[發明專利]顯示面板及其修復方法、顯示裝置有效
| 申請號: | 202210031444.6 | 申請日: | 2022-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN114420882B | 公開(公告)日: | 2023-09-05 |
| 發明(設計)人: | 王若男 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | H10K50/805 | 分類號: | H10K50/805;H10K59/121;H10K71/00 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 黃舒悅 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 及其 修復 方法 顯示裝置 | ||
本申請公開了一種顯示面板及其修復方法、顯示裝置。所述顯示面板包括多個子像素,每一子像素包括襯底和設置在襯底上的有源層、源極、漏極、陽極、陰極、第一修復電極以及第二修復電極;有源層、源極和漏極、陽極以及陰極依次設置在襯底上,陽極與源極連接;第一修復電極設置在有源層和陽極之間,第一修復電極位于源極遠離漏極的一側,并與源極連接;第二修復電極設置在第一修復電極與陰極之間,并與陰極連接,第二修復電極于襯底所在平面的正投影與第一修復電極于襯底所在平面的正投影至少部分重疊,第二修復電極與第一修復電極絕緣。本申請提高了顯示面板的顯示品質。
技術領域
本申請涉及顯示技術領域,具體涉及一種顯示面板及其修復方法、顯示裝置。
背景技術
在有機發光二極管(Organic?Light-Emitting?Diode,OLED)顯示面板的生產過程中,受生產工藝或外部環境的影響,薄膜晶體管中會存在一些金屬碎屑或異物等殘留物,使得受該薄膜晶體管驅動的子像素成為亮點子像素,亮點子像素的存在會大大降低顯示面板的品質。
發明內容
本申請實施例提供一種顯示面板及其修復方法、顯示裝置,能夠在出現亮點子像素的情況下,對亮點子像素進行修復,以提高顯示面板的品質。
本申請實施例提供一種顯示面板,所述顯示面板包括多個子像素,每一所述子像素包括:
襯底;
有源層,設置在所述襯底的一側;
源極和漏極,設置在所述有源層遠離所述襯底的一側;
陽極,設置在所述源極遠離所述有源層的一側,所述陽極與所述源極連接;
第一修復電極,設置在所述有源層和所述陽極之間,所述第一修復電極位于所述源極遠離所述漏極的一側,并與所述源極連接;
陰極,設置在所述陽極遠離所述源極的一側;以及
第二修復電極,設置在所述第一修復電極與所述陰極之間,并與所述陰極連接,所述第二修復電極于所述襯底所在平面的正投影與所述第一修復電極于所述襯底所在平面的正投影至少部分重疊,所述第二修復電極與所述第一修復電極絕緣。
可選的,在本申請的一些實施例中,所述第一修復電極與所述源極同層設置,并自所述源極的一端向遠離所述漏極的方向延伸。
可選的,在本申請的一些實施例中,所述第二修復電極與所述陽極同層設置;
所述子像素還包括像素定義層,所述像素定義層位于所述陽極和所述陰極之間,所述像素定義層中開設有連接孔,所述陰極通過所述連接孔與所述第二修復電極連接。
可選的,在本申請的一些實施例中,所述子像素還包括設置在所述源極和所述陽極之間的平坦化層,所述平坦化層中開設有第一過孔,所述陽極通過所述第一過孔與所述源極連接;
所述連接孔裸露出所述第二修復電極,所述陰極延伸至所述連接孔內,并與所述第二修復電極相連。
可選的,在本申請的一些實施例中,所述子像素還包括依次設置在所述源極與所述陽極之間的鈍化層、保護電極以及平坦化層;
所述鈍化層中開設有接觸孔,所述保護電極通過所述接觸孔與所述源極連接;所述平坦化層中開設有第一過孔和第二過孔,所述第一過孔連通于所述接觸孔,所述陽極通過所述第一過孔與所述保護電極連接,所述第二過孔連通于所述連接孔,所述第二修復電極延伸至所述第二過孔內,所述陰極自所述連接孔延伸至所述第二過孔內,并與所述第二修復電極相連。
可選的,在本申請的一些實施例中,所述子像素還包括輔助修復電極,所述輔助修復電極與所述保護電極同層設置,所述第二過孔裸露出所述輔助修復電極,所述第二修復電極延伸至所述第二過孔內,并與所述輔助修復電極連接。
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