[發(fā)明專利]一種基于ATE trim分卡測試存儲數(shù)據(jù)的優(yōu)化方案在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210188367.5 | 申請日: | 2022-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN114974385A | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周超;王華 | 申請(專利權(quán))人: | 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/00 | 分類號: | G11C29/00;G11C29/56 |
| 代理公司: | 上海海貝律師事務(wù)所 31301 | 代理人: | 朱震林 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 ate trim 測試 存儲 數(shù)據(jù) 優(yōu)化 方案 | ||
1.一種基于ATE trim分卡測試存儲數(shù)據(jù)的優(yōu)化方案,其特征在于,在測試針卡上安裝flash芯片,由測試機資源控制所述flash芯片數(shù)據(jù)的寫入和讀取,所述測試機資源程序從prober上讀取到的晶圓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為二進制數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于ATE trim分卡測試存儲數(shù)據(jù)的優(yōu)化方案,其特征在于,所述晶圓數(shù)據(jù)包括晶圓片號、XY坐標(biāo)和對應(yīng)測試值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于ATE trim分卡測試存儲數(shù)據(jù)的優(yōu)化方案,其特征在于,所述flash芯片設(shè)置成寫入模式時,將所述每一顆所述晶圓數(shù)據(jù)一一寫入。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于ATE trim分卡測試存儲數(shù)據(jù)的優(yōu)化方案,其特征在于,在修調(diào)測試讀取數(shù)據(jù)時,所述flash芯片設(shè)置成讀數(shù)據(jù)模式,以prober獲取到的晶圓片號和XY坐標(biāo)為依據(jù),從flash芯片中讀取對應(yīng)XY坐標(biāo)的數(shù)據(jù)來修調(diào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于ATE trim分卡測試存儲數(shù)據(jù)的優(yōu)化方案,其特征在于,所述flash芯片各管腳通過cable連接到所述測試機資源。
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