[發(fā)明專利]基于透射成像的檢測方法和檢測裝置以及檢測系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210172480.4
• 申請日: 2022-02-24
• 公開（公告）號: CN114563426A
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙中瑋;冉友明;吳劍鋒;劉晨
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州睿影科技有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01V5/00
• 代理公司: 北京德琦知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11018
• 代理人: 陳舒維;宋志強

本申請?zhí)峁┝嘶谕干涑上竦臋z測方法和檢測裝置以及檢測系統(tǒng)。基于本申請，可以利用第一透射成像組件對待檢對象處于第一檢測位置的目標(biāo)部位透射成像，第一透射成像組件產(chǎn)生的第一透射成像數(shù)據(jù)，可以用于調(diào)節(jié)第二透射成像組件所使用的透射成像參數(shù)配置集，并且，當(dāng)該目標(biāo)部位到達(dá)第二檢測位置時，第二透射成像組件可以基于透射成像參數(shù)配置集對該目標(biāo)部位透射成像，得到用于生成檢測圖像的第二透射成像數(shù)據(jù)。由于第二透射成像數(shù)據(jù)是基于與目標(biāo)透射部位相適配的透射成像參數(shù)配置集產(chǎn)生的，因而有助于由其表征的目標(biāo)部位的內(nèi)部構(gòu)造信息在檢測圖像中的呈現(xiàn)效果達(dá)到期望的清晰度和對比度等指標(biāo)，從而有助于提高檢測圖像的成像質(zhì)量。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及檢測領(lǐng)域，特別涉及一種基于透射成像的檢測方法、一種基于透射成像的檢測裝置、以及一種基于透射成像的檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)

利用諸如X射線等透射射線對待檢對象透射成像，可以獲得待檢對象的內(nèi)部構(gòu)造信息。例如，在安檢領(lǐng)域，待檢對象可以為包裹或便攜箱包，通過透射成像可以檢測出包裹或便攜箱包內(nèi)部的危險物品或有害物品。再例如，在工業(yè)檢測領(lǐng)域，待檢測對象可以為食品或工業(yè)零部件，利用透射成像可以檢測出食品內(nèi)部的異物或工業(yè)零部件的結(jié)構(gòu)缺陷。

透射成像的成像質(zhì)量受透射成像參數(shù)的影響，若配置的透射成像參數(shù)不能使透射射線適當(dāng)?shù)卮┩复龣z對象后觸發(fā)合理的感應(yīng)成像，則，待檢對象的內(nèi)部構(gòu)造信息在檢測圖像中的呈現(xiàn)效果不能達(dá)到期望的清晰度和對比度等指標(biāo)，導(dǎo)致檢測圖像的質(zhì)量不高。

因此，如何通過配置透射成像參數(shù)，改善透射成像的成像質(zhì)量，成為現(xiàn)有技術(shù)中有待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請的各實施例分別提供了一種基于透射成像的檢測方法、一種基于透射成像的檢測裝置、以及一種基于透射成像的檢測系統(tǒng)，有助于改善透射成像的成像質(zhì)量。

在一個實施例中，提供了一種基于透射成像的檢測方法，包括：

獲取第一透射成像組件對待檢對象在第一檢測位置處的目標(biāo)部位透射成像得到的第一透射成像數(shù)據(jù)，其中，所述第一檢測位置為所述目標(biāo)部位到達(dá)第二檢測位置之前的前置檢測位置；

基于所述第一透射成像數(shù)據(jù)，為所述第二檢測位置對應(yīng)的第二透射成像組件確定與所述目標(biāo)部位相適配的透射成像參數(shù)配置集；

控制所述透射成像參數(shù)配置集在所述第二透射成像組件的配置生效，以使得所述第二透射成像組件響應(yīng)于所述目標(biāo)部位從所述第一檢測位置到達(dá)所述第二檢測位置，基于所述透射成像參數(shù)配置集對所述目標(biāo)部位透射成像，得到用于生成所述待檢對象的檢測圖像的第二透射成像數(shù)據(jù)。

可選地，所述基于所述第一透射成像數(shù)據(jù)，為所述第二檢測位置對應(yīng)的第二透射成像組件確定與所述目標(biāo)部位相適配的透射成像參數(shù)配置集，包括：基于所述第一透射成像數(shù)據(jù)，確定所述待檢對象在所述目標(biāo)部位的對象部位屬性；以及，基于所述對象部位屬性，確定所述透射成像參數(shù)配置集。

可選地，所述對象部位屬性包括部位衰減屬性和部位構(gòu)造屬性中的至少之一，其中，所述部位衰減屬性用于表征透射射線在所述目標(biāo)部位的衰減能力，并且，所述部位構(gòu)造屬性用于表征所述目標(biāo)部位物質(zhì)構(gòu)造；所述基于所述第一透射成像數(shù)據(jù)，確定所述待檢對象在所述目標(biāo)部位的對象部位屬性，包括：基于所述第一透射成像數(shù)據(jù)，確定所述第一透射成像組件產(chǎn)生的透射射線在所述目標(biāo)部位的部位衰減程度、所述目標(biāo)部位的等效原子序數(shù)、以及所述目標(biāo)部位的部位構(gòu)造拓?fù)渲械闹辽僦唬换谒霾课凰p程度、所述等效原子序數(shù)以及所述部位構(gòu)造拓?fù)渲械闹辽僦唬_定所述部位衰減屬性和所述部位構(gòu)造屬性中的至少之一。