[發(fā)明專利]圖像污點(diǎn)濃度的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210083594.1 | 申請日: | 2022-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN114119609B | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林廣澤;劉國清;楊廣;王啟程 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳佑駕創(chuàng)新科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T5/00;G06T5/20 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郭浩輝 |
| 地址: | 518051 廣東省深圳市福田區(qū)梅林街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 污點(diǎn) 濃度 檢測 方法 裝置 設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
本申請公開了一種圖像污點(diǎn)濃度的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),通過對目標(biāo)污點(diǎn)圖像進(jìn)行圖像分區(qū),得到目標(biāo)檢測圖像,目標(biāo)檢測圖像包括多個圖像區(qū)域,以有效規(guī)避圖像畫面不均勻和暗角嚴(yán)重對檢測結(jié)果的不利影響,降低對產(chǎn)品圖像的成像要求;以及確定目標(biāo)檢測圖像的污點(diǎn)包圍框,若污點(diǎn)包圍框處于目標(biāo)檢測圖像的多個第一目標(biāo)圖像區(qū)域,則計(jì)算污點(diǎn)包圍框在每個第一目標(biāo)圖像區(qū)域內(nèi)的污點(diǎn)平均亮度;最后根據(jù)污點(diǎn)平均亮度與第一目標(biāo)圖像區(qū)域的區(qū)域平均亮度,確定污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)濃度,以能夠針對任何產(chǎn)品圖像進(jìn)行污點(diǎn)濃度檢測,而無需調(diào)整檢測算法和大量產(chǎn)品進(jìn)行驗(yàn)證,提高污點(diǎn)濃度檢測的通用性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種圖像污點(diǎn)濃度的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
在攝像設(shè)備等產(chǎn)品進(jìn)行驗(yàn)收時,需要對產(chǎn)品圖像進(jìn)行污點(diǎn)檢測,以保證產(chǎn)品合格率。傳統(tǒng)方式是通過人眼主觀判斷圖像污點(diǎn)是否合格,但人工判斷存在誤判和人員一致性差異的問題。
目前,通過計(jì)算圖像污點(diǎn)濃度,以采用污點(diǎn)濃度進(jìn)行閾值判斷。但是,對于不同產(chǎn)品的污點(diǎn)濃度檢測時,需要重新調(diào)整檢測算法,并通過大量產(chǎn)品驗(yàn)證算法準(zhǔn)確性,其通用性差;并且現(xiàn)有污點(diǎn)濃度檢測方式對圖像的成像要求高,不利于大規(guī)模產(chǎn)品圖像的污點(diǎn)濃度檢測。
發(fā)明內(nèi)容
本申請?zhí)峁┝艘环N圖像污點(diǎn)濃度的檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),以解決圖像污點(diǎn)濃度檢測方式存在通用性差的技術(shù)問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本申請實(shí)施例提供了一種圖像污點(diǎn)濃度的檢測方法,包括:
對目標(biāo)污點(diǎn)圖像進(jìn)行圖像分區(qū),得到目標(biāo)檢測圖像,目標(biāo)檢測圖像包括多個圖像區(qū)域;
確定目標(biāo)檢測圖像的污點(diǎn)包圍框;
若污點(diǎn)包圍框處于目標(biāo)檢測圖像的多個第一目標(biāo)圖像區(qū)域,則計(jì)算污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)平均亮度;
根據(jù)污點(diǎn)平均亮度與第一目標(biāo)圖像區(qū)域的區(qū)域平均亮度,確定污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)濃度。
本實(shí)施例通過對目標(biāo)污點(diǎn)圖像進(jìn)行圖像分區(qū),得到目標(biāo)檢測圖像,目標(biāo)檢測圖像包括多個圖像區(qū)域,以有效規(guī)避圖像畫面不均勻和暗角嚴(yán)重對檢測結(jié)果的不利影響,降低對產(chǎn)品圖像的成像要求;以及確定目標(biāo)檢測圖像的污點(diǎn)包圍框,若污點(diǎn)包圍框處于目標(biāo)檢測圖像的多個第一目標(biāo)圖像區(qū)域,則計(jì)算污點(diǎn)包圍框在每個第一目標(biāo)圖像區(qū)域內(nèi)的污點(diǎn)平均亮度,從而能夠進(jìn)行污點(diǎn)跨區(qū)識別,以能夠?qū)崿F(xiàn)后續(xù)對污點(diǎn)濃度進(jìn)行跨區(qū)計(jì)算;最后根據(jù)污點(diǎn)平均亮度與第一目標(biāo)圖像區(qū)域的區(qū)域平均亮度,確定污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)濃度,以能夠針對任何產(chǎn)品圖像進(jìn)行污點(diǎn)濃度檢測,而無需調(diào)整檢測算法和大量產(chǎn)品進(jìn)行驗(yàn)證,提高污點(diǎn)濃度檢測的通用性。
在一實(shí)施例中,若污點(diǎn)包圍框處于目標(biāo)檢測圖像的多個第一目標(biāo)圖像區(qū)域,則計(jì)算污點(diǎn)包圍框在每個第一目標(biāo)圖像區(qū)域內(nèi)的污點(diǎn)平均亮度之前,還包括:
確定污點(diǎn)包圍框的位置坐標(biāo)是否在多個圖像區(qū)域的坐標(biāo)范圍內(nèi);
若污點(diǎn)包圍框的位置坐標(biāo)同時在多個圖像區(qū)域的坐標(biāo)范圍內(nèi),則判定污點(diǎn)包圍框處于目標(biāo)檢測圖像的多個第一目標(biāo)圖像區(qū)域。
在一實(shí)施例中,確定污點(diǎn)包圍框的位置坐標(biāo)是否在多個圖像區(qū)域的坐標(biāo)范圍內(nèi)之后,還包括:
若污點(diǎn)包圍框的位置坐標(biāo)未同時在多個圖像區(qū)域的坐標(biāo)范圍內(nèi),則確定污點(diǎn)包圍框所在的第二目標(biāo)圖像區(qū)域;
根據(jù)污點(diǎn)平均亮度與第二目標(biāo)圖像區(qū)域的區(qū)域平均亮度,確定污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)濃度。
在一實(shí)施例中,根據(jù)污點(diǎn)平均亮度與第一目標(biāo)圖像區(qū)域的區(qū)域平均亮度,確定污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)濃度,包括:
對于每個第一目標(biāo)圖像區(qū)域,確定污點(diǎn)包圍框的污點(diǎn)平均亮度與第一目標(biāo)圖像區(qū)域的區(qū)域平均亮度之間的亮度差值,得到多個第一目標(biāo)圖像區(qū)域?qū)?yīng)的亮度差值;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳佑駕創(chuàng)新科技有限公司,未經(jīng)深圳佑駕創(chuàng)新科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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