[發(fā)明專利]一種半導體瞬態(tài)熱測試結(jié)果分析方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210076397.7 | 申請日: | 2022-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN114091292A | 公開(公告)日: | 2022-02-25 |
| 發(fā)明(設計)人: | 羅亞非 | 申請(專利權(quán))人: | 魯歐智造(山東)高端裝備科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G06F119/08 |
| 代理公司: | 山東華君知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37300 | 代理人: | 程靜靜 |
| 地址: | 261000 山東省濰坊*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導體 瞬態(tài) 測試 結(jié)果 分析 方法 | ||
本申請公開了一種半導體瞬態(tài)熱測試結(jié)果分析方法,所述分析方法是采用等溫面對熱阻熱容模型進行定義,并將熱阻值和熱容值的熱測試結(jié)果與熱仿真結(jié)果進行一致性對比,最終獲得精準的熱阻熱容仿真模型參數(shù),實現(xiàn)高精度的熱數(shù)字雙胞胎。具有以下優(yōu)點:解決了如何將該數(shù)學模型中的各級網(wǎng)格的“節(jié)點”與實際三維結(jié)構(gòu)進行對應,從而有效進行熱結(jié)構(gòu)分析的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是一種半導體瞬態(tài)熱測試結(jié)果分析方法,屬于測試數(shù)據(jù)分析技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
瞬態(tài)熱測試是目前半導體行業(yè)中最精密熱測試方法。相對于穩(wěn)態(tài)熱測試,瞬態(tài)熱測試采集熱源溫度隨時間變化的數(shù)據(jù),具有更高的精度與更大的數(shù)據(jù)量。而且因為具有時間信息,從瞬態(tài)熱測試結(jié)果中除了可以進行熱阻分析,還可以進行熱容分析。
采集到溫度隨時間變化的瞬態(tài)熱測試數(shù)據(jù)(圖1)后,可以通過一系列的數(shù)學計算獲得由熱阻熱容(RthCth)構(gòu)成的多級熱網(wǎng)格模型(圖2)。
以上關(guān)于瞬態(tài)熱測試的方法,以及由瞬態(tài)熱測試結(jié)果(熱源溫度隨時間變化的曲線)計算獲得RthCth模型的數(shù)學方法已經(jīng)在JEDEC JESD 51-14標準中公開,目前在行業(yè)內(nèi)被廣泛使用。
這種使用RthCth階梯網(wǎng)格模型進行熱分析的方法,相對與直接使用溫度vs時間的測試結(jié)果來說,可以一定程度的方便對樣品的熱特性進行分析(比如可以直接看到熱阻熱容值),但是該模型是一維的純數(shù)學模型,無法與實際樣品的三維幾何結(jié)構(gòu)建立準確聯(lián)系,這就給實際樣品分析帶來了很大的阻礙。
以實際IGBT產(chǎn)品為例,通過瞬態(tài)熱測試獲得的溫度隨時間變化數(shù)據(jù)如圖3(瞬態(tài)熱測試數(shù)據(jù))所示。
不論是瞬態(tài)熱測試數(shù)據(jù),還是按照JESD 51-14的數(shù)學計算后得到的一維RthCth數(shù)學模型,都無法直接關(guān)聯(lián)應到產(chǎn)品的實際結(jié)構(gòu)上,這是無法進行的熱結(jié)構(gòu)分析的。
另外一個現(xiàn)有熱分析方法的重大問題在于,人們習慣性的按照產(chǎn)品各部分組成材料的物理邊界來定義熱阻,比如上述例子中的IGBT封裝產(chǎn)品,大多數(shù)情況被分解為Die(芯片層)、Die-Attach(芯片晶合層)、Copper(銅層)、Insulation(絕緣層)、Copper Frame(銅底板層)這樣的材料疊加方式建立一維熱阻模型,如圖4所示。
采用這種按照材料物理邊界的方式定義的RthCth模型在進行分析的時候,會存在嚴重問題。這是因為RthCth數(shù)學模型上的任何結(jié)點都具有唯一的溫度值,但是對應的材料物理邊界的溫度一般都不是均衡的,例如銅底板表面的溫度是非常不均勻的,中心處溫度和邊角溫度差異會非常的大。而數(shù)學模型種只有一個點的溫度值,強制使用這種熱阻定義的話,就意味著把銅底板表面當作溫度各處一致的面,這與實際情況有很大的出入,最終導致熱分析的精度大大降低。
熱分析問題的根源在于按照材料物理邊界定義熱阻熱容模型的時候,RthCth數(shù)學模型中的結(jié)點只有一個溫度值,而實際材料的外形邊界(材料表面)上的溫度并不一致,會存在一個分布,如圖5所示。這樣用材料外形邊界定義熱阻熱容的時候,將無法與RthCth數(shù)學模型進行對應。
如圖5中的等溫面是空間上所有溫度相同的點組成的面。根據(jù)流體理論,等溫面是由溫度相等的所有點構(gòu)成的閉合曲面,以產(chǎn)生熱量的熱源為中心逐個向往“膨脹”,類似洋蔥結(jié)構(gòu),很明顯,等溫面的形狀與材料的物理形狀是完全不同的。
在熱傳導過程中遵守能量守恒法則,也就是說熱源產(chǎn)生的總熱量(W)等于通過任意一個等溫面的總熱量(W)。另外一種等效說法是通過任意兩個等溫面上總熱量(W)是相等的,等于熱源產(chǎn)生的總熱量。
發(fā)明內(nèi)容
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