[發明專利]一種線束形態表征方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202210149104.3
• 申請日: 2022-02-17
• 公開（公告）號: CN114565699A
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: 周佳;唐健鈞;張昊龍;鐘學敏;葉波;石芹芹;鄧洪菊
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G06T11/20
• 分類號: G06T11/20;G06T7/80;G06T5/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 王志

1.一種線束形態表征方法，其特征在于，包括以下步驟：

對選定的工業相機的內參和外參進行標定，并存儲標定結果數據；

利用標定后的所述工業相機，采集待檢線束的二維圖像；

利用工控機對采集的所述二維圖像進行形態表征；其中，所述工控機內置圖像處理軟件，且所述工控機與所述工業相機電性連接。

2.如權利要求1所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述利用工控機對采集的所述二維圖像進行形態表征，包括：

對所述二維圖像進行預處理；

對預處理后的二維圖像進行降噪；

將降噪后的二維圖像中的骨架部分分割為多條寬度為一個像素距離且無分支的直線段，提取二維圖像中的各分支節點并進行編號；

循環遍歷所有分割出的直線段，設定閾值，篩選并剔除小于所述閾值的直線段；

將剩余的直線段合并為一個折線；

將所述折線進行平滑處理，以獲得新的平滑曲線；

根據所述平滑曲線獲取待檢線束總長度數據；

根據降噪后的二維圖像獲取待檢線束的分支線束寬度數據；

根據所述平滑曲線獲取待檢線束的分支線束最小彎曲半徑數據。

3.如權利要求2所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述對所述二維圖像進行預處理，包括：

對所述二維圖像進行均值濾波；

對均值濾波后的二維圖像進行圖像灰度化處理；

設定閾值；

然后對二維圖像進行圖像二值化處理。

4.如權利要求2所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述對預處理后的二維圖像進行降噪，包括：

定義腐蝕及膨脹的結構元素，通過所述結構元素對二維圖像進行腐蝕；

按同一類型的結構元素及結構大小對二維圖像進行膨脹。

5.如權利要求2所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述提取二維圖像中的各分支節點并進行編號的步驟中，所述編號的方法為：

將所述分支節點的起點編號為0，出現第一級分支后，第一級分支起點編號為1，第一級分支終點編號為1.1、1.2、......、1.n；

出現第二級分支后，第二級分支起點的編號與所述第一級分支終點的編號一致，則第二級分支對應第一級分支終點編號1.1所在的分支終點編號為1.1.1、1.1.2、......、1.1.n，第二級分支對應第一級分支終點編號1.2所在的分支終點編號為1.2.1、1.2.2、......、1.2.n，第二級分支對應第一級分支終點編號1.n所在的分支終點編號為1.n.1、1.n.2、......、1.n.m；其中，n和m均為正整數。

6.如權利要求5所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述根據所述平滑曲線獲取待檢線束總長度數據，包括：

獲取所述平滑曲線的像素個數；

根據所述工業相機的標定結果數據，將像素距離轉換為真實距離，以獲取待檢線束總長度數據。

7.如權利要求5所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述根據降噪后的二維圖像獲取待檢線束的分支線束寬度數據，包括：

根據降噪后的二維圖像提取線束邊界，并分類線束的兩側邊界；

然后將兩側邊界分別存入數組A和數組B中；

遍歷數組A中的各點并逐一計算各點與數組B中各點的最短直線距離，并將所述最短直線距離存入新的數組C；

以數組C的平均值作為分支線束的平均寬度，以獲得分支線束寬度數據。

8.如權利要求7所述的一種線束形態表征方法，其特征在于，所述根據所述平滑曲線獲取待檢線束的分支線束最小彎曲半徑數據，包括：

利用所述平滑曲線計算所述平滑曲線的亞像素輪廓全局特征；

根據所述亞像素輪廓全局特征將所述平滑曲線分解為由直線段、圓弧段、橢圓弧段組成的一組曲線；

將所有所述圓弧的半徑值存入數組D中，以數組D中的最小值作為分支線束的最小彎曲半徑。