[發明專利]電子芯片低溫測試裝置

在審

• 申請號: 202210182748.2
• 申請日: 2022-02-26
• 公開（公告）號: CN114545207A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 黃晨紅
• 申請（專利權）人: 愛克普傳熱技術（無錫）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/02;H05K7/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：包括保溫箱(1)，所述保溫箱(1)中設置有儲液箱(2)、泵(3)、制冷機(4)、固定冷板(5)、活動冷板(6)，所述儲液箱(2)內儲存有冷卻液，所述泵(3)的進液口與所述儲液箱(2)連通，所述固定冷板(5)和所述活動冷板(6)均內置有冷卻管路(7)，所述泵(3)的出液端與所述固定冷板(5)的所述冷卻管路(7)進液端連通，所述制冷機(4)用于對所述固定冷板(5)進行冷卻，所述活動冷板(6)的所述冷卻管路(7)進液端通過波紋軟管與所述固定冷板(5)的所述冷卻管路(7)出液端連通，所述活動冷板(6)的所述冷卻管路(7)出液端通過波紋軟管與所述儲液箱(2)連通，所述保溫箱(1)的頂部開有容納口(13)，所述活動冷板(6)可從所述容納口(13)中穿出所述保溫箱(1)。

2.根據權利要求1所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述活動冷板(6)設置有多個，所述容納口(13)開設有多個，所述容納口(13)與所述活動冷板(6)一一對應設置。

3.根據權利要求2所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述活動冷板(6)的所述冷卻管路(7)的進液端設置有第一閥門(61)，所述活動冷板(6)的所述冷卻管路(7)的出液端設置有第二閥門(62)。

4.根據權利要求3所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述固定冷板(5)的所述冷卻管路(7)的出液端連通有連接管(52)，所述連接管(52)連通于所述儲液箱(2)，所訴連接管(52)上設置有第三閥門(53)。

5.根據權利要求3所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述保溫箱(1)內設置有與所述活動冷板(6)一一對應的活塞組件(8)，所述活塞組件(8)包括固定套管(81)、活動桿(82)，所述固定套管(81)呈豎向設置，所述活動桿(82)滑動穿設于所述固定套管(81)內，所述活動桿(82)的頂端可伸出所述固定套管(81)，所述活動桿(82)的頂端連接有推板(85)，所述活動冷板(6)放置在所述推板(85)的上表面，所述活動冷板(6)的所述冷卻管路(7)的進液端連通有加壓軟管(86)，所述加壓軟管(86)連通于所述固定套管(81)的底部內腔，所述第一閥門(61)位于所述加壓軟管(86)與所述固定冷板(5)之間，所述固定套管(81)位于所述儲液箱(2)的上方，所述固定套管(81)的底部與所述儲液箱(2)之間連通有泄壓管(83)，所述泄壓管(83)上設置有第四閥門(84)。

6.根據權利要求5所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述推板(85)的上表面開有放置槽(851)，所述活動冷板(6)放置在所述放置槽(851)內。

7.根據權利要求5所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述保溫箱(1)的頂部滑動連接有與所述容納口(13)一一對應的密封板(14)，所述密封板(14)與所述推板(85)之間連接有聯動組件(9)，所述推板(85)上升時，所述推板(85)通過聯動組件(9)驅動所述密封板(14)開啟所述容納口(13)，所述推板(85)下降時，所述推板(85)通過聯動組件(9)驅動所述密封板(14)關閉所述容納口(13)。

8.根據權利要求7所述的電子芯片低溫測試裝置，其特征在于：所述聯動組件(9)包括第一驅動塊(91)、第二驅動塊(92)，所述第一驅動塊(91)固定連接于所述推板(85)，所述第二驅動塊(92)固定連接于所述密封板(14)，所述第一驅動塊(91)的頂部設置有第一驅動斜面(911)，所述第一驅動斜面(911)的底部朝向遠離所述活動冷板(6)的方向延伸，所述第二驅動塊(92)的底部設置有第二驅動斜面(921)，所述第一驅動斜面(911)于所述第二驅動斜面(921)滑動貼合，所述第一驅動塊(91)和所述第二驅動塊(92)滑移連接，所述密封板(14)滑動貼合于所述保溫箱(1)的外部頂面。