[發明專利]缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置

在審

• 申請號: 202210198556.0
• 申請日: 2022-03-01
• 公開（公告）號: CN115015281A
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 小林信次;松田俊介
• 申請（專利權）人: 住友化學株式會社
• 主分類號: G01N21/896
• 分類號: G01N21/896;G01N21/89
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 朱丹

提供缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，在以在直線偏振板層疊有防護膜和剝離膜的光學膜為被檢物的情況下，能檢出直線偏振板光學特性不均。缺陷檢查方法是以具有直線偏振板的光學膜為被檢物的該直線偏振板的缺陷檢查方法，該光學膜依次具有剝離膜、該直線偏振板和防護膜，該防護膜具有取向軸，且被層疊為使該取向軸與該直線偏振板的吸收軸所成角度為0°±30°的范圍，該缺陷檢查方法具有配置工序，沿光軸依次配置具有第1偏振片的第1濾光片、相位差補償板、該光學膜以及具有第2偏振片的第2濾光片，且將該光學膜以使該剝離膜側的表面與該相位差補償板相面對的方向配置，且滿足：(b1)該第2偏振片的吸收軸與該防護膜的該取向軸所成角度為90°±5°的范圍內。

技術領域

本發明涉及以光學膜作為被檢物的直線偏振板的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置。

背景技術

液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置等顯示裝置中使用的偏振板一般通過將偏振片以2片保護膜夾持而形成。偏振板為了貼合于顯示裝置，有時在一方的保護膜層疊有粘合劑層，在另一方的保護膜層疊有用于防止流通時在該保護膜的表面等產生傷痕等的防護膜。在粘合劑層通常層疊有剝離膜。作為偏振片的具體例，可以舉出在經過單軸拉伸的聚乙烯醇系(PVA系)樹脂膜吸附有碘、二色性染料等二色性色素并使該二色性色素取向了的PVA系偏振膜、由包含聚合性液晶化合物的聚合物和二色性色素的液晶固化層形成的偏振片(以下也稱作“液晶偏振片”)等。液晶偏振片通常通過將包含聚合性液晶化合物的組合物涂布于基材膜上并使之固化而形成，有能夠制造薄的偏振片的優點。此種PVA系偏振膜、液晶偏振片如后所述，具有使特定的振動面的直線偏振光穿過的作用，被稱作“直線偏振片”。另外，在該直線偏振片的一面或兩面具有保護膜的偏振板一般被稱作“直線偏振板”。

在偏振板、偏振片中有時在其制造階段產生缺陷。例如，有時產生在偏振片與保護膜之間混入異物、或殘留氣泡的缺陷。另外，液晶偏振片有時因制造時的涂布不均而在偏振板的光學特性方面產生不均。

因而，在將偏振板裝入顯示裝置前的階段，進行用于檢測偏振板的缺陷的檢查。該缺陷的檢查如日本特開平9-229817號公報(專利文獻1)中所示，在作為被檢物的偏振板與光源之間設置偏振濾光片后，使該偏振板或偏振濾光片沿平面方向旋轉，將它們的各自的偏振軸方向設為特定的關系。在偏振軸方向之間相互正交的情況下(即形成正交尼科爾棱鏡的配置的情況下)，穿過偏振濾光片的直線偏振光不透過偏振板。然而，若在偏振板中存在缺陷，則在該部位直線偏振光就會透過，因此該光被檢測到，從而判明缺陷的存在。

另一方面，在偏振板與偏振濾光片的偏振軸方向之間平行的情況下，穿過偏振濾光片的直線偏振光透過偏振板。然而，若在偏振板中存在缺陷，則在該部位直線偏振光被阻擋，因此無法檢測到該光，從而判明缺陷的存在。檢查者通過目視檢測透過偏振板的光、或者利用組合了CCD照相機和圖像處理裝置的圖像分析處理值自動地檢測透過偏振板的光，由此可以進行偏振板的缺陷的有無的檢查。

發明內容

發明所要解決的課題

根據專利文獻1中記載的方法，雖然能夠檢測到像異物、氣泡的混入那樣在光學特性方面與周圍的差異大的局部的缺陷，然而難以檢測到光學特性的不均。

另外，在層疊了防護膜及剝離膜的狀態下，因防護膜及剝離膜的雙折射的影響而難以檢測偏振板的缺陷。

本發明的目的在于，提供缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，在以在直線偏振板層疊有防護膜和剝離膜的光學膜作為被檢物的情況下，能夠檢測直線偏振板的光學特性的不均。

本發明提供以下所示的缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置。

〔1〕一種缺陷檢查方法，是以具有直線偏振板的光學膜作為被檢物的所述直線偏振板的缺陷檢查方法，

所述光學膜依次具有剝離膜、所述直線偏振板、和防護膜，

所述防護膜具有取向軸，且被層疊為所述取向軸與所述直線偏振板的吸收軸所成的角度為0°±30°的范圍，