[發(fā)明專利]電子芯片低溫測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210182748.2
• 申請(qǐng)日: 2022-02-26
• 公開（公告）號(hào): CN114545207A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃晨紅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 愛(ài)克普傳熱技術(shù)（無(wú)錫）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/02;H05K7/20
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明涉及電子芯片測(cè)試的領(lǐng)域，尤其是涉及一種電子芯片低溫測(cè)試裝置，包括保溫箱，所述保溫箱中設(shè)置有儲(chǔ)液箱、泵、制冷機(jī)、固定冷板、活動(dòng)冷板。所述儲(chǔ)液箱內(nèi)儲(chǔ)存有冷卻液，所述泵的進(jìn)液口與所述儲(chǔ)液箱連通，所述固定冷板和所述活動(dòng)冷板均內(nèi)置有冷卻管路。所述活動(dòng)冷板的所述冷卻管路進(jìn)液端通過(guò)波紋軟管與所述固定冷板的所述冷卻管路出液端連通，所述活動(dòng)冷板的所述冷卻管路出液端通過(guò)波紋軟管與所述儲(chǔ)液箱連通。所述保溫箱的頂部開有容納口，所述活動(dòng)冷板可從所述容納口中穿出所述保溫箱。本申請(qǐng)具有提高電子芯片低溫測(cè)試的精準(zhǔn)度的效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子芯片測(cè)試的領(lǐng)域，尤其是涉及一種電子芯片低溫測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

電子芯片在工業(yè)自動(dòng)控制領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，因此電子芯片的質(zhì)量關(guān)乎工業(yè)生產(chǎn)線的順利工作。電子芯片的工作環(huán)境復(fù)雜多樣，有時(shí)需要耐低溫，因此在電子芯片在出廠前，需要對(duì)電子芯片進(jìn)行低溫測(cè)試。

通常電子芯片的低溫測(cè)試方法為將冷板放置在制冷柜中進(jìn)行冷卻，將冷板冷卻到指定溫度后，然后將冷板從制冷柜柜中取出，將電子芯片放置在冷板上，從而對(duì)電子芯片進(jìn)行低溫測(cè)試。

針對(duì)上述中的相關(guān)技術(shù)，發(fā)明人認(rèn)為：將冷板從制冷柜中取出后，冷板的溫度受室溫的影響會(huì)逐漸升高，從而導(dǎo)致冷板的溫度不恒定，無(wú)法對(duì)電子芯片進(jìn)行精確測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

為了提高電子芯片低溫測(cè)試的精準(zhǔn)度，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電子芯片低溫測(cè)試裝置。

本申請(qǐng)?zhí)峁┑囊环N電子芯片低溫測(cè)試裝置，采用如下的技術(shù)方案：

一種電子芯片低溫測(cè)試裝置，包括保溫箱，所述保溫箱中設(shè)置有儲(chǔ)液箱、泵、制冷機(jī)、固定冷板、活動(dòng)冷板，所述儲(chǔ)液箱內(nèi)儲(chǔ)存有冷卻液，所述泵的進(jìn)液口與所述儲(chǔ)液箱連通，所述固定冷板和所述活動(dòng)冷板均內(nèi)置有冷卻管路，所述泵的出液端與所述固定冷板的所述冷卻管路進(jìn)液端連通，所述制冷機(jī)用于對(duì)所述固定冷板進(jìn)行冷卻，所述活動(dòng)冷板的所述冷卻管路進(jìn)液端通過(guò)波紋軟管與所述固定冷板的所述冷卻管路出液端連通，所述活動(dòng)冷板的所述冷卻管路出液端通過(guò)波紋軟管與所述儲(chǔ)液箱連通，所述保溫箱的頂部開有容納口，所述活動(dòng)冷板可從所述容納口中穿出所述保溫箱。

通過(guò)采用上述技術(shù)方案，泵將儲(chǔ)液箱中的冷卻液抽出，使得冷卻液一次通過(guò)泵、固定冷板中的冷卻管路、活動(dòng)冷板中的冷卻管路后回流至儲(chǔ)液箱中，形成一個(gè)冷卻液循環(huán)回路。制冷機(jī)對(duì)固定冷板進(jìn)行降溫時(shí)，流經(jīng)固定冷板的冷卻管路的冷卻液受到冷卻，從而使得低溫的冷卻液對(duì)活動(dòng)冷板進(jìn)行降溫，通過(guò)將活動(dòng)冷板從容納口中拿出，使得活動(dòng)冷板放置在保溫箱的外部，將電子芯片放置在活動(dòng)冷板上，從而對(duì)電子芯片進(jìn)行低溫測(cè)試。由于冷卻液一直處于循環(huán)狀態(tài)，從而活動(dòng)冷板的低溫狀態(tài)恒定，提高了電子芯片低溫測(cè)試的精準(zhǔn)度。

可選的，所述活動(dòng)冷板設(shè)置有多個(gè)，所述容納口開設(shè)有多個(gè)，所述容納口與所述活動(dòng)冷板一一對(duì)應(yīng)設(shè)置。

通過(guò)采用上述技術(shù)方案，多個(gè)活動(dòng)冷板的設(shè)置，便于對(duì)多個(gè)電子芯片進(jìn)行同時(shí)低溫測(cè)試，提高了工作效率。

可選的，所述活動(dòng)冷板的所述冷卻管路的進(jìn)液端設(shè)置有第一閥門，所述活動(dòng)冷板的所述冷卻管路的出液端設(shè)置有第二閥門。

通過(guò)采用上述技術(shù)方案，利用第一閥門和第二閥門控制冷卻液在活動(dòng)冷板的冷卻管路內(nèi)的流動(dòng)，從而可根據(jù)需要測(cè)試的電子芯片的數(shù)量，來(lái)控制不同數(shù)量的活動(dòng)冷板進(jìn)行工作。

可選的，所述固定冷板的所述冷卻管路的出液端連通有連接管，所述連接管連通于所述儲(chǔ)液箱，所訴連接管上設(shè)置有第三閥門。