[發明專利]一種判斷表面缺陷顯性程度的方法

在審

• 申請號: 202210117147.3
• 申請日: 2022-02-08
• 公開（公告）號: CN114594101A
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 何星
• 申請（專利權）人: 廈門聚視智創科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種判斷表面缺陷顯性程度的方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1、在缺陷識別區上方架設垂直于缺陷識別區軸向的弧形軌道，并在弧形軌道上安裝工業相機；

S2、將工業相機運動到缺陷識別區中待識別工件的正上方，進行第一次拍照識別，獲得第一圖像，識別完成后在第一圖像上標注缺陷存在的位置，同時對標注了缺陷位置的第一圖像取灰度值；

S3、驅動工業相機在弧形軌道上運動，在運動過程中持續對待識別工件的表面做各角度取景抓拍；

S4、對S3中抓拍的各角度圖片分別取灰度值；

S5、根據S3中工業相機在弧形軌道上運動時的角度連續變化將S4中各角度圖片的灰度值依次排列獲得灰度梯度，將缺陷位置的灰度梯度列出并根據缺陷位置的灰度梯度判斷缺陷位置的顯性程度。

2.根據權利要求1所述的一種判斷表面缺陷顯性程度的方法，其特征在于：所述工業相機與弧形軌道的連接部處設有四向調節球軸，所述四向調節球軸控制工業相機在弧形軌道上運動時取景方向始終朝向缺陷位置所在區域。

3.根據權利要求1所述的一種判斷表面缺陷顯性程度的方法，其特征在于：所述弧形軌道上還安裝有紅外定距裝置。

4.根據權利要求3所述的一種判斷表面缺陷顯性程度的方法，其特征在于：所述紅外定距裝置包括追蹤式紅外定距裝置，S1中標注缺陷存在的位置后追蹤式紅外定距裝置在弧形軌道上運動時持續對準缺陷位置并持續獲取缺陷位置的距離變量。