[發(fā)明專利]基于微調(diào)和冗余信息產(chǎn)生裝置簽名的裝置、方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210118340.9 | 申請(qǐng)日: | 2022-02-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114564762A | 公開(公告)日: | 2022-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姜慧如;呂士濂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F21/73 | 分類號(hào): | G06F21/73;G06F21/76 |
| 代理公司: | 南京正聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32243 | 代理人: | 顧伯興 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹科*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 微調(diào) 冗余 信息 產(chǎn)生 裝置 簽名 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種基于微調(diào)和冗余信息產(chǎn)生裝置簽名的裝置,包括:
存儲(chǔ)器,配置成存儲(chǔ)集成電路微調(diào)和冗余信息;以及
處理器,配置成:
從所述集成電路微調(diào)和冗余信息中提取位;
對(duì)提取的所述位執(zhí)行散列函數(shù)運(yùn)算,以產(chǎn)生散列位;以及
響應(yīng)于所述散列位的統(tǒng)計(jì)特性滿足一或多個(gè)準(zhǔn)則,輸出所述散列位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中,為了從所述集成電路微調(diào)和冗余信息中提取所述位,所述處理器進(jìn)一步配置成:
用所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第一子集將線性反饋移位寄存器初始化;
基于與所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第二子集相關(guān)聯(lián)的值以使所述線性反饋移位寄存器進(jìn)行循環(huán)操作,其中所述第二子集與所述集成電路微調(diào)和冗余信息的所述第一子集不同;以及
輸出所述循環(huán)的線性反饋移位寄存器的內(nèi)容,以產(chǎn)生所述提取的位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中,為了從所述集成電路微調(diào)和冗余信息中提取所述位,所述處理器進(jìn)一步配置成:
將所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第一子集輸入到多個(gè)多路復(fù)用器電路中;以及
基于所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第二子集選擇所述多個(gè)多路復(fù)用器電路中的每一個(gè)的輸出以產(chǎn)生所述提取的位,其中所述第二子集中的位的數(shù)目是所述集成電路微調(diào)和冗余信息的所述第一子集中的位的數(shù)目的一半。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中,為了從所述集成電路微調(diào)和冗余信息中提取所述位,所述處理器進(jìn)一步配置成:
將所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第一子集輸入到多個(gè)多路復(fù)用器電路中;
用所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第二子集將線性反饋移位寄存器初始化,其中所述第二子集中的位的數(shù)目是所述集成電路微調(diào)和冗余信息的所述第一子集中的位的數(shù)目的一半;
將所述線性反饋移位寄存器以預(yù)定的時(shí)鐘周期數(shù)進(jìn)行循環(huán)操作;以及
基于所述進(jìn)行循環(huán)操作的線性反饋移位寄存器的輸出選擇所述多個(gè)多路復(fù)用器電路中的每一個(gè)的輸出,以產(chǎn)生所述提取的位。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中,為了對(duì)所述提取的位執(zhí)行所述散列函數(shù),所述處理器進(jìn)一步配置成對(duì)所述提取的位執(zhí)行加密散列函數(shù),以產(chǎn)生所述散列位。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中,為了輸出所述散列位,所述處理器進(jìn)一步配置成基于以下中的一或多個(gè)來確定所述散列位的所述統(tǒng)計(jì)特性:對(duì)所述散列位的漢明權(quán)重分析、對(duì)所述散列位的漢明距離間分析、對(duì)所述散列位的漢明距離內(nèi)分析以及對(duì)所述散列位的自相關(guān)操作。
7.一種基于微調(diào)和冗余信息產(chǎn)生裝置簽名的方法,包括:
存儲(chǔ)與集成電路相關(guān)聯(lián)的微調(diào)和冗余信息;
檢索所述微調(diào)和冗余信息,以從所述微調(diào)和冗余信息中提取位;
對(duì)所述提取的位執(zhí)行散列函數(shù),以產(chǎn)生散列位;以及
響應(yīng)于所述散列位的統(tǒng)計(jì)特性滿足一或多個(gè)準(zhǔn)則,輸出所述散列位。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,更包括:響應(yīng)于所述散列位的所述統(tǒng)計(jì)特性不滿足所述一或多個(gè)準(zhǔn)則,重復(fù)以下操作中的一個(gè)多個(gè):檢索所述微調(diào)和冗余信息以從所述微調(diào)和冗余信息中提取所述位,以及對(duì)所述提取的位執(zhí)行所述散列函數(shù)以產(chǎn)生所述散列位。
9.一種基于微調(diào)和冗余信息產(chǎn)生裝置簽名的系統(tǒng),包括:
非易失性存儲(chǔ)器裝置,配置成存儲(chǔ)集成電路微調(diào)和冗余信息;以及
物理不可克隆函數(shù)電路,配置成:
從所述非易失性存儲(chǔ)器裝置中檢索所述集成電路微調(diào)和冗余信息;
從所述集成電路微調(diào)和冗余信息中提取位;
對(duì)所述提取的位執(zhí)行散列函數(shù),以產(chǎn)生散列位;
響應(yīng)于所述散列位的統(tǒng)計(jì)特性滿足一或多個(gè)準(zhǔn)則,輸出所述散列位;以及
響應(yīng)于所述散列位的所述統(tǒng)計(jì)特性不滿足所述一或多個(gè)準(zhǔn)則,重復(fù)以下操作中的一或多個(gè):所述從所述集成電路微調(diào)和冗余信息中提取位,以及所述對(duì)所述提取的位執(zhí)行所述散列函數(shù)以產(chǎn)生所述散列位。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其中所述物理不可克隆函數(shù)電路進(jìn)一步配置成:
將所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第一子集輸入到多個(gè)多路復(fù)用器電路中;
用所述集成電路微調(diào)和冗余信息的第二子集將線性反饋移位寄存器初始化,其中所述第二子集中的位的數(shù)目是所述集成電路微調(diào)和冗余信息的所述第一子集中的位的數(shù)目的一半;
將所述線性反饋移位寄存器以預(yù)定的時(shí)鐘周期數(shù)進(jìn)行循環(huán)操作;以及
基于所述進(jìn)行循環(huán)操作的線性反饋移位寄存器的輸出選擇所述多個(gè)多路復(fù)用器電路中的每一個(gè)的輸出,以產(chǎn)生所述提取的位。
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G06F21-04 .通過保護(hù)特定的外圍設(shè)備,如鍵盤或顯示器
G06F21-06 .通過感知越權(quán)操作或外圍侵?jǐn)_
G06F21-20 .通過限制訪問計(jì)算機(jī)系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)中的節(jié)點(diǎn)
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