[發明專利]一種顯示面板缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 202210088831.3
• 申請日: 2022-01-25
• 公開（公告）號: CN114453280A
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 寧謙;鐘凡;洪志坤;鄭增強;歐昌東
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 牛晶晶

本發明涉及一種顯示面板缺陷檢測方法，其包括以下步驟：至少兩個成像通道同時對點亮的顯示面板進行成像，獲得多個目標圖像，每個成像通道至少包括一個鏡頭和一個圖像傳感器，多個鏡頭的光軸平行設置且垂直于所述顯示面板；其中，至少一個成像通道的圖像傳感器的感光面的中心偏離對應鏡頭的光軸，用于獲取顯示面板的側視圖像；利用所述多個目標圖像對所述顯示面板進行缺陷檢測，獲得缺陷信息。本發明涉及的一種顯示面板缺陷檢測方法，不需要將成像通道傾斜放置，也不會導致一側清晰一側模糊的問題，且一次取圖可以獲得多個目標圖像，通過一次獲得的多個目標圖像可以完成對顯示面板的缺陷檢測，因此，大大縮短了測量時間。

技術領域

本發明涉及亮、色度測量與成像檢測領域，特別涉及一種顯示面板缺陷檢測方法。

背景技術

隨著技術的發展，顯示面板或發光體的特性評估對產品的特性越來越重要。常見的發光體及其顯示器產品，包括LED(light-emitting diode，發光二極管)，microLED，miniLED，LD(Laser diode，鐳射二極管)等不同類型；其組成的產品包括消費電子產品(如手機屏幕，電視顯示器等)。

相關技術中，對于這些顯示類產品，通常需要進行光學的缺陷檢測，而在缺陷檢測中，通常需要至少2個相機對顯示面板的同一區域進行拍攝，獲得側視圖像或者亮度色度圖像等，通過對獲取的圖像進行圖像分析，從而進行缺陷檢測或者修復。此時，或者對相機進行傾斜放置，或者多個相機放在樣品上方，均垂直向下拍攝。如果相機傾斜對同一個樣品成像，會導致產品的景深不夠，會導致一側清晰一側模糊的問題。如果相機不傾斜放置，即兩個相機擺放在樣品上方，均垂直向下拍攝，這樣可以保證都進行成像，但是這樣的問題是，兩個相機的overlap面積小。樣品在每個相機中的視野比較小，成像面利用率低。

因此，有必要設計一種新的顯示面板缺陷檢測方法，以克服上述問題。

發明內容

本發明實施例提供一種顯示面板缺陷檢測方法，以解決相關技術中相機傾斜放置導致一側清晰一側模糊，相機不傾斜放置成像面利用率低的問題。

第一方面，提供了一種顯示面板缺陷檢測方法，其包括以下步驟：至少兩個成像通道同時對點亮的顯示面板進行成像，獲得多個目標圖像，每個成像通道至少包括一個鏡頭和一個圖像傳感器，多個鏡頭的光軸平行設置且垂直于所述顯示面板；其中，至少一個成像通道的圖像傳感器的感光面的中心偏離對應鏡頭的光軸，用于獲取顯示面板的側視圖像；利用所述多個目標圖像對所述顯示面板進行缺陷檢測，獲得缺陷信息。

一些實施例中，所述至少兩個成像通道的圖像傳感器的感光面的中心均偏離對應鏡頭的光軸，且所述至少兩個成像通道的圖像傳感器的感光面對應的物面區相同，所述顯示面板位于所述物面區內；所述至少兩個成像通道用于分別獲得所述顯示面板的第一側視圖像和第二側視圖像；利用所述第一側視圖像和第二側視圖像對所述顯示面板進行mura檢測，獲得缺陷信息。

一些實施例中，所述成像通道至少為四個，其中至少三個成像通道為面陣測量通道，形成至少三個第一光學測量部件用于獲取多個第三目標圖像，至少一個成像通道為點式成像通道，形成至少一個第二光學測量部件用于獲取至少一個第四目標圖像，所述第四目標圖像為所述顯示面板上的一個目標點的圖像；所述至少三個第一光學測量部件之間形成間隙；所述至少一個第二光學測量部件位于所述間隙，且所述第二光學測量部件的尺寸小于所述第一光學測量部件的尺寸；根據所述第三目標圖像及所述第四目標圖像對所述顯示面板進行缺陷檢測。

一些實施例中，所述至少三個第一光學測量部件對應的成像通道還包括濾光元件，所述濾光元件分別允許不同波長范圍的光通過，所述第二光學測量部件為亮度與色度測量部件，用于獲取所述顯示面板中心位置的測量值；利用所述亮度與色度測量部件的測量結果對所述至少三個第一光學測量部件的測量結果進行標定，獲得校正后的面陣亮度測量值與面陣色度測量值；利用所述校正后的面陣亮度測量值與面陣色度測量值對所述顯示面板進行缺陷檢測或者根據缺陷檢測的結果進行亮度和/或色度補償。