[發明專利]PFC硬件電路的測試方法、裝置及介質

在審

• 申請號: 202210188274.2
• 申請日: 2022-02-28
• 公開（公告）號: CN114563688A
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 單聯瑜
• 申請（專利權）人: 北京小米移動軟件有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 王曉霞

1.一種PFC硬件電路的測試方法，其特征在于，包括：

響應于接收到的測試指令，確定測試進程，所述測試進程至少用于對PFC硬件電路包括的電流采樣電路的輸出電壓、和/或對所述PFC硬件電路包括的退磁保護電路的退磁保護值進行驗證；

執行所述測試進程，得到測試結果，所述測試結果用于反映所述PFC硬件電路是否存在與硬件相關的問題。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試進程用于對所述PFC硬件電路包括的所述電流采樣電路的所述輸出電壓進行驗證，所述執行所述測試進程，得到測試結果，包括：

獲取所述電流采樣電路的所述輸出電壓；

基于預設電壓值和第一預設誤差裕量，確定所述輸出電壓是否滿足第一預設條件；

在所述輸出電壓不滿足所述第一預設條件的情況下，得到反映所述PFC硬件電路中存在硬件使用錯誤的所述測試結果。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于預設電壓值和第一預設誤差裕量，確定所述輸出電壓是否滿足第一預設條件，包括：

對所述預設電壓值和所述第一預設誤差裕量進行求差，得到第一數值，以及對所述預設電壓值和所述第一預設誤差裕量進行求和，得到第二數值；

在所述輸出電壓小于所述第一數值或大于所述第二數值的情況下，確定所述輸出電壓不滿足所述第一預設條件。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試進程用于對所述PFC硬件電路包括的所述退磁保護電路的所述退磁保護值進行驗證，所述執行所述測試進程，得到測試結果，包括：

將所述PFC硬件電路的輸出電流增大至觸發所述退磁保護值，以啟動所述退磁保護電路的硬件退磁保護功能；

獲取在啟動所述硬件退磁保護功能后的所述輸出電流的電流變化，確定所述電流變化中的電流峰值；

基于所述退磁保護值和第二預設誤差裕量，確定所述電流峰值是否滿足第二預設條件；

在所述電流峰值不滿足所述第二預設條件的情況下，得到反映所述PFC硬件電路中存在硬件的所述退磁保護值不正確的所述測試結果。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述PFC硬件電路還設置有軟件退磁保護功能，所述將所述PFC硬件電路的輸出電流增大至觸發所述退磁保護值，包括：

關閉所述軟件退磁保護功能，將所述PFC硬件電路的所述輸出電流增大至觸發所述退磁保護值。

6.根據權利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述將所述PFC硬件電路的所述輸出電流增大至觸發所述退磁保護值，包括：

將所述PFC硬件電路包括的電感量參數擴大預設倍數，以將所述PFC硬件電路的所述輸出電流增大至觸發所述退磁保護值。

7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述退磁保護值和第二預設誤差裕量，確定所述電流峰值是否滿足第二預設條件，包括：

對所述退磁保護值和所述第二預設誤差裕量進行求差，得到第三數值，以及對所述退磁保護值和所述第二預設誤差裕量進行求和，得到第四數值；

在所述電流峰值小于所述第三數值或大于所述第四數值的情況下，確定所述電流峰值不滿足所述第二預設條件。

8.一種PFC硬件電路的測試裝置，其特征在于，執行權利要求1-7任一所述的控制方法，包括：

確定模塊，被配置為響應于接收到的測試指令，確定測試進程，所述測試進程至少用于對PFC硬件電路包括的電流采樣電路的輸出電壓、和/或對所述PFC硬件電路包括的退磁保護電路的退磁保護值進行驗證；

執行模塊，被配置為執行所述測試進程，得到測試結果，所述測試結果用于反映所述PFC硬件電路是否存在與硬件相關的問題。