[發(fā)明專利]薄膜電路外觀檢測設(shè)備和薄膜電路外觀檢測結(jié)構(gòu)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210085319.3
• 申請日: 2022-01-25
• 公開（公告）號: CN114441532B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 覃楊;鄒巍
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州諾頂智能科技有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/01
• 代理公司: 廣州駿思知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44425
• 代理人: 潘桂生

1.一種薄膜電路外觀檢測裝置，其特征在于：

包括底座、面板、負壓裝置、光源和外觀檢測機構(gòu)；

所述底座設(shè)置有第一安裝槽；所述底座包括安裝臺，所述安裝臺凸出設(shè)置于所述第一安裝槽；

所述面板設(shè)置于所述底座上方，并與所述第一安裝槽圍合形成一密閉腔體；

所述面板包括透光面板以及環(huán)狀設(shè)置于所述透光面板邊緣外的真空面板；

所述透光面板固定于所述安裝臺；所述透光面板呈圓形，所述真空面板的中心處開設(shè)有安裝通孔，所述透光面板與所述安裝通孔呈同心設(shè)置；所述透光面板的端面的面積小于所述安裝通孔的面積；

所述真空面板貫穿開設(shè)有若干吸附孔，若干所述吸附孔沿所述真空面板周向排布，且每一所述吸附孔均與所述密閉腔體相連通；所述透光面板的端面的水平高度低于所述真空面板的端面所處的水平高度；所述透光面板的端面的水平高度比所述真空面板的端面所處的水平高度低0.1mm；

所述負壓裝置與所述密閉腔體相連通；所述光源以及所述外觀檢測機構(gòu)分別設(shè)置于所述透光面板的兩側(cè)；

薄膜電路置于所述面板遠離所述底座的一面，并蓋設(shè)于所述吸附孔的上方。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜電路外觀檢測裝置，其特征在于：

若干所述吸附孔沿所述真空面板周向均勻排列。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的薄膜電路外觀檢測裝置，其特征在于：

每一所述吸附孔包括若干通孔，每一所述吸附孔的若干通孔沿所述真空面板的直徑方向均勻設(shè)置。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的薄膜電路外觀檢測裝置，其特征在于：

還包括第一密封圈，所述第一密封圈過盈限位于所述第一安裝槽與所述真空面板之間。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的薄膜電路外觀檢測裝置，其特征在于：

所述負壓裝置包括負壓管和負壓發(fā)生部，所述負壓管的一端與所述負壓發(fā)生部連通，另一端與所述第一安裝槽連通。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的薄膜電路外觀檢測裝置，其特征在于：

所述負壓裝置還包括充氣管和充氣部，所述充氣管的一端與所述充氣部連通，另一端與所述第一安裝槽連通。

7.一種薄膜電路外觀檢測結(jié)構(gòu)，其特征在于：

包括薄膜電路和權(quán)利要求1-6任一項所述的薄膜電路外觀檢測裝置；

所述薄膜電路置于所述薄膜電路外觀檢測裝置的透光面板遠離所述安裝臺的一面，所述薄膜電路蓋設(shè)于所述吸附孔的上方。