[發明專利]過濾陰極電弧法制備的高性能透明導電薄膜在審
| 申請號: | 202210190914.3 | 申請日: | 2022-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN114566543A | 公開(公告)日: | 2022-05-31 |
| 發明(設計)人: | 姚建可;唐杰;湯皎寧 | 申請(專利權)人: | 惠州市中德納微科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/43 | 分類號: | H01L29/43;H01L29/49;H01L29/24;H01L29/786;H01L21/34;H01L21/44;C23C14/08;C23C14/32 |
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| 地址: | 516000 廣東省惠州市惠城區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 過濾 陰極 電弧 法制 性能 透明 導電 薄膜 | ||
本發明涉及顯示材料技術領域,且公開了一種過濾陰極電弧法制備的高性能透明導電薄膜,過濾陰極電弧法具有高沉積速率和高離子能量的優點,可以制備高結晶質量、高致密度、優異光電性能和化學穩定性的透明導電薄膜,本發明公開了用FCAD制備高性能ZnO和SnO2基透明導電薄膜和薄膜晶體管的技術。首先,公開了一種高性能ZnOTFT的制備方法,其有源層和電極層分別采用以FCAD在低溫制備的ZnO和AlZnO薄膜;其次,公開了幾種SnO2基TFTs的制備工藝,其有源層可分別采用FCAD在低溫制備的高阻SnO2、Sb或Ta或W摻雜的SnO2薄膜,其電極層可分別采用FCAD在低溫制備的低阻Sb或Ta或W摻雜的SnO2薄膜。
技術領域
本發明涉及顯示材料技術領域,具體為一種過濾陰極電弧法制備的高性能透明導電薄膜。
背景技術
透明導電氧化物薄膜,如常見的In2O3、ZnO、SnO2以及它們的摻雜體系薄膜,能作為平板顯示器中薄膜晶體管的有源層(高電阻值)和電極層(低電阻值)材料,而得到了廣泛的研究和應用。
TCO薄膜的成分、結構、光電性能、化學穩定性等均與薄膜制備方法和工藝條件密切相關。TCO薄膜的制備方法多樣,主要包括磁控濺射,化學氣相沉積,脈沖激光沉積,噴射熱解法,溶膠凝膠法,熱蒸發以及過濾陰極電弧法等。
FCAD制備薄膜過程通常是首先在陰極靶材表面產生并激發出等離子體,然后利用磁控彎管過濾不帶電的大顆粒粒子,經過濾后具有一定能量的等離子體到達襯底表面并冷凝成膜。近年來,FCAD已經被用來制備各類高質量的TCO薄膜,包括ITO、AZO、SnO2、ZnSnOx、ZnO、InCdO等。
與制備高質量TCO薄膜使用的PLD方法相比,FCAD產生相似能量的等離子,所制備的TCO薄膜性能較相近,但是FCAD設備更簡單、成本更低、并能制備大面積的均勻薄膜。與磁控濺射方法相比,FCAD的粒子離化率較高,等離子能量較高,可在較低溫度下制備出具有較優異性能的薄膜。與磁控濺射方法不同,FCAD制備薄膜過程中等離子體平均能量約為40eV,這一能量有利于薄膜生長但不會對薄膜表面產生有害轟擊;而磁控濺射易產生高能量的負離子,這些負離子能量最高能達到幾百電子伏特,在電場加速作用下高速轟擊薄膜表面,將對薄膜表面產生明顯破壞,從而導致薄膜整體性能嚴重下降,為此我們提出了一種過濾陰極電弧法制備的高性能透明導電薄膜。
發明內容
(一)解決的技術問題
針對現有技術的不足,本發明提供了一種過濾陰極電弧法制備的高性能透明導電薄膜,具備具有沉積速率快、襯底溫度較低、膜基結合好、成分易精確調節、工藝重復性較好、可大面積沉積等優點,且所制備的薄膜表面平整度好、厚度均勻、摻雜均勻等優點,解決了上述背景技術中所提出的問題。
(二)技術方案
本發明提供如下技術方案:一種過濾陰極電弧法制備的高性能透明導電薄膜,包括基底和有源層,所述有源層與基底的一側固定,所述有源層頂部的兩側分別固定設有源極和漏極,所述源極和漏極之間固定設有絕緣層,所述絕緣層的頂部固定設有柵極。
優選的,在普通玻璃或塑料基底,用FCAD制備,以Al摻雜4%原子比的AlZn合金為陰極靶材,通氧氣反應,溫度在室溫~400℃。
優選的,在普通玻璃或塑料基底,有源層采用以FCAD制備的ZnO薄膜(高電阻值),以Zn為陰極靶材,通氧氣反應,溫度在室溫~400℃;柵極、源極和漏極采用權利要求1中制備的AlZnO薄膜(電阻值≤500Ω/□)。
優選的,在普通玻璃或塑料基底,用FCAD制備,以Sb摻雜10%原子比的SbSn合金為陰極靶材,通氧氣反應,基底溫度在室溫~400℃。
優選的,在普通玻璃或塑料基底,有源層采用以FCAD制備的SnO2薄膜(高電阻值),以Sn為陰極靶材,通氧氣反應,溫度在室溫~400℃;柵極、源極和漏極采用權利要求3中制備的SbSnO2薄膜(電阻值≤500Ω/□)。
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