[發(fā)明專利]一種顯示面板缺陷檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210088831.3 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114453280A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 寧謙;鐘凡;洪志坤;鄭增強(qiáng);歐昌東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢精立電子技術(shù)有限公司;武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | B07C5/342 | 分類號(hào): | B07C5/342 |
| 代理公司: | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 牛晶晶 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 顯示 面板 缺陷 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,其包括以下步驟:
至少兩個(gè)成像通道同時(shí)對(duì)點(diǎn)亮的顯示面板(6)進(jìn)行成像,獲得多個(gè)目標(biāo)圖像,每個(gè)成像通道至少包括一個(gè)鏡頭(1)和一個(gè)圖像傳感器(2),多個(gè)鏡頭(1)的光軸(11)平行設(shè)置且垂直于所述顯示面板(6);其中,
至少一個(gè)成像通道的圖像傳感器(2)的感光面的中心偏離對(duì)應(yīng)鏡頭(1)的光軸(11),用于獲取顯示面板(6)的側(cè)視圖像;
利用所述多個(gè)目標(biāo)圖像對(duì)所述顯示面板(6)進(jìn)行缺陷檢測(cè),獲得缺陷信息。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
所述至少兩個(gè)成像通道的圖像傳感器(2)的感光面的中心均偏離對(duì)應(yīng)鏡頭(1)的光軸(11),且所述至少兩個(gè)成像通道的圖像傳感器(2)的感光面對(duì)應(yīng)的物面區(qū)相同,所述顯示面板(6)位于所述物面區(qū)內(nèi);
所述至少兩個(gè)成像通道用于分別獲得所述顯示面板(6)的第一側(cè)視圖像和第二側(cè)視圖像;
利用所述第一側(cè)視圖像和第二側(cè)視圖像對(duì)所述顯示面板(6)進(jìn)行mura檢測(cè),獲得缺陷信息。
3.如權(quán)利要求1所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
所述成像通道至少為四個(gè),其中至少三個(gè)成像通道為面陣測(cè)量通道,形成至少三個(gè)第一光學(xué)測(cè)量部件(3)用于獲取多個(gè)第三目標(biāo)圖像,至少一個(gè)成像通道為點(diǎn)式成像通道,形成至少一個(gè)第二光學(xué)測(cè)量部件(4)用于獲取至少一個(gè)第四目標(biāo)圖像,所述第四目標(biāo)圖像為所述顯示面板(6)上的一個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的圖像;
所述至少三個(gè)第一光學(xué)測(cè)量部件(3)之間形成間隙(5);
所述至少一個(gè)第二光學(xué)測(cè)量部件(4)位于所述間隙(5),且所述第二光學(xué)測(cè)量部件(4)的尺寸小于所述第一光學(xué)測(cè)量部件(3)的尺寸;
根據(jù)所述第三目標(biāo)圖像及所述第四目標(biāo)圖像對(duì)所述顯示面板(6)進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
4.如權(quán)利要求3所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
所述至少三個(gè)第一光學(xué)測(cè)量部件(3)對(duì)應(yīng)的成像通道還包括濾光元件,所述濾光元件分別允許不同波長(zhǎng)范圍的光通過(guò),所述第二光學(xué)測(cè)量部件(4)為亮度與色度測(cè)量部件,用于獲取所述顯示面板(6)中心位置的測(cè)量值;
利用所述亮度與色度測(cè)量部件的測(cè)量結(jié)果對(duì)所述至少三個(gè)第一光學(xué)測(cè)量部件(3)的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行標(biāo)定,獲得校正后的面陣亮度測(cè)量值與面陣色度測(cè)量值;
利用所述校正后的面陣亮度測(cè)量值與面陣色度測(cè)量值對(duì)所述顯示面板(6)進(jìn)行缺陷檢測(cè)或者根據(jù)缺陷檢測(cè)的結(jié)果進(jìn)行亮度和/或色度補(bǔ)償。
5.如權(quán)利要求3所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
所述至少一個(gè)第二光學(xué)測(cè)量部件(4)至少包括亮度與色度測(cè)量部件和/或flicker測(cè)量部件。
6.如權(quán)利要求3所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
至少三個(gè)面陣測(cè)量通道的圖像傳感器(2)的感光面的中心均偏離對(duì)應(yīng)鏡頭(1)的光軸(11),且所述至少三個(gè)面陣測(cè)量通道的圖像傳感器(2)的感光面對(duì)應(yīng)的物面區(qū)相同,用于對(duì)所述顯示面板(6)的同一區(qū)域進(jìn)行成像。
7.如權(quán)利要求3所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
所述間隙(5)包括所有所述第一光學(xué)測(cè)量部件(3)互相靠近的一側(cè)共同圍成的中間間隙(51),以及任意相鄰兩個(gè)所述第一光學(xué)測(cè)量部件(3)之間的邊緣間隙(52);
至少兩個(gè)所述第二光學(xué)測(cè)量部件(4)位于所述中間間隙(51)。
8.如權(quán)利要求1所述的顯示面板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,
至少一個(gè)所述成像通道的圖像傳感器(2)的中心和鏡頭(1)的光軸(11)均位于所述顯示面板(6)的中心,用于獲取所述顯示面板(6)的正視圖像。
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