[發(fā)明專利]延時(shí)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210120719.3 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114448386B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-03-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭斌;陳佩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫市晶源微電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03H11/26 | 分類號(hào): | H03H11/26 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市觀知成專利商標(biāo)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32591 | 代理人: | 任月娜 |
| 地址: | 214000 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 延時(shí) 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種延時(shí)裝置,包括:電流源、電容器、第一NMOS管、第二NMOS管、第一開(kāi)關(guān)、第一反相器、第二反相器和第三反相器。本發(fā)明利用所述電流源給所述電容器充電,所述第一NMOS管和所述第二NMOS管進(jìn)入亞閾值區(qū),使得所述電容器兩端的充電電流為亞閾值區(qū)電流以延長(zhǎng)所述電容器的充電時(shí)間(延長(zhǎng)所述電容器的電壓充電至所述第一反向器的翻轉(zhuǎn)電壓的時(shí)間),從而獲取延時(shí)時(shí)間較長(zhǎng)的延時(shí)信號(hào)。本發(fā)明利用亞閾值區(qū)小電流對(duì)電容器進(jìn)行充電以產(chǎn)生較長(zhǎng)時(shí)間的延時(shí),避免了傳統(tǒng)電路中使用大面積電容或者大阻值的電阻的情況,減小了占用芯片的設(shè)計(jì)面積。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及延時(shí)電路技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種延時(shí)裝置。
背景技術(shù)
目前比較常見(jiàn)的延時(shí)電路一般為恒流充電延時(shí)裝置(電路)、RC充電延時(shí)裝置(電路)和數(shù)字計(jì)數(shù)延時(shí)裝置(電路)。
請(qǐng)參考圖1,圖1是一種傳統(tǒng)的恒流充電延時(shí)裝置的電路結(jié)構(gòu)圖,恒流充電延時(shí)裝置包括:電流源I2、電容器C2、第一反相器X4和第二反相器X5以及由外部的輸入信號(hào)控制的第一開(kāi)關(guān)K3和第二開(kāi)關(guān)K4,其中,該延時(shí)裝置的工作過(guò)程主要為:當(dāng)外部的輸入信號(hào)控制第二開(kāi)關(guān)K4導(dǎo)通、第一開(kāi)關(guān)K3關(guān)斷時(shí),通過(guò)所述電流源I2給電容器C2進(jìn)行充電;當(dāng)充電到第一反相器X4的輸入上翻轉(zhuǎn)點(diǎn)時(shí),第一反相器X4的輸出端翻轉(zhuǎn)為低電平,即第一反相器X4的輸出端和地端同電位;第二反相器X5輸出端翻轉(zhuǎn)為高電平,即第二反相器X5的輸出端和電源電壓同電位,可見(jiàn),恒流充電延時(shí)裝置的延時(shí)主要體現(xiàn)于電流源I2給電容器C2充電到第一反相器X4的上翻轉(zhuǎn)點(diǎn)的時(shí)間。
但是,上述恒流充電延時(shí)裝置為了實(shí)現(xiàn)較大的延時(shí)需要選用很小的電流源 I2和很大的電容C2,很小的電流源很難做出來(lái),此外,很大的電容會(huì)占用較大的設(shè)計(jì)面積。
請(qǐng)參考圖2,圖2是一種傳統(tǒng)的RC充電延時(shí)裝置的電路結(jié)構(gòu)圖,RC充電延時(shí)裝置包括:限流電阻R1、電容器C3、由外部的輸入信號(hào)控制的第一開(kāi)關(guān) K5和第二開(kāi)關(guān)K6以及第一反相器X6和第二反相器X7,其中,該延時(shí)裝置的工作過(guò)程主要為:當(dāng)外部的輸入信號(hào)控制第二開(kāi)關(guān)K6閉合、第一開(kāi)關(guān)K5打開(kāi)時(shí),通過(guò)限流電阻R1給電容器C3進(jìn)行充電;當(dāng)充電到第一反相器X6的輸入上翻轉(zhuǎn)點(diǎn)時(shí),第一反相器X6的輸出端翻轉(zhuǎn)為低電平,即第一反相器X6的輸出端和地端同電位;第二反相器X7的輸出端翻轉(zhuǎn)為高電平,即第二反相器X5的輸出端和電源電壓同電位,可見(jiàn),RC充電延時(shí)裝置的延時(shí)主要體現(xiàn)于限流電阻 R1給電容器C3充電到第二反相器X7的上翻轉(zhuǎn)點(diǎn)的時(shí)間。
但是,上述RC充電延時(shí)裝置為了時(shí)間較大的延時(shí)需要選用很大充電限流電阻R1和很大的電容C2,占用較多的芯片設(shè)計(jì)面積。
如圖3,圖3是一種傳統(tǒng)的數(shù)字計(jì)數(shù)延時(shí)裝置的電路結(jié)構(gòu)圖,數(shù)字計(jì)數(shù)延時(shí)裝置包括:振蕩器M1、第一D觸發(fā)器D1、第二D觸發(fā)器D2、第三D觸發(fā)器 D3、第一數(shù)字邏輯與門X8和第二數(shù)字邏輯與門X9,其中,該延時(shí)裝置的工作過(guò)程主要為:首先振蕩器M1工作,產(chǎn)生固定頻率f的方波;當(dāng)外部的輸入信號(hào)從IN進(jìn)入,進(jìn)入第一D觸發(fā)器D1、第二D觸發(fā)器D2和第三D觸發(fā)器D3的 SET,第一D觸發(fā)器D1、第二D觸發(fā)器D2和第三D觸發(fā)器D3組成的分頻器開(kāi)始工作;第一D觸發(fā)器D1的Q端輸出頻率為振蕩器方波頻率的1/2f;第二D 觸發(fā)器D2的Q端輸出頻率為振蕩器方波頻率的1/4f;第三D觸發(fā)器D3的Q 端輸出頻率為振蕩器方波頻率的1/8f;然后三個(gè)方波輸入到第一數(shù)字邏輯與門 X8的三個(gè)輸入端,當(dāng)三輸入同為高電平,則輸出高電平;然后第一數(shù)字邏輯與門X8的輸出信號(hào)和外部的輸入信號(hào)輸入到第二數(shù)字邏輯與門X9的兩個(gè)輸入端;從而形成對(duì)外部輸入信號(hào)的延時(shí)。
但是,上述數(shù)字計(jì)數(shù)延時(shí)裝置為了獲取較長(zhǎng)的延時(shí)時(shí)間,需要一個(gè)振蕩器模塊和多個(gè)D觸發(fā)器以及邏輯門,產(chǎn)生的延時(shí)主要決定于振蕩器的頻率和D觸發(fā)器的個(gè)數(shù),振蕩器的結(jié)構(gòu)相對(duì)復(fù)雜,占用的芯片設(shè)計(jì)面積過(guò)大,并且多個(gè)D 觸發(fā)器和邏輯門占用的芯片設(shè)計(jì)面積也較大。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N延時(shí)裝置,可以解決傳統(tǒng)的延時(shí)電路中電容、限流電阻、振蕩器或觸發(fā)器等元器件中的至少一種元器件占用整體芯片整體設(shè)計(jì)面積過(guò)大的問(wèn)題。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無(wú)錫市晶源微電子股份有限公司,未經(jīng)無(wú)錫市晶源微電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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