[發明專利]接口測試方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210158708.4
• 申請日: 2022-02-21
• 公開（公告）號: CN114546854A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 蘭海濤
• 申請（專利權）人: 深圳壹賬通智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳市沃德知識產權代理事務所(普通合伙) 44347
• 代理人: 高杰;于志光

本發明涉及接口測試技術，揭露一種接口測試方法，包括：提取接口字段迭代請求中的迭代接口標識，根據接口標識及將與接口標識相同的迭代接口標識對應的接口配置參數確定為第一接口配置參數；提取接口字段迭代請求中的迭代類型及對應的迭代字段參數，對第一接口配置參數中的字段進行字段迭代處理，得到第二接口配置參數；將測試字段參數對第二接口配置參數進行參數替換，利用替換后的第二接口配置參數對每個接口測試用例進行入參更新；利用更新后的接口測試用例對接口進行測試，得到測試結果。本發明還涉及一種區塊鏈技術，所述接口配置參數可以存儲在區塊鏈節點中。本發明還提出一種接口測試裝置、設備以及介質。本發明可以提高接口測試的效率。

技術領域

本發明涉及接口測試技術，尤其涉及一種接口測試方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

目前利用接口用例進行接口測試是常用的接口測試方法。但是現有的接口用例測試方法，當接口進行迭代時，接口對應的每條接口測試用例都需要重新配置參數，耗費的時間較長，導致接口測試的效率較低。

發明內容

本發明提供一種接口測試方法、裝置、電子設備及存儲介質，其主要目的在于提高了接口測試的效率。

獲取不同的接口的接口配置參數，得到接口配置參數集，其中，所述接口配置參數集中每個接配置參數都有對應的接口標識；

接收接口字段迭代請求，提取所述接口字段迭代請求中的迭代接口標識，根據所述接口標識及所述迭代接口標識對所述接口配置參數集中的接口配置參數進行篩選，得到第一接口配置參數；

提取所述接口字段迭代請求中的迭代類型及對應的迭代字段參數，根據所述迭代類型及對應的迭代字段參數對所述第一接口配置參數中的字段進行字段迭代處理，得到第二接口配置參數，其中，所述迭代類型包括字段新增、字段刪減、字段值改變；

獲取所述接口字段迭代請求對應的接口測試用例集，其中，所述接口測試用例集中每個接口測試用例都有對應測試字段參數；

將所述測試字段參數對所述第二接口配置參數進行參數替換，得到所述測試字段參數對應的目標測試參數；

利用所述目標測試參數對所述接口測試用例集中每個所述接口測試用例進行入參更新，得到目標接口測試用例；

利用所述目標接口測試用例對所述接口進行測試，得到測試結果。

可選地，所述根據所述接口標識及所述迭代接口標識對所述接口配置參數集中的接口配置參數進行篩選，得到第一接口配置參數，包括：

將與所述迭代接口標識相同的接口標識確定為目標接口標識；

選取所述接口配置參數集中所述目標接口標識對應的接口配置參數，得到所述第一接口配置參數。

可選地，所述根據所述迭代類型及對應的迭代字段參數對所述第一接口配置參數中的字段進行字段迭代處理，得到第二接口配置參數，包括：

當所述迭代類型為字段新增，將所述迭代字段參數中的所有字段及對應的字段值加入所述第一接口配置參數，得到所述第二接口配置參數；

當所述迭代類型為字段刪減，將所述第一接口配置參數中與所述迭代字段參數中字段相同的字段及對應的字段值刪除，得到所述第二接口配置參數；

當所述迭代類型為字段值改變，將所述第一接口配置參數中每個字段的字段值替換為所述迭代字段參數中相同字段對應的字段值，得到所述第二接口配置參數。

可選地，所述將所述測試字段參數對所述第二接口配置參數進行參數替換，得到所述測試字段參數對應的目標測試參數，包括：

利用所述測試字段參數中每個字段對應的值替換所述第二接口配置參數中相同字段對應的值，得到所述目標測試參數。