[發明專利]測距方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202210065261.6 | 申請日: | 2022-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN114624719A | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發明(設計)人: | 陳永澤;霍紫健;楊軍杰 | 申請(專利權)人: | 深圳市恒天偉焱科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01S17/08 | 分類號: | G01S17/08;G01S7/48 |
| 代理公司: | 深圳驛航知識產權代理事務所(普通合伙) 44605 | 代理人: | 楊倫 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測距 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種測距方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取掃描模式下發射出的測距信號和接收到的回波信號;
根據所述測距信號和所述回波信號,計算所述掃描模式下的測距結果,所述測距結果包括各個時刻的測距值;
在所述測距結果出現相鄰兩個時刻的測距值變化大于預設值時,則發出預設的提示,并將測距值變化前的測距值與測距值變化后的測距值中至少一項進行顯示。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取掃描模式下發射出的測距信號和接收到的回波信號的步驟包括:
接收到掃描模式啟動指令后,開啟所述掃描模式;
在所述掃描模式下發射出連續的測距信號,并接收連續的回波信號。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據所述測距信號和所述回波信號,計算所述掃描模式下的測距結果的步驟包括:
根據所述測距信號和所述回波信號,結合預先存儲的目標光路圖結構,計算所述掃描模式下的測距結果。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述目標光路圖結構包括第一光路圖結構和第二光路圖結構,所述第一光路圖結構與所述第二光路圖結構通過環境變量形成的權重邊進行連接,所述根據所述測距信號和所述回波信號,結合預先存儲的目標光路圖結構,計算所述掃描模式下的測距結果的步驟包括:
根據測距信號的發射光路結構,生成第一光路圖結構,以及根據回波信號的接收光路結構,生成第二光路圖結構;
獲取環境變量,并根據所述環境變量生成權重邊;
通過所述權重邊將所述第一光路圖結構的終點與所述第二光路圖結構的起點進行連接,得到目標光路圖結構;
將所述測距信號、所述回波信號以及所述目標光路圖結構輸入預設的計算模型中進行測距計算,得到所述掃描模式下的測距結果。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,根據測距信號的發射光路結構,生成第一光路圖結構的步驟包括:
以所述發射光路結構中的第一透鏡為第一節點,第一透鏡的光學參數和第一透鏡間的距離為第一關系邊,生成第一光路圖結構,所述第一光路圖結構中各個第一節點之間通過第一關系邊進行連接,所述第一光路圖結構中第一塊第一透鏡作為所述第一光路圖結構的起點,所述第一光路圖結構中最后一塊第一透鏡作為所述第一光路圖結構的終點。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,根據回波信號的接收光路結構,生成第二光路圖結構的步驟包括:
以所述接收光路結構中的第二透鏡為第二節點,第二透鏡的光學參數和第二透鏡間的距離為第二關系邊,生成第二光路圖結構,所述第二光路圖結構中各個第二節點之間通過第二關系邊進行連接,所述第二光路圖結構中第一塊第二透鏡作為所述第二光路圖結構的起點,所述第二光路圖結構中最后一塊第二透鏡作為所述第二光路圖結構的終點。
7.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述獲取環境變量,并根據所述環境變量生成權重邊的步驟包括:
根據所述任意兩個時刻的測距信號、回波信號以及測距值差值,計算得到所述環境變量;
根據所述環境變量生成權重邊。
8.一種測距裝置,其特征在于,所述裝置包括:
獲取模塊,用于獲取掃描模式下發射出的測距信號和接收到的回波信號;
計算模塊,用于根據所述測距信號和所述回波信號,計算所述掃描模式下的測距結果,所述測距結果包括各個時刻的測距值;
顯示模塊,用于在所述測距結果出現相鄰兩個時刻的測距值變化大于預設值時,則發出預設的提示,并將測距值變化前的測距值與測距值變化后的測距值中至少一項進行顯示。
9.一種電子設備,其特征在于,包括:存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序,所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至7中任一項所述的測距方法中的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7中任一項所述的測距方法中的步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市恒天偉焱科技股份有限公司,未經深圳市恒天偉焱科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210065261.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





