué)目標(biāo)是由于各自的光路設(shè)計(jì)不同而引起的。模擬光是由激光器直接產(chǎn)生,光路傳輸較短,經(jīng)過的光學(xué)元件少,光學(xué)元件對(duì)于模擬光的影響較少,模擬光目標(biāo)光束質(zhì)量較好,光斑特征表現(xiàn)為圓形、小尺寸的光學(xué)目標(biāo)。對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)來說,光束經(jīng)過預(yù)放、主放、三倍頻等光學(xué)組件的傳輸,光路傳輸距離較長,各個(gè)光學(xué)組件對(duì)于光束質(zhì)量的影響較大,使得遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)的光束質(zhì)量較差,光斑特征表現(xiàn)為分布不均勻、存在不規(guī)則紋理、邊緣曲折、非連續(xù)分布、合計(jì)面積較大的光學(xué)目標(biāo)。
然而,光路對(duì)接準(zhǔn)直流程中需要根據(jù)兩個(gè)光學(xué)目標(biāo)的相對(duì)位置移動(dòng)對(duì)應(yīng)二維調(diào)整架電機(jī)的XY方向的步數(shù)。在光束收斂的過程中,遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)位置相對(duì)變化較小,主要調(diào)整模擬光目標(biāo)的相對(duì)位置。
因此,對(duì)于模擬光準(zhǔn)直圖像處理算法來說,不僅需要確定兩個(gè)目標(biāo)的相對(duì)位置,而且需要確定哪個(gè)目標(biāo)是遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo),哪個(gè)目標(biāo)是模擬光目標(biāo),也就是說模擬光準(zhǔn)直圖像處理算法需要實(shí)現(xiàn)對(duì)兩個(gè)不同的光學(xué)目標(biāo)的識(shí)別。同時(shí),在光路準(zhǔn)直過程中,為了提高光路對(duì)接準(zhǔn)直的效率,減少光路準(zhǔn)直的時(shí)間,光學(xué)目標(biāo)識(shí)別算法需要同時(shí)滿足精確性和效率的要求。具體地講,光學(xué)目標(biāo)識(shí)別性能為:1)能夠同時(shí)識(shí)別模擬光目標(biāo)和遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo);2)光學(xué)目標(biāo)中心精度小于3個(gè)像素;3)每個(gè)光路光學(xué)目標(biāo)識(shí)別時(shí)間小于10秒。
針對(duì)以上需求,必須提出一種新方法,通過分析和提取兩個(gè)光學(xué)的分布特征來實(shí)現(xiàn)兩個(gè)光學(xué)目標(biāo)的識(shí)別。雖然模擬光目標(biāo)和遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)兩幅圖的特征明顯,但是要區(qū)分兩個(gè)不同光學(xué)目標(biāo),必須使用量化的指標(biāo)來衡量兩幅圖像的各自特征。
因此,目前急需一種方法來量化模擬光目標(biāo)和遠(yuǎn)場(chǎng)目標(biāo)兩幅圖像的區(qū)別,從而實(shí)現(xiàn)兩個(gè)目標(biāo)的精準(zhǔn)識(shí)別。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210206105.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





