[發明專利]散斑圖的質量評價方法、裝置、電子設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202210189640.6
• 申請日: 2022-03-01
• 公開（公告）號: CN114255233B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 劉祺昌;王海彬;化雪誠;李東洋;戶磊
• 申請（專利權）人: 合肥的盧深視科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/557
• 代理公司: 北京智晨知識產權代理有限公司 11584
• 代理人: 張婧

1.一種散斑圖的質量評價方法，其特征在于，包括：

獲取待評價散斑圖；其中，所述待評價散斑圖包括相機在最近工作距離處對目標平面拍攝的第一散斑圖，以及所述相機在最遠工作距離處對所述目標平面拍攝的第二散斑圖；

根據局部二值化算法，提取所述待評價散斑圖中的散斑粒；

根據所述最近工作距離、所述最遠工作距離、所述相機的基線的長度和所述相機的焦距，確定所述第一散斑圖與所述第二散斑圖之間的偏移量；

根據所述偏移量對所述待評價散斑圖進行對齊，并根據所述散斑粒計算所述待評價散斑圖的散度；

若所述散度大于預設的散度閾值，則確定所述待評價散斑圖異常；

所述散斑粒包括所述第一散斑圖中的第一散斑粒和所述第二散斑圖中的第二散斑粒，所述根據所述偏移量對所述待評價散斑圖進行對齊，并根據所述散斑粒計算所述待評價散斑圖的散度，包括：

將所述第二散斑圖整體向右平移d個像素，得到與所述第一散斑圖對齊的第二散斑圖；其中，d為所述偏移量；

從d+1列開始搜索所述第一散斑圖中的第一散斑粒，確定搜索到的所述第一散斑粒中像素點的數量和質心點；其中，所述質心點為搜索到的所述第一散斑粒的外接矩形的中心點；

根據所述質心點在所述對齊的第二散斑圖中的同名點，確定與搜索到的所述第一散斑粒對應的第二散斑粒，并確定所述對應的第二散斑粒中像素點的數量；

根據搜索到的所述第一散斑粒的總數，以及搜索到的各所述第一散斑粒中像素點的數量與各所述對應的第二散斑粒中像素點的數量之間的差值的絕對值之和，計算所述待評價散斑圖的散度；

所述根據所述最近工作距離、所述最遠工作距離、所述相機的基線的長度和所述相機的焦距，確定所述第一散斑圖與所述第二散斑圖之間的偏移量，包括：

在所述第一散斑圖中確定第一目標點，并在所述第二散斑圖中確定與所述第一目標點同名的第二目標點；其中，所述第一目標點與所述相機的散斑投射器之間的距離為所述最近工作距離，所述第二目標點與所述相機的散斑投射器之間的距離為所述最遠工作距離；

根據所述最遠工作距離、所述基線的長度和所述最遠工作距離與所述最近工作距離之間的差值，確定第一目標直線段的長度；其中，所述基線為所述相機的散斑投射器和所述相機的紅外鏡頭之間的直線段，所述第一目標直線段與所述基線平行，所述第一目標直線段的第一端點為所述第一目標點，所述第一目標直線段的第二端點在所述第二目標點與所述相機的紅外鏡頭之間的直線段上；

確定所述第一目標點在所述相機的像平面上的第一投影點，并確定所述第二目標點在所述相機的像平面上的第二投影點；

根據所述第一目標直線段的長度、所述最近工作距離和所述相機的焦距，確定所述第一散斑圖與所述第二散斑圖之間的偏移量；其中，所述第一散斑圖與所述第二散斑圖之間的偏移量即所述第一投影點與所述第二投影點之間的距離。

2.根據權利要求1所述的散斑圖的質量評價方法，其特征在于，通過以下公式，根據搜索到的所述第一散斑粒的總數，以及搜索到的各所述第一散斑粒中像素點的數量與各所述對應的第二散斑粒中像素點的數量之間的差值的絕對值之和，計算所述待評價散斑圖的散度：

div=(Σ|N_1i-N_2i|)/t，i=1,2,…,t

其中，t為搜索到的所述第一散斑粒的總數，N_1i為搜索到的第i個第一散斑粒中像素點的數量，N_2i為搜索到的第i個第一散斑粒對應的第二散斑粒中像素點的數量，div為所述待評價散斑圖的散度。