[發明專利]一種集成電路故障驗證方法及系統

在審

• 申請號: 202210127931.2
• 申請日: 2022-02-11
• 公開（公告）號: CN114487782A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 劉華中
• 申請（專利權）人: 廣東小天才科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 楊用玲

本發明公開了一種集成電路故障驗證方法和系統，其方法包括步驟：根據故障集成電路的異常工作狀態檢測所述故障集成電路的故障成因；通過與所述故障集成電路結構相同的正常集成電路模擬所述故障成因；檢測所述正常集成電路的工作狀態，并根據所述正常集成電路的工作狀態驗證所述故障成因。本發明可以避免在檢測電路故障問題時，出現未識別全部故障原因，僅針對單一故障原因進行修復無法排除電路故障的問題，提高電路檢測和電路修復的效果。

技術領域

本發明涉及電路測試技術領域，特別涉及一種集成電路故障驗證方法及系統。

背景技術

隨著電路芯片領域產能逐漸擴大，電路芯片損壞維修的情況也隨之變多，電路簡單成本較低的芯片可以選擇舍棄，但是電路結構復雜成本較高的芯片如果出現質量問題或者存在損壞情況，需要對其進行維修。

在電路維修過程中，目前常見的步驟是檢測電路故障原因和故障位置后，針對檢測到的故障原因和故障位置，進行維修工作。如果電路出現的是簡單常見的故障，如某一處電路斷路或某一個元器件出現故障，采用該方法可以進行故障的修復與排除。但是如果電路出現多處電路故障，通常在檢測電路故障問題的過程中只會識別出某一故障原因，無法識別全部故障原因，會出現針對單一故障原因進行修復無法排除電路故障問題。

針對在檢測電路故障問題的過程中未識別全部故障原因，僅針對單一故障原因進行修復無法排除電路故障的技術問題，目前需要一種電路故障驗證方法，使在檢測電路出現的故障問題時，可以判斷對故障電路的檢測結果是否準確。

發明內容

為解決傳統電路驗證方法中在檢測電路故障問題時，出現未識別全部故障原因，僅針對單一故障原因進行修復無法排除電路故障的技術問題，本發明提供一種集成電路故障驗證方法及系統，具體的技術方案如下：

本發明提供一種集成電路故障驗證方法，包括步驟：

根據故障集成電路的異常工作狀態檢測所述故障集成電路的故障成因；

通過與所述故障集成電路結構相同的正常集成電路模擬所述故障成因；

檢測所述正常集成電路的工作狀態，并根據所述正常集成電路的工作狀態驗證所述故障成因。

本發明提供的集成電路故障驗證方法通過檢測故障電路的故障原因后，在結構相同的正常電路上模擬故障原因，根據兩個電路的工作狀態是否相同驗證檢測的故障原因是否正確且完整。本發明引入的驗證方法可以避免在檢測電路故障問題時，出現未識別全部故障原因，僅針對單一故障原因進行修復無法排除電路故障的問題，提高電路檢測和電路修復的效果。

進一步地，本發明還提供一種集成電路故障驗證方法，所述的根據故障集成電路的異常工作狀態檢測所述故障集成電路的故障成因，具體包括：

檢測到通過引腳連接的所述故障集成電路處于開路狀態時，判斷所述故障集成電路中芯片引腳虛焊；

所述的通過與所述故障集成電路結構相同的正常集成電路模擬所述故障成因，具體包括：

所述故障集成電路中芯片引腳虛焊時，斷開所述正常集成電路的芯片引腳。

本發明提供的集成電路故障驗證方法通過檢測電路中電路導通狀態和電路阻值，判斷由芯片引腳連接的電路中會出現的故障問題，將復雜的電路情況轉換為直觀的電路狀態和阻值進行檢測，引入一種在通過引腳連接的正常集成電路上模擬故障原因的方法，過對正常集成電路引腳之間連接線路的調整，模擬虛焊的故障，簡單高效地對故障成因進行模擬，提高集成電路故障驗證的效率。

進一步地，本發明還提供一種集成電路故障驗證方法，所述的根據故障集成電路的異常工作狀態檢測所述故障集成電路的故障成因，具體還包括：

檢測到通過引腳連接的所述故障集成電路處于短路狀態時，判斷所述故障集成電路中芯片引腳連焊；