[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210083536.9 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114628328A | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇煥杰;諶俊元;游力蓁;黃麟淯;張羅衡;莊正吉;王志豪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/8234 | 分類號(hào): | H01L21/8234;H01L27/088 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李偉 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 形成 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
第一納米結(jié)構(gòu);
第一柵極結(jié)構(gòu),包裹所述第一納米結(jié)構(gòu)中的每個(gè)并且設(shè)置在隔離結(jié)構(gòu)上方;以及
背側(cè)柵極接觸件,設(shè)置在所述第一納米結(jié)構(gòu)下方并且與所述隔離結(jié)構(gòu)相鄰,
其中,所述第一柵極結(jié)構(gòu)的底面與所述背側(cè)柵極接觸件直接接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包括:
第二納米結(jié)構(gòu);
第二柵極結(jié)構(gòu),包裹所述第二納米結(jié)構(gòu)中的每個(gè)并且設(shè)置在所述隔離結(jié)構(gòu)上方;以及
前側(cè)柵極接觸件,設(shè)置在所述第二納米結(jié)構(gòu)上方并且遠(yuǎn)離所述隔離結(jié)構(gòu),
其中,所述第二柵極結(jié)構(gòu)電耦接至所述前側(cè)柵極接觸件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中,所述前側(cè)柵極接觸件通過柵極覆蓋層電耦接至所述第二柵極結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包括:
第一源極/漏極部件,耦接至所述第二納米結(jié)構(gòu)的端面;以及
背側(cè)源極/漏極接觸件,設(shè)置在所述第二納米結(jié)構(gòu)下方并且與所述隔離結(jié)構(gòu)相鄰,
其中,所述背側(cè)源極/漏極接觸件電耦接至所述第一源極/漏極部件。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包括:
第二源極/漏極部件,耦接至所述第一納米結(jié)構(gòu)和所述第二納米結(jié)構(gòu)并且夾在所述第一納米結(jié)構(gòu)和所述第二納米結(jié)構(gòu)之間;以及
介電插塞,設(shè)置在所述第二源極/漏極部件下方,
其中,所述介電插塞與所述隔離結(jié)構(gòu)和所述背側(cè)柵極接觸件相鄰。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包括:
襯墊,從所述背側(cè)柵極接觸件和所述隔離結(jié)構(gòu)之間延伸至所述背側(cè)柵極接觸件和所述介電插塞之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),
其中,所述介電插塞和所述隔離結(jié)構(gòu)包括氧化硅,
其中,所述襯墊包括氮化硅。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中,所述第二納米結(jié)構(gòu)設(shè)置在背側(cè)介電層上方。
9.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
第一多個(gè)納米結(jié)構(gòu);
第一柵極結(jié)構(gòu),包裹所述第一多個(gè)納米結(jié)構(gòu)中的每個(gè);
第一覆蓋層,設(shè)置在所述第一柵極結(jié)構(gòu)的頂面上;
背側(cè)柵極接觸件,與所述第一柵極結(jié)構(gòu)的底面直接接觸,所述底面與所述頂面相對(duì);
第二多個(gè)納米結(jié)構(gòu);
第二柵極結(jié)構(gòu),包裹所述第二多個(gè)納米結(jié)構(gòu)中的每個(gè);
第二覆蓋層,設(shè)置在所述第二柵極結(jié)構(gòu)上;以及
前側(cè)柵極接觸件,與所述第二覆蓋層直接接觸。
10.一種形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,包括:
接收工件,所述工件包括:
第一納米結(jié)構(gòu),設(shè)置在第一臺(tái)面結(jié)構(gòu)上方,
第二納米結(jié)構(gòu),設(shè)置在第二臺(tái)面結(jié)構(gòu)上方,
第一柵極結(jié)構(gòu),包裹所述第一納米結(jié)構(gòu),
第二柵極結(jié)構(gòu),包裹所述第二納米結(jié)構(gòu),
第一源/漏極部件,夾在所述第一納米結(jié)構(gòu)和所述第二納米結(jié)構(gòu)之間,
第二源極/漏極部件,通過所述第二納米結(jié)構(gòu)與所述第一源極/漏極部件間隔開,
第一偽外延插塞,位于所述第一源極/漏極部件下方并且位于所述第一臺(tái)面結(jié)構(gòu)和所述第二臺(tái)面結(jié)構(gòu)之間,和
第二偽外延插塞,位于所述第二源極/漏極部件下方并且與所述第二臺(tái)面結(jié)構(gòu)相鄰;
用背側(cè)源極/漏極接觸件替換所述第二偽外延插塞;
用背側(cè)介電部件替換所述第一臺(tái)面結(jié)構(gòu);
用介電插塞替換所述第一偽外延插塞;以及
用與所述第一柵極結(jié)構(gòu)直接接觸的背側(cè)柵極接觸件替換所述背側(cè)介電部件。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
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