[發明專利]圓檢測方法、裝置、設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202210165852.0 | 申請日: | 2022-02-23 |
| 公開(公告)號: | CN114627057A | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發明(設計)人: | 林德育;甘杰家;劉茂;王祥;高云峰 | 申請(專利權)人: | 大族激光科技產業集團股份有限公司;大族激光智能裝備集團有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518057 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 方法 裝置 設備 存儲 介質 | ||
本發明公開了一種圓檢測方法、裝置、設備及存儲介質,其中圓檢測方法包括步驟:創建形狀為非封閉圓環的搜索區域;將搜索區域移動到圖像上待檢測的位置;檢測圖像上位于搜索區域內的目標圓或目標圓弧;輸出目標圓或目標圓弧的參數信息。本發明在圖像中選擇一個存在目標圓或目標圓弧的局部區域,這個局部區域是圖像分析所關注的重點,然后通過創建搜索區域,并移動搜索區域到該局部區域,即可實現該局部位置的圓檢測。相比于圖像的整體檢測,可以減少檢測所需時間,并提高檢測精度。
技術領域
本發明涉及圖像處理技術領域,特別涉及一種圓檢測方法、裝置、設備及存儲介質。
背景技術
在工業領域的應用中,給定形狀圖像的檢測是經常碰到的一類問題,而圓檢測是其中最常見的一種檢測情況,比如電子行業PCB板的圓孔定位、焊接板材的圓環定位以及圓形管材零件的多段弧線擬合等等。
目前對圖像進行圓檢測時,是將圖像中所有的圓全部示出,然而計算圖像中全部的圓所消耗的資源和時間較多,導致無法快速且準確的獲取所需的圓,從而影響圓檢測的效率。
發明內容
鑒于上述現有技術的不足之處,本發明提供一種圓檢測方法,可以提高圓檢測的效率。
本實施例采取了以下技術方案:
一種圓檢測方法,包括步驟:
創建形狀為非封閉圓環的搜索區域;
將搜索區域移動到圖像上待檢測的位置;
檢測圖像上位于搜索區域內的目標圓或目標圓弧;
輸出目標圓或目標圓弧的參數信息。
進一步的,在所述圓檢測方法中,所述創建形狀為非封閉圓環的搜索區域的步驟包括:
獲取非封閉圓環的圓心、內圓半徑、外圓半徑、起始角度以及末端角度;
計算非封閉圓環的內圓的起點和終點,繪制內圓的圓弧曲線;
計算非封閉圓環的外圓的起點和終點,繪制外圓的圓弧曲線;
連接內圓的圓弧曲線和外圓的圓弧曲線,形成形狀為非封閉圓環的搜索區域。
進一步的,在所述圓檢測方法中,所述檢測圖像上位于搜索區域內的目標圓或目標圓弧的步驟包括:
在圖像上構建搜索區域的包圍矩形;
獲取包圍矩形內的邊緣圖像;
將邊緣圖像中坐標不在搜索區域內的像素點的灰度值置為0。
進一步的,在所述圓檢測方法中,所述檢測圖像上位于搜索區域內的目標圓或目標圓弧的步驟包括:
繞非封閉圓環的圓心以預設間隔角度生成一組掃描直線;
將掃描直線與邊緣圖像進行相交運算,并生成相交點集;
根據預設條件篩選相交點集,以獲取目標點集;
根據目標點集擬合形成目標圓。
進一步的,在所述圓檢測方法中,所述根據預設條件篩選相交點集,以獲取目標點集的步驟包括:
計算每個相交點到非封閉圓環的圓心的距離,按照預設的方向參數,選擇距離圓心最近的相交點或距離圓心最遠的相交點集,
采用最大一致性采樣方法,篩選出在同一個圓上相交點數量最多的相交點集,即為目標點集。
進一步的,在所述圓檢測方法中,所述采用最大一致性采樣方法,篩選出在同一個圓上相交點數量最多的相交點集的步驟包括:
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