[發明專利]一種區分臟污和真實缺陷的光學檢測方法在審
| 申請號： | 202210179585.2 | 申請日： | 2022-02-25 |
| 公開（公告）號： | CN114660067A | 公開（公告）日： | 2022-06-24 |
| 發明（設計）人： | 錢康 | 申請（專利權）人： | 廈門聚視智創科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88;G01N21/94 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 361000 福建省廈門市*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 區分 臟污 真實 缺陷 光學 檢測 方法 | ||
1.一種區分臟污和真實缺陷的光學檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：
S1、架設線掃相機組構建掃描通道并通過掃描通道對待檢測工件表面進行視覺掃描，獲取待檢測工件表面的立體構型；
S2、對立體構型表面進行視覺查驗，標記缺陷位置；
S3、在掃描通道內架設激光反射式探傷光源，對標記出的缺陷位置進行近點探傷；
S4、近點探傷時，將激光反射式探傷光源牽引至缺陷位置正上方，發出若干道垂直于缺陷所在位置的切面的平行激光射線；
S5、為激光反射式探傷光源底部配置配合的反射光接受面，當反射光接受面接收到缺陷位置反射的激光時，判斷接收到的反射光范圍大小，當接收到的反射光范圍小于平行激光射線的發射范圍時則說明此處缺陷位置為真實缺陷，當接收到的反射光范圍大于平行激光射線的發射范圍時則說明此處缺陷位置為臟污缺陷。
2.根據權利要求1所述的一種區分臟污和真實缺陷的光學檢測方法，其特征在于：S1中構建的掃描通道配合待檢測工件表面構型進行客制化搭建。
3.根據權利要求1所述的一種區分臟污和真實缺陷的光學檢測方法，其特征在于：S1中獲取立體構型的同時對立體構型在水平方向上留存配合的投影平面，S2中將獲取的缺陷位置在投影平面上進行輔助標記。
4.根據權利要求3所述的一種區分臟污和真實缺陷的光學檢測方法，其特征在于：S4中激光反射式探傷光源采用輔助標記作為牽引中的定位點。
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