[發明專利]接口測試方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202210158708.4 | 申請日: | 2022-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN114546854A | 公開(公告)日: | 2022-05-27 |
| 發明(設計)人: | 蘭海濤 | 申請(專利權)人: | 深圳壹賬通智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 深圳市沃德知識產權代理事務所(普通合伙) 44347 | 代理人: | 高杰;于志光 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區前*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 接口 測試 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種接口測試方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取不同的接口的接口配置參數,得到接口配置參數集,其中,所述接口配置參數集中每個接配置參數都有對應的接口標識;
接收接口字段迭代請求,提取所述接口字段迭代請求中的迭代接口標識,根據所述接口標識及所述迭代接口標識對所述接口配置參數集中的接口配置參數進行篩選,得到第一接口配置參數;
提取所述接口字段迭代請求中的迭代類型及對應的迭代字段參數,根據所述迭代類型及對應的迭代字段參數對所述第一接口配置參數中的字段進行字段迭代處理,得到第二接口配置參數,其中,所述迭代類型包括字段新增、字段刪減、字段值改變;
獲取所述接口字段迭代請求對應的接口測試用例集,其中,所述接口測試用例集中每個接口測試用例都有對應測試字段參數;
將所述測試字段參數對所述第二接口配置參數進行參數替換,得到所述測試字段參數對應的目標測試參數;
利用所述目標測試參數對所述接口測試用例集中每個所述接口測試用例進行入參更新,得到目標接口測試用例;
利用所述目標接口測試用例對所述接口進行測試,得到測試結果。
2.如權利要求1所述的接口測試方法,其特征在于,所述根據所述接口標識及所述迭代接口標識對所述接口配置參數集中的接口配置參數進行篩選,得到第一接口配置參數,包括:
將與所述迭代接口標識相同的接口標識確定為目標接口標識;
選取所述接口配置參數集中所述目標接口標識對應的接口配置參數,得到所述第一接口配置參數。
3.如權利要求1所述的接口測試方法,其特征在于,所述根據所述迭代類型及對應的迭代字段參數對所述第一接口配置參數中的字段進行字段迭代處理,得到第二接口配置參數,包括:
當所述迭代類型為字段新增,將所述迭代字段參數中的所有字段及對應的字段值加入所述第一接口配置參數,得到所述第二接口配置參數;
當所述迭代類型為字段刪減,將所述第一接口配置參數中與所述迭代字段參數中字段相同的字段及對應的字段值刪除,得到所述第二接口配置參數;
當所述迭代類型為字段值改變,將所述第一接口配置參數中每個字段的字段值替換為所述迭代字段參數中相同字段對應的字段值,得到所述第二接口配置參數。
4.如權利要求1所述的接口測試方法,其特征在于,所述將所述測試字段參數對所述第二接口配置參數進行參數替換,得到所述測試字段參數對應的目標測試參數,包括:
利用所述測試字段參數中每個字段對應的值替換所述第二接口配置參數中相同字段對應的值,得到所述目標測試參數。
5.如權利要求1所述的接口測試方法,其特征在于,所述利用所述目標測試參數對所述接口測試用例集中每個所述接口測試用例進行入參更新,得到目標接口測試用例,包括:
將所述目標測試參數對應的測試字段參數確定為目標測試字段參數;
將所述目標測試參數替換所述目標測試字段參數對應的接口測試用例中的接口輸入參數,得到所述目標接口測試用例。
6.如權利要求2所述的接口測試方法,其特征在于,所述利用所述目標接口測試用例對所述接口進行測試,得到測試結果,包括:
選取所有所述接口中所述第一配置參數所屬的接口,得到目標接口;
利用所述目標接口測試用例對所述目標接口進行調用測試,得到用例測試結果;
匯總所有的所述用例測試結果,得到所述接口測試結果。
7.如權利要求6所述的接口測試方法,其特征在于,所述利用所述目標接口測試用例對所述目標接口進行調用測試,得到用例測試結果,包括:
利用所述目標接口測試用例對所述目標接口進行調用,得到所述目標接口接口的調用返回數據;
獲取所述目標接口測試用例對應的預期結果數據,將所述調用返回數據與所述預期結果數據進行比較,得到所述用例測試結果。
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