[發明專利]基于微調和冗余信息產生裝置簽名的裝置、方法及系統在審
| 申請號: | 202210118340.9 | 申請日: | 2022-02-08 |
| 公開(公告)號: | CN114564762A | 公開(公告)日: | 2022-05-31 |
| 發明(設計)人: | 姜慧如;呂士濂 | 申請(專利權)人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F21/73 | 分類號: | G06F21/73;G06F21/76 |
| 代理公司: | 南京正聯知識產權代理有限公司 32243 | 代理人: | 顧伯興 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 微調 冗余 信息 產生 裝置 簽名 方法 系統 | ||
本公開描述一種基于微調和冗余信息產生裝置簽名的裝置、方法及系統,所述裝置具有存儲器和處理器。存儲器配置成存儲集成電路微調和冗余信息。處理器配置成從集成電路微調和冗余信息中提取位,對所提取的位執行散列函數以產生散列位,以及響應于散列位的統計特性滿足一或多個準則而輸出散列位。在一些實施例中,存儲集成電路微調和冗余信息的存儲器可與裝置用于其它操作(例如,訪問已寫入到系統存儲器中的用戶數據和程序數據)的其它存儲器不同。
技術領域
本公開的實施例是有關于一種基于微調和冗余信息產生裝置簽名的裝置方法及系統。
背景技術
物理不可克隆函數(Physical unclonable function;PUF)應用物理裝置的可測量本征隨機性以為這些裝置建立簽名。PUF可用于集成電路(integrated circuit;IC)裝置中,其中以PUF重復測量給定IC裝置的結果每次都導致相同的(或非常類似的)PUF響應。然而,由于制程工藝的變動,另一IC裝置的PUF測量結果會導致明顯不同的PUF響應。可利用IC裝置之間的不同PUF響應來創建唯一的裝置簽名(或標識)。
發明內容
本公開的實施例包含一種具有存儲器和處理器的基于微調和冗余信息產生裝置簽名的裝置。存儲器配置成存儲IC微調和冗余信息。處理器配置成從IC微調和冗余信息中提取位,對所提取的位執行散列函數運算以產生散列位,以及響應于散列位的統計特性滿足一或多個準則而輸出散列位。
本公開的實施例包含一種基于微調和冗余信息產生裝置簽名的方法,所述方法存儲與集成電路相關聯的微調和冗余信息;檢索微調和冗余信息以從微調和冗余信息中提取位;以及對提取的位執行散列函數運算以產生散列位。方法還包含響應于散列位的統計特性滿足一或多個準則而輸出散列位。
本公開的實施例包含一種具有非易失性存儲器裝置和物理不可克隆函數電路的基于微調和冗余信息產生裝置簽名的系統。非易失性存儲器裝置配置成存儲集成電路微調和冗余信息。PUF電路配置成:從非易失性存儲器裝置中檢索IC微調和冗余信息;從IC微調和冗余信息中提取位;對提取的位執行散列函數運算以產生散列位;響應于散列位的統計特性滿足一或多個準則,輸出散列位;以及響應于散列位的統計特性不滿足一或多個準則,重復以下操作中的一或多個:從IC微調和冗余信息中提取位,以及對提取的位執行散列函數運算以產生散列位。
附圖說明
結合附圖閱讀以下詳細描述會最好地理解本公開的各方面。應注意,根據業界中的標準慣例,各種特征未按比例繪制。實際上,為了論述清楚起見,可任意增加或減小各種特征的尺寸。
圖1是根據本公開的一些實施例的具有物理不可克隆函數(PUF)電路的存儲器裝置的圖示。
圖2是根據本公開的一些實施例的用于基于IC微調和冗余信息通過PUF電路產生裝置簽名的方法的圖示。
圖3是根據本公開的一些實施例的可用于從IC微調和冗余信息中隨機提取位的基于線性反饋移位寄存器(linear feedback shift register;LFSR)的電路架構的圖示。
圖4是根據本公開的一些實施例的可實施于基于LFSR的電路架構中的第一LFSR的圖示。
圖5是根據本公開的一些實施例的可實施于基于LFSR的電路架構中的第二LFSR的圖示。
圖6是根據本公開的一些實施例的可用于從IC微調和冗余信息中隨機提取位的基于多路復用器的電路架構的圖示。
圖7是根據本公開的一些實施例的可實施于基于多路復用器的電路架構中的第一選擇模塊的圖示。
圖8是根據本公開的一些實施例的可實施于基于多路復用器的電路架構中的第二選擇模塊的圖示。
圖9是根據本公開的一些實施例的可實施于基于多路復用器的電路架構中的第三選擇模塊的圖示。
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