[發(fā)明專利]一種區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210179585.2
• 申請(qǐng)日: 2022-02-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114660067A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-06-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 錢康
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門聚視智創(chuàng)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88;G01N21/94
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明公開(kāi)一種區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法，首先通過(guò)架設(shè)線掃相機(jī)組構(gòu)建的掃描通道來(lái)掃描待檢測(cè)工件表面以獲取其立體構(gòu)型，后進(jìn)行視覺(jué)查驗(yàn)，標(biāo)記缺陷位置，隨后在掃描通道內(nèi)架設(shè)激光反射式探傷光源，對(duì)標(biāo)記出的缺陷位置進(jìn)行近點(diǎn)探傷，近點(diǎn)探傷時(shí)，將激光反射式探傷光源牽引至缺陷位置正上方，發(fā)出若干道垂直于缺陷所在位置的切面的平行激光射線，為激光反射式探傷光源底部配置配合的反射光接受面，當(dāng)反射光接受面接收到缺陷位置反射的激光時(shí)，判斷接收到的反射光范圍大小，當(dāng)接收到的反射光范圍小于平行激光射線的發(fā)射范圍時(shí)則說(shuō)明此處缺陷位置為真實(shí)缺陷，否則為臟污缺陷，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于可以在檢測(cè)過(guò)程中直接區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域，具體地說(shuō)，是一種區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在現(xiàn)有的工業(yè)質(zhì)檢技術(shù)當(dāng)中，工件的缺陷檢測(cè)通常是將工件固定在檢驗(yàn)機(jī)臺(tái)上，由工業(yè)相機(jī)在不同尺寸的視野下，按照特定軌跡依次進(jìn)行掃描識(shí)別，并通過(guò)集成算法對(duì)掃描識(shí)別出的缺陷進(jìn)行類別檢測(cè)，其中大部分缺陷可以被正確識(shí)別并檢測(cè)出其所屬缺陷類別。

但采用工業(yè)相機(jī)來(lái)識(shí)別加工缺陷時(shí)，由于識(shí)別動(dòng)作是在二維環(huán)境下進(jìn)行的，可以很清楚地識(shí)別出缺陷區(qū)域的位置和面積，但對(duì)缺陷的深度，即顯性程度的識(shí)別能力較弱。

特別是實(shí)質(zhì)缺陷和臟污缺陷，在平面取景的工業(yè)相機(jī)檢測(cè)下所獲得的缺陷圖樣均為平面圖樣，對(duì)于缺損型的實(shí)質(zhì)損傷無(wú)法從垂直方向上體現(xiàn)其損傷程度，無(wú)法和臟污類缺陷實(shí)現(xiàn)有效區(qū)分，因此后續(xù)針對(duì)性的處理需要對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行人工復(fù)檢才能確認(rèn)后續(xù)對(duì)缺陷的修復(fù)方法，工序復(fù)雜，降低了工作效率。

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明目的：本發(fā)明目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法。

技術(shù)方案：本發(fā)明所述一種區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷的光學(xué)檢測(cè)方法，包括以下步驟：

S1、架設(shè)線掃相機(jī)組構(gòu)建掃描通道并通過(guò)掃描通道對(duì)待檢測(cè)工件表面進(jìn)行視覺(jué)掃描，獲取待檢測(cè)工件表面的立體構(gòu)型；

S2、對(duì)立體構(gòu)型表面進(jìn)行視覺(jué)查驗(yàn)，標(biāo)記缺陷位置；

S3、在掃描通道內(nèi)架設(shè)激光反射式探傷光源，對(duì)標(biāo)記出的缺陷位置進(jìn)行近點(diǎn)探傷；

S4、近點(diǎn)探傷時(shí)，將激光反射式探傷光源牽引至缺陷位置正上方，發(fā)出若干道垂直于缺陷所在位置的切面的平行激光射線；

S5、為激光反射式探傷光源底部配置配合的反射光接受面，當(dāng)反射光接受面接收到缺陷位置反射的激光時(shí)，判斷接收到的反射光范圍大小，當(dāng)接收到的反射光范圍小于平行激光射線的發(fā)射范圍時(shí)則說(shuō)明此處缺陷位置為真實(shí)缺陷，當(dāng)接收到的反射光范圍大于平行激光射線的發(fā)射范圍時(shí)則說(shuō)明此處缺陷位置為臟污缺陷。

作為優(yōu)選的，S1中構(gòu)建的掃描通道配合待檢測(cè)工件表面構(gòu)型進(jìn)行客制化搭建。

作為優(yōu)選的，S1中獲取立體構(gòu)型的同時(shí)對(duì)立體構(gòu)型在水平方向上留存配合的投影平面，S2中將獲取的缺陷位置在投影平面上進(jìn)行輔助標(biāo)記。

作為優(yōu)選的，S4中激光反射式探傷光源采用輔助標(biāo)記作為牽引中的定位點(diǎn)。

本發(fā)明相比于現(xiàn)有技術(shù)具有以下有益效果：可以在檢測(cè)過(guò)程中直接區(qū)分臟污和真實(shí)缺陷，無(wú)需在視覺(jué)檢測(cè)后再通過(guò)人工復(fù)檢確認(rèn)是臟污和真實(shí)缺陷，有效提高了檢測(cè)和修復(fù)效率。

具體實(shí)施方式

下面將對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。