[發明專利]一種激光測距儀的光軸微調方法及激光測距儀

在審

• 申請號: 202210118436.5
• 申請日: 2022-02-08
• 公開（公告）號: CN114371470A
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 王振興
• 申請（專利權）人: 深圳市長毛象電子有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481;G01S17/08
• 代理公司: 深圳市凱達知識產權事務所 44256
• 代理人: 劉大彎

1.一種激光測距儀的光軸微調方法，包括光路基座主體、PCB板、發射光路和接收光路，其特征在于，包括如下步驟：

將所述發射光路或接收光路上的一個光路元件安裝在擺體的中心；在所述光路基座主體的外殼上設置與所述擺體配合的承擺孔，通過調節所述擺體在所述承擺孔內輕微擺動，使得所述光路元件的安裝角度輕微變動，從而使得光軸的角度得到輕微的調節，進而使得所述發射光路和接收光路保持同軸。

2.根據權利要求1所述的激光測距儀的光軸微調方法，其特征在于，所述光路元件包括但不限于發射光路上的用于發射激光的二極管、用于聚焦發射激光的準直鏡片和發射激光反射鏡，以及接收光路上的用于接收所述聚焦發射激光的接收準直鏡片和接收激光反射鏡。

3.根據權利要求1所述的激光測距儀的光軸微調方法，其特征在于，所述擺體包括用于固定所述光路元件的位移板和與所述承擺孔配合的球殼狀凸沿，所述球殼狀凸沿能夠在所述承擺孔內輕微的擺動；所述位移板設有至少三個調節孔，每個調節孔均設有配套的調節絲桿和螺紋；所述光路基座主體的外殼上設有與所述調節孔配合的安裝孔，所述擺體和所述光路基座主體的外殼通過所述調節孔、安裝孔以及配套的調節絲桿和螺紋連接；調節任一調節絲桿，所述位移板的位置均能夠得到輕微的調節。

4.根據權利要求1或2所述的激光測距儀的光軸微調方法，其特征在于，所述接收光路中至少包含一個用于過濾非發射光波長的濾光片。

5.根據權利要求1或2所述的激光測距儀的光軸微調方法，其特征在于，所述調節孔與所述外殼之間設有環形軟膠圈或彈簧，用于復位所述擺體的位置。

6.一種激光測距儀，包括光路基座主體、PCB板、發射光路和接收光路，其特征在于，所述光路基座主體的外殼上的設有擺體，所述擺體的中心安裝有所述發射光路或接收光路上的一個光路元件；在所述光路基座主體的外殼上設有與所述擺體配合的承擺孔，通過調節所述擺體在所述承擺孔內輕微擺動，使得所述光路元件的安裝角度輕微變動，從而使得光軸的角度得到輕微的調節，進而使得所述發射光路和接收光路保持同軸。

7.根據權利要求1所述的激光測距儀，其特征在于，所述發射光路依次包括用于發射激光的二極管和用于將發射激光聚焦的發射準直鏡片；所述接收光路依次包括接收準直鏡片、接收激光反射鏡和用于接收發射光的光電傳感器；所述激光測距儀還包括擺體，且所述激光測距儀的光路基座主體的外殼上設有與所述擺體配合的承擺孔，使得所述擺體能夠在所述承擺孔內自由的輕微擺動；所述發射準直鏡片固定在所述擺體的中心，通過調節所述擺體的位置調節所述發射準直鏡片的位置，從而調節發射激光的光軸。

8.根據權利要求7所述的激光測距儀，其特征在于，所述激光測距儀還包括第二擺體，且所述激光測距儀的光路基座主體的外殼上設有與所述第二擺體配合的第二承擺孔，使得所述第二擺體能夠在所述第二承擺孔內自由的輕微擺動；所述接收激光反射鏡固定在所述第二擺體的中心，通過調節所述第二擺體的位置調節所述接收激光反射鏡的位置，從而調節接收激光的光軸。

9.根據權利要求7所述的激光測距儀，其特征在于，所述擺體包括用于固定所述發射準直鏡片的位移板和與所述承擺孔配合的球殼狀凸沿，所述球殼狀凸沿能夠在所述承擺孔內輕微的擺動；所述位移板設有至少三個調節孔，每個調節孔均設有配套的調節絲桿和螺紋；所述光路基座主體的外殼上設有與所述調節孔配合的安裝孔，所述擺體和所述光路基座主體的外殼通過所述調節孔、安裝孔以及配套的調節絲桿和螺紋連接；調節任一調節絲桿，所述位移板的位置均能夠得到輕微的調節。

10.根據權利要求8所述的激光測距儀，其特征在于，所述調節孔與所述外殼之間設有環形軟膠圈或彈簧，用于復位所述擺體的位置。