[發明專利]PFC硬件電路的測試方法、裝置及介質在審
| 申請號： | 202210188274.2 | 申請日： | 2022-02-28 |
| 公開（公告）號： | CN114563688A | 公開（公告）日： | 2022-05-31 |
| 發明（設計）人： | 單聯瑜 | 申請（專利權）人： | 北京小米移動軟件有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 王曉霞 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | pfc 硬件 電路 測試 方法 裝置 介質 | ||
本公開涉及一種PFC硬件電路的測試方法、裝置及介質，所述方法包括：響應于接收到的測試指令，確定測試進程，所述測試進程至少用于對PFC硬件電路包括的電流采樣電路的輸出電壓、和/或對所述PFC硬件電路包括的退磁保護電路的退磁保護值進行驗證；執行所述測試進程，得到測試結果，所述測試結果用于反映所述PFC硬件電路是否存在與硬件相關的問題。通過本公開的PFC硬件電路的測試方法可以實現PFC硬件電路準確性的自動測試，提高測試效率。
技術領域
本公開涉及空調控制技術領域，尤其涉及一種PFC硬件電路的測試方法、裝置及介質。
背景技術
功率因數校正(PFC，Power Factor Correction)是空調的重要控制部分，PFC的穩定性需要PFC包括的硬件電路具備準確性。相關技術中，針對PFC的硬件電路，需要搭配相應的測試電路，以測試PFC的硬件電路的準確性，該準確性的測試過程需要耗費大量的人力，測試效率低。
發明內容
為克服相關技術中存在的問題，本公開提供一種PFC硬件電路的測試方法、裝置及介質。
根據本公開實施例的第一方面，提供一種PFC硬件電路的測試方法，包括：
響應于接收到的測試指令，確定測試進程，所述測試進程至少用于對PFC硬件電路包括的電流采樣電路的輸出電壓、和/或對所述PFC硬件電路包括的退磁保護電路的退磁保護值進行驗證；
執行所述測試進程，得到測試結果，所述測試結果用于反映所述PFC硬件電路是否存在與硬件相關的問題。
可選地，所述測試進程用于對所述PFC硬件電路包括的所述電流采樣電路的所述輸出電壓進行驗證，所述執行所述測試進程，得到測試結果，包括：
獲取所述電流采樣電路的所述輸出電壓；
基于預設電壓值和第一預設誤差裕量，確定所述輸出電壓是否滿足第一預設條件；
在所述輸出電壓不滿足所述第一預設條件的情況下，得到反映所述PFC硬件電路中存在硬件使用錯誤的所述測試結果。
可選地，所述基于預設電壓值和第一預設誤差裕量，確定所述輸出電壓是否滿足第一預設條件，包括：
對所述預設電壓值和所述第一預設誤差裕量進行求差，得到第一數值，以及對所述預設電壓值和所述第一預設誤差裕量進行求和，得到第二數值；
在所述輸出電壓小于所述第一數值或大于所述第二數值的情況下，確定所述輸出電壓不滿足所述第一預設條件。
可選地，所述測試進程用于對所述PFC硬件電路包括的所述退磁保護電路的所述退磁保護值進行驗證，所述執行所述測試進程，得到測試結果，包括：
將所述PFC硬件電路的輸出電流增大至觸發所述退磁保護值，以啟動所述退磁保護電路的硬件退磁保護功能；
獲取在啟動所述硬件退磁保護功能后的所述輸出電流的電流變化，確定所述電流變化中的電流峰值；
基于所述退磁保護值和第二預設誤差裕量，確定所述電流峰值是否滿足第二預設條件；
在所述電流峰值不滿足所述第二預設條件的情況下，得到反映所述PFC硬件電路中存在硬件的所述退磁保護值不正確的所述測試結果。
可選地，所述PFC硬件電路還設置有軟件退磁保護功能，所述將所述PFC硬件電路的輸出電流增大至觸發所述退磁保護值，包括：
關閉所述軟件退磁保護功能，將所述PFC硬件電路的所述輸出電流增大至觸發所述退磁保護值。
可選地，所述將所述PFC硬件電路的所述輸出電流增大至觸發所述退磁保護值，包括：
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