[發明專利]一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統在審
| 申請號: | 202210157376.8 | 申請日: | 2022-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN114674296A | 公開(公告)日: | 2022-06-28 |
| 發明(設計)人: | 潘文銘;胡學軍;王海濤;張平;陳東方;王亮;王若璽;章超明 | 申請(專利權)人: | 中交二航局結構工程有限公司 |
| 主分類號: | G01C15/00 | 分類號: | G01C15/00;G01B21/02;E01D21/00 |
| 代理公司: | 鄭州丞企知識產權代理事務所(普通合伙) 41204 | 代理人: | 柳恒雨 |
| 地址: | 430000 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 鋼箱梁 拼裝 自動 調控 系統 | ||
1.一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統,所述鋼箱梁拼裝精調自動調控系統設置于已固定鋼箱梁(2)和待調整鋼箱梁(4),其特征在于,所述鋼箱梁拼裝精調自動調控系統包括全站儀(1)、測量標記(3)、三維千斤頂(5)和控制單元;
所述全站儀(1)設置于已固定鋼箱梁(2)遠離待調整鋼箱梁(4)的一端且朝向待調整鋼箱梁(4);
所述測量標記(3)的數量為多個,多個測量標記(3)固定設置于待調整鋼箱梁(4)上表面周邊處;
所述三維千斤頂(5)的數量為多個,多個三維千斤頂(5)布設于待調整鋼箱梁(4)下方加固處,多個三維千斤頂(5)均與全站儀(1)連接;
所述全站儀(1)實時監測所有測量標記(3)的三維坐標信息并發送至控制單元,所述控制單元對所有測量標記(3)的三維坐標信息進行分析,得出待調整鋼箱梁(4)的即時狀態位置,所述三維千斤頂(5)根據待調整鋼箱梁(4)的即時狀態位置對待調整鋼箱梁(4)進行調整,使待調整鋼箱梁(4)上表面與已固定鋼箱梁(2)上表面平齊且待調整鋼箱梁(4)與固定鋼箱梁貼合。
2.根據權利要求1所述的一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統,其特征在于,所述測量標記(3)的數量為四個,四個測量標記(3)設置為第一標記、第二標記、第三標記和第四標記;
其中,所述第一標記和第二標記分別設置于待調整鋼箱梁(4)上表面前端中心處和后端中心處,所述第三標記和第四標記對稱設置于第二標記兩側;
所述全站儀(1)與第一標記和第二標記位于同一豎直面內。
3.根據權利要求2所述的一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統,其特征在于,所述三維千斤頂(5)的數量不少于三個,其中三個三維千斤頂(5)分別對應設置于第一標記、第三標記和第四標記下方。
4.根據權利要求2所述的一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統,其特征在于,所述測量標記(3)包括上測量點(301)、下測量點(302)和測量桿(303),所述測量桿(303)豎直設置,所述上測量點(301)和下測量點(302)分別位于測量桿(303)上下兩端,下測量點(302)與上測量點(301)之間的距離為定值;
所述全站儀(1)的高度位置位于上測量點(301)的高度位于和下測量點(302)的高度位置之間。
5.根據權利要求4所述的一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統,其特征在于,所述測量標記(3)還設置有強磁吸盤(304),所述強磁吸盤(304)呈平板狀且固定設置于測量桿(303)下端,所述測量桿(303)軸線垂直于強磁吸盤(304)所處平面。
6.根據權利要求4所述的一種鋼箱梁拼裝精調自動調控系統,其特征在于,所述測量標記(3)的三維坐標信息包括N、E和Z,其中N為橋縱軸線方向坐標,E為橋橫軸線方向坐標,Z為豎直方向坐標,測量標記(3)的三維坐標信息的統計方法如以下步驟:
S1用卡尺或測距離測量上測量點(301)與下測量點(302)之間的距離值LZ、第一標記與第二標記之間的距離值LN、第二標記與第三標記或第四標記之間的距離值LE;
S2通過全站儀(1)測量每個測量標記(3)的下測量點(302)的NA、EA、ZA和每個測量標記(3)的上測量點(301)的NB、EB、ZB;
測量標記(3)的下測量點(302)的計算公式如下:
其中,NX、EX、ZX分別為全站儀(1)的坐標值,S為全站儀(1)測站點至下測量點(302)的斜距值,α為全站儀(1)測站點照準下測量點(302)中心的豎直角的角度值,β為全站儀(1)測站點至下測量點(302)方向的坐標方位角,i為全站儀(1)高度位置,l為下測量點(302)高度位置;
測量標記(3)的上測量點(301)的計算公式如下:
其中,NX、EX、ZX分別為全站儀(1)的坐標值,S為全站儀(1)測站點至下測量點(302)的斜距值,α為全站儀(1)測站點照準下測量點(302)中心的豎直角的角度值,β為全站儀(1)測站點至下測量點(302)方向的坐標方位角,i為全站儀(1)高度位置,l為下測量點(302)高度位置;
S3對各每個測量標記(3)的下測量點(302)的ZA進行修正,修正公式如下:
ZA0=LZ*ZA/(ZB-ZA) (3.1)
其中,ZA0為修正后的ZA值;
S4對第一標記和第二標記的下測量點(302)的NA進行修正,修正公式如下:
NA10=LN*NA1/(NA2-NA1) (4.1)
NA20=LN*NA2/(NA2-NA1) (4.2)
其中,NA1和NA2分別為第一標記點和第二標記點的下測量點(302)的NA值,NA10和NA20為修正后的NA1值和NA2值;
S5對第三標記和第四標記的下測量點(302)的NA進行修正,修正公式如下:
EA30=LE*EA3/(EA3-EA2) (5.1)
EA40=LE*EA4/(EA4-EA2) (5.1)
其中,EA2、EA3和EA4分別為第二標記點、第三標記點和第四標記點的下測量點(302)的EA值,EA30和EA40為修正后的EA3值和EA4值。
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