[發明專利]一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案

在審

• 申請號: 202210188367.5
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN114974385A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 周超;王華
• 申請（專利權）人: 上海華嶺集成電路技術股份有限公司
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00;G11C29/56
• 代理公司: 上海海貝律師事務所 31301
• 代理人: 朱震林

本發明涉及自動化測試系統技術領域，具體為一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案，在測試針卡上安裝flash芯片，由測試機資源控制所述flash芯片數據的寫入和讀取，所述測試機資源程序從prober上讀取到的晶圓數據轉化為二進制數，本發明與現有技術相比，通過在針卡上安裝一顆flash存儲芯片，在測試時將晶圓上每一顆修調前的數據保存在芯片中，極大的確保了數據的準確性。保證了讀取到的修調數據的完整準確，確保了產品量產的良率。

技術領域

本發明涉及自動化測試系統技術領域，具體為一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案。

背景技術

在基于自動化測試系統(ATE)的燒熔絲trim測試中，存在熔絲針影響測試針精度的問題，需要采用分卡測試，采用CP1(trim前測試)—CP2 (trim)—CP3(trim后測試)的流程，其中CP2 trim測試是參照CP1的測試值來修調。

目前采用的方式是CP1測完trim前的值按照晶圓片號、坐標對應關系保存在電腦本地一個文件中，CP2再去讀取這個文件中的值來trim，這樣存在文件容易被修改，誤刪除的風險，從而導致數據的不確定性，影響測試良率。

因此需要設計一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案，通過在測試針卡上安裝一顆flash芯片，將測試的數據直接寫入到芯片中，trim 測試時直接從芯片里面讀取相應的數據，確保了數據的準確性和完整性，確保了產品的良率要求，大大減少了trim錯誤的風險。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案，在測試針卡上安裝flash芯片，由測試機資源控制所述flash芯片數據的寫入和讀取，所述測試機資源程序從prober上讀取到的晶圓數據轉化為二進制數。

晶圓數據包括晶圓片號、XY坐標和對應測試值。

flash芯片設置成寫入模式時，將所述每一顆所述晶圓數據一一寫入。

在修調測試讀取數據時，所述flash芯片設置成讀數據模式，以prober 獲取到的晶圓片號和XY坐標為依據，從flash芯片中讀取對應XY坐標的數據來修調。

flash芯片各管腳通過cable連接到所述測試機資源。

本發明與現有技術相比，通過在針卡上安裝一顆flash存儲芯片，在測試時將晶圓上每一顆修調前的數據保存在芯片中，極大的確保了數據的準確性。保證了讀取到的修調數據的完整準確，確保了產品量產的良率。

附圖說明

無；

具體實施方式

下面將對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

本發明提供一種技術方案：一種基于ATE trim分卡測試存儲數據的優化方案，在測試針卡上安裝flash芯片，由測試機資源控制所述flash芯片數據的寫入和讀取，所述測試機資源程序從prober上讀取到的晶圓數據轉化為二進制數。

晶圓數據包括晶圓片號、XY坐標和對應測試值。

flash芯片設置成寫入模式時，將所述每一顆所述晶圓數據一一寫入。

在修調測試讀取數據時，所述flash芯片設置成讀數據模式，以prober 獲取到的晶圓片號和XY坐標為依據，從flash芯片中讀取對應XY坐標的數據來修調。